面光源はもちろん、レンズ測定器もご相談ください。
現在、近赤外線（SWIR含む）の領域は 監視カメラ、液面検知や非破壊検査といった単波長でのカメラ検査に加え、可視域と組み合わせた画像処理やハイパースペクトルカメラなど広い波長帯域を用いるカメラも使用されています。 弊社では2000nmまでをターゲットにした近赤外線レンズの測定器を開発を進めています。 可視で確立した製品技術を転用します。 以下の製品をOPIEにて展示予定です。 「レンズフランジ面からの焦点位置の測定」 「レンズ絞りを光量比から測定」 「周辺光量比の測定」 「任意の波長のみ、又は広帯域で点灯できるプログラマブル光源」 【展示会名】OPIE'25 【開催期間】2025.4.23（水）- 25（金） 10:00～17:00 【開催場所】パシフィコ横浜 【ブース番号】O-04 【URL】https://www.opie.jp/
この製品へのお問い合わせ
基本情報
「レンズフランジ面からの焦点位置の測定」 型式例：BPC-1000 焦点面にイメージセンサーを配置MTFが最大となる点を焦点位置と断定、フランジ面等からの距離を測定します。 「レンズ絞りを光量比から測定」 型式例：SMD-100T2 投光部からの照射される光を用いて、ある絞り値で基準登録します。 基準登録された光量に対しての差をEVで表示します。 「周辺光量比の測定」 型式例：KK-3 ピンホールセンサを用いて、イメージセンサー面をスキャンし取得光量をプロットすることで レンズの中心から周辺までの光量比を測定します。 「任意の波長のみ、又は広帯域で点灯できるプログラマブル光源」 型式例：LSBS-300SRV-1 400nm, 850nm, 905nmなど特定の波長のみで点灯できたり 広帯域な白色LEDを含み複数の波長の異なるLEDを点灯することで任意の分光を再現させて発光できます。
価格帯
納期
用途／実績例
レンズメーカー様の開発部門・製造部門・品質管理部門 カメラメーカー様、カメラ応用製品メーカー様の開発部門・製造部門・品質管理部門 測定サンプルの治具台から測定器そのものまで カスタム製作も対応致します。
カタログ（4）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
デジタルカメラ用検査装置の開発製造を軸に国内外を含め半世紀の実績がございます。 壷坂電機（つぼさかでんき）のカメラ用測定器は、銀塩カメラの時代よりカメラメーカの製造ラインや研究開発部門に、生産・検査工程にてカメラ品質向上に長く貢献してきました。 評価用安定光源（輝度箱）、シャッタテスター、電子コリメーター、絞り面積計、レンズテスター、ストロボテスター、等検査器は全て取り揃えております。 ハードウェアの設計・開発から制御用ソフトウェアの開発まで、システム一体としての装置開発が自社で行えます。 主に国内外のカメラメーカで実績があり、製造品質については強い信頼をいただいております。（ISO9001を取得） 又、カメラ業界以外で光センシング技術を応用した医療器・微小変位計などの製作も手がけ、液晶カラーフィルター用のレジストインキのコントラスト値を測定するコントラストテスターを世界に販売し、高精細・高コントラストのテレビやパソコンモニターの性能の向上に貢献しています。 自社測定器の各種カスタマイズはもちろん、あなたの会社に必要な測定器を専用受注で随時、承っております。まずはご相談ください。
