【測量向け】パッシブ除振台

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最終更新日：2026年02月09日

計測の精度を向上させる、高性能除振台

計測の分野では、微小な構造や現象を正確に測定するために、外部からの振動を極力排除することが重要です。わずかな振動が計測結果に大きな影響を与え、データの信頼性を損なう可能性があります。当社のパッシブ除振台は、計測における振動問題を解決し、正確なデータ取得をサポートします。【活用シーン】・走査型電子顕微鏡（SEM）・原子間力顕微鏡（AFM）【導入の効果】・計測精度の向上・データ信頼性の向上・安定した計測環境の確保

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基本情報

【特長】・搭載荷重に合わせて優れた除振特性を設計可能・独自の減衰機構により高い減衰性を実現・小型化も容易、用途に合わせたサイズ提案が可能・クリーンルーム環境下でも長年の実績有り・ばね＋独自の減衰機構により特性劣化が無く、半永久的に使用可能【当社の強み】各種ゴム製品とコンポジット（複合化）技術を活かした製品の製造・販売を行っており、お客様の仕様に合わせた設計が可能です。