XRD分析の入門、レーザー回折・散乱法、動的光散乱法の原理を詳しく説明！
材料の分析を行うには様々な手法があります。 その中でよく利用されている、X線回折法やレーザー回折・散乱法、動的光散乱法の原理や分析方法についてまとめた資料を ご用意いたしました。材料分析を行う方必見！ ダウンロードいただける資料 ●XRD分析入門 動作原理の解説 ●粒子径測定の基礎とレーザー回折・散乱法 ●粒子径・ゼータ電位・分子量測定の基礎（DLS）
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粒子測定の基礎 レーザー回折・散乱法 目次 粒子径分布の基礎 レーザー回折・散乱法 ハードウェアの構成 レーザー回折式粒子径分布測定装置 買い替え時のデータ移行について 粒子径・ゼータ電位・分子量測定の基礎 目次 動的光散乱法とは？ 分散性～微粒化の分散性と分散安定性 ゼータ電位 分子量測定・静的光散乱法 XRD分析入門ー動作原理の解説 目次 XRDとは？ XRDの基礎 X線とは X線と物質の相互作用 X線の生成
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材料分析を行う方向けの資料となります。
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粒子計測装置とX線分析装置を提供する、Malvern Panalytical（マルバーン・パナリティカル）社の日本事業部です。東京と神戸を拠点に国内計6ヶ所の営業所、２ヶ所のアプリケーションラボラトリにて、粒子計測・X線分析装置の販売やサービス、サポート業務をはじめ、各種セミナーなどのイベントも行っています。 粒子計測や熱分析（カロリメトリ）などの製品を持つMalvern社と、X線回折や蛍光X線分析装置メーカーであるPanalytical社が2018年に統合し誕生いたしました。各分野のリーディングカンパニーである両社の統合により、R&D、プロセスコントロール、品質管理、材料特性分析に携わる幅広い業界のお客様へ、最先端のソリューションをご提供いたします。
