高解像度赤外線サーモグラフィカメラ OptrisPI640i MO2X 基板・電子部品の微小領域温度測定、8μm IFOV対応
Optris PI 640i MO2Xは、640×480ピクセルの高解像度と8μmの空間分解能（IFOV）を誇る赤外線サーモグラフィカメラです。新開発の2倍顕微鏡レンズを搭載し、電子部品やプリント基板など微小対象の正確な温度分布計測が可能です。温度測定範囲は-20～900℃（サブレンジ設定可能）、32Hz（最大125Hz）の高速フレームレートで高速プロセスの監視にも対応します。手動フォーカスや交換可能な光学系、USB2.0インターフェース、IP67の堅牢設計、無償のPIX Connect解析ソフトウェアを標準付属。研究開発から製造現場まで幅広い用途で高精度な赤外線温度計測を実現します。
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基本情報
検出素子：FPA（非冷却）、ピクセルピッチ17μm 光学解像度：640×480ピクセル 顕微鏡レンズ（MO2X）：視野5.4×4.0mm、IFOV 8μm、作動距離15mm 温度測定範囲：-20～900℃（サブレンジ設定可、MO2Xは-20～500℃推奨） 熱感度（NETD）：80mK 測定精度：±2℃または±2%（大きい方） フレームレート：32Hz（全画素）、125Hz（サブフレーム） インターフェース：USB2.0（GigE変換可） 保護等級：IP67 寸法・重量：約52×59×139mm、約340g（MO2X構成） 付属品：顕微鏡スタンド、ESDパッド付きベース、PIX Connectソフトウェア
価格帯
納期
用途／実績例
Optris PI 640i MO2Xは、電子部品やプリント基板の熱設計・故障解析、半導体デバイスの発熱分布評価、パワーICやプロセッサの局所発熱監視に多数採用されています。8μmの空間分解能と高精度な温度測定により、微細チップやはんだ接合部、BGAパッケージの異常発熱検出、リワーク工程の温度管理、LED・レーザーダイオードのパルス動作時の熱挙動解析にも有効です。さらに、産業用ロボットのモーター・ドライバの温度監視、研究開発現場での新素材・新構造デバイスの熱評価、24時間の自動温度監視システムなど、幅広い分野で実績があります。高温金属表面の温度制御やごみ処理場での火災予防にも利用されています。
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企業情報
誘導加熱用電源と加熱装置、プラズマ用高周波電源、ＲＦパワーアンプなど、高周波の工業利用及び理化学研究用の高周波電源とその高周波利用装置を製造販売しています。 誘導加熱電源は、出力1.2kWから500Kwまで幅広く取り揃えており、特に他に類のない小型化と広い周波数範囲をカバーするため、今まで誘導加熱の適用が困難であったアプリケーションにも応用されています。 プラズマ用電源とＲＦアンプについては、米国の系列会社にてエンジニアリングと製造を行い、販売のほか応用機器の設計製造を行なっています。 半導体装置用プラズマ高周波電源と広帯域増幅器の３０年以上の経験を踏まえ、的確なエンジニアリング業務でお客様の理想を実現します。 機器選定のための加熱テストも初回無償で承っております。