極表面の化学組成・結合状態・価数などの情報を得ることができる！
XPS分析の錠剤への応用についてご紹介いたします。 X線光電子分光(XPS)は、X線を試料に照射した際に放出される電子を観測し、 試料内に存在した電子の情報を取り出す分析手法で、極表面の化学組成・ 結合状態・価数などの情報を得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■数nmの最表面の組成分析(Li～)が可能 ■感度は、0.1atomic％程度 ■電子状態分析(化学結合・価数・ギャップなど)が可能 ■絶縁物・有機物の測定が可能(非破壊分析) ■測定領域は、数十～数百μmφ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
この製品へのお問い合わせ
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
当社は、受託分析サービスを展開している会社です。 2002年8月の創立以来、信頼性のある分析・解析技術と最新鋭の設備を駆使し、 半導体・液晶・金属・新素材を中核とした幅広いマーケットに最適な ナノレベルの微細加工、分析、解析、信頼性評価、環境安全化学分析、 サービス・ソリューションを提供しております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
