半導体中のキャリアの挙動を可視化できます！
弊団では、半導体中キャリアの直流電圧依存性評価を承っております。 SMM計測は半導体中のキャリア濃度の大小をマッピングできる手法です。 また、SMM計測時に試料に直流電圧を印加してキャリアを誘起させながら 計測することが可能です。 各測定点で印加電圧条件ごとにSMM信号を取得しながらマッピング測定を行い、 データキューブを構築。全データ収集後に印加電圧条件ごとにSMM信号を 解析することで、印加電圧に対するキャリアの振る舞いを可視化することができます。 【測定法・加工法】 ■[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【製品分野】 ■LSI・メモリ ■パワーデバイス ■光デバイス ■太陽電池 ■照明 ■酸化物半導体 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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用途／実績例
【分析目的】 ■形状評価 ■製品調査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください！ MSTは、あなたの「困った！」を解決へと導きます。