透明体の位相差、複屈折、内部歪みを簡単・高速に測定！多彩な解析が可能
当社では、光学材料の品質向上と機能向上に貢献する、 2次元複屈折評価システム『PA/WPAシリーズ』を取り扱っていおります。 「WPAシリーズ」は、大きな位相差の面分布測定を可能にします。 「PAシリーズ」は、低歪みの測定対象を高精細に測定することが可能。 また、可視光で不透過で近赤外光に透過特性を有する特殊窓ガラスや 樹脂カバーなどの、品質管理、プロセス開発に向いている「NIRシリーズ」 もございます。 【ラインアップ(抜粋)】 ■WPA-300 ■WPA-micro ■PA-300 ■PA-300-XL ■PA-300-NIR/WPA-200-NIR ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【オプション(抜粋)】 ■様々なオプションレンズ ■データ処理機能 ■3水準位相差板/顕微鏡用位相差板 ■広視野補正機能(フィルム用/ウェハ用) ■光弾性係数計測オプション ■PA・WPA-L用遮光カバー(標準タイプ、Lタイプ) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【測定事例】 ■レンズ ■ガラス ■樹脂成形品 ■フィルム ■ウェハ ■有機高分子 ■セルロースナノファイバー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
穂高電子は1967年に神奈川県横浜市で設立された電子計測器販売商社です。 電流・電圧測定器、周波数測定器、騒音・振動測定器、環境試験機、赤外線サーモグラフィ等を取り扱い、電機製品製造メーカ様や自動車メーカ様、大学、官公庁等幅広いお客様の課題解決に取り組んでまいりました。 さらに、お客さまのあらゆるニーズに対応し、製品のカスタマイズなども行っております。 現在、本社横浜をはじめ、東京・厚木・名古屋・三重・浜松・関西・京都・岡山の国内9拠点を軸に、地域密着型のお取引・ご提案をさせていただいております。
