半導体製造における異物検出をサポート
半導体業界では、製品の品質と歩留まりを向上させるために、製造プロセスにおける異物混入の徹底的な管理が求められます。特に、微細化が進む半導体デバイスにおいては、微小な異物が製品の性能を著しく低下させる可能性があります。ナノビア社の表面検査技術資料は、異物検出の課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・ウェーハ表面の異物検査 ・マスクやレチクルの異物検査 ・製造工程における異物発生源の特定 【導入の効果】 ・異物による不良品の削減 ・歩留まりの向上 ・品質管理の効率化
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基本情報
【特長】 ・最先端の3Dプロフィロメーターによる高精度な表面形状測定 ・ナノインデンターによる材料特性評価 ・トライボメーターによる摩擦・摩耗特性評価 ・スクラッチテスターによる耐スクラッチ性の評価 ・世界各地の自社ラボでの試験データ提供 【当社の強み】 ・世界トップクラスのメーカーの製品を取り扱い ・国産メーカー並みの迅速なサポート体制 ・測定機・試験機・生産合理化機器の専門知識
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用途／実績例
■リアルナノ3Dプロフィロメーター ラボサービスでは、「表面粗さ」「仕上げ」「形状」「テクスチャ」などを高精度に測定するための表面プロファイリングを提供します。 ■ナノインデンテーション & スクラッチ試験 ナノインデンテーション試験およびスクラッチ試験は、材料の機械的特性をミクロ～ナノスケールで評価するための手法です。 ■摩擦・摩耗試験 摩擦試験・摩耗試験・トライボロジー評価に関して、ASTMやISOなどの国際規格に準拠した試験から、お客様の用途や使用環境を再現したカスタム試験まで、幅広いソリューションを提供しています。 ■表面トポロジー & 化学分析サービス 材料表面の形状特性（トポロジー）および化学的特性を高精度に評価するための分析サービスを提供します。
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企業情報
弊社では、世界トップクラスの企業が導入している製品を取り扱っております。日本の製品には見られない最先端の技術が採用され、製造や開発の現場で合理化の促進やコストダウンを可能にし、導入された企業様へ必ずメリットをもたらす製品です。また弊社では海外製品でも国産メーカークラスの迅速なサポートで対応させて頂いております。 ◎動的粘弾性測定装置 ◎応力緩和測定装置 ◎落錘式衝撃試験機 ◎多彩色光3光学プロファイラー ◎ナノ/マイクロインデンター ◎トライボメーター ◎ポリマー用水分計 ◎溶融物性材料開発機器ツインキャピラリーレオメーター ◎流動解析ソフト ◎成形解析ソフト ◎超精密フィーダー ◎質量式定量フィーダー ◎自動調整 重量式ブレンダー ◎ポリマー用除湿乾燥機 ◎カラースペクトロメーター ◎成形サイクル短縮機器 ◎ゴム測定関連機器 動的測定+加硫試験機 レオメーター カーボン分散計 ムーニー粘度計 硬さ・密度計 密度・比重計 未加硫ゴム用かさ比重計 硬度計 耐久・疲労試験機 リバウンドテスター 摩耗試験機 ◎バルブ総合メーカー
