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分析サービス | フラックス残渣分析・不具合原因調査・清浄度評価

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最終更新日:2026年08月12日

ゼストロンジャパン株式会社
ゼストロンジャパン株式会社
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製造現場における不良原因の特定や品質課題の解決をサポート!

当社では、フラックスやシンターなど付着物を調べる残渣分析などを 行っております。 製造現場における不良原因の特定や品質課題の解決を、フラックス洗浄の 知見を持つ当社が分析とノウハウでサポート。 実装不良など不具合発生の原因を切り分ける不具合原因調査や、基板表面の 清浄度や残渣量の状態を確認する清浄度評価にも対応いたします。 【特長】 ■表面に付着した物質の有無・種類を特定する残渣分析 ■異物や原因を分析装置とノウハウで調査する不具合原因調査 ■定期的な分析による工程管理を行う清浄度評価 ■分析結果だけでなく、対策や改善案についても提案 ■他社製フラックス洗浄液や基板についても清浄度分析が可能 ■ISO 9455-18:2024に準拠した清浄度確認方法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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分析サービス | フラックス残渣分析・不具合原因調査・清浄度評価

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基本情報

【分析手法と装置】 ■マイクロスコープ:80倍等の光学顕微鏡を用いた表面分析 ■FT-IR:有機物残渣を測定し、詳細な起因分析を実施 ■イオンクロマトグラフィー:イオン種ごとを定量的に分析 ■Zero Ion:抽出的分析法でイオン残渣の総量確認 ■SEM-EDS:微小物の詳細形状を観察及び元素分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

価格情報

費用につきましては枚数・混雑状況等によって変化しますので、まずは弊社にお問い合わせください。

納期

詳細はお問い合わせください

※納期につきましては枚数・混雑状況等によって変化しますので、まずは弊社にお問い合わせください。

用途/実績例

【用途】 ■洗浄後の基板に白い付着物がある場合の特定 ■異物付着の品質トラブル発生時の原因調査 ■取引先から規格を指定された分析の実施 ■信頼性確保を目的とした洗浄工程の評価 ■高信頼性電子デバイスが求められる分野での清浄度分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

この製品に関するニュース(1)

「分析サービス | フラックス残渣分析・不具合原因調査・清浄度評価」のページを追加しました

  • 製品ニュース

当社では、フラックスやシンターなど付着物を調べる残渣分析などを 行っております。 製造現場における不良原因の特定や品質課題の解決を、フラックス洗浄の 知見を持つ当社が分析とノウハウでサポート。 実装不良など不具合発生の原因を切り分ける不具合原因調査や、基板表面の 清浄度や残渣量の状態を確認する清浄度評価にも対応いたします。 【特長】 ■表面に付着した物質の有無・種類を特定する残渣分析 ■異物や原因を分析装置とノウハウで調査する不具合原因調査 ■定期的な分析による工程管理を行う清浄度評価 ■分析結果だけでなく、対策や改善案についても提案 ■他社製フラックス洗浄液や基板についても清浄度分析が可能 ■ISO 9455-18:2024に準拠した清浄度確認方法 ※記事の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。

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ゼストロンはドイツ本社を拠点に世界8拠点を展開する、グローバル基準の『フラックス洗浄剤メーカー』です。 弊社洗浄剤は、高い洗浄性を持ちながらも、有機溶剤・VOCの削減、また使用量低減によるコスト削減を可能とする、 洗浄性と安全性を両立した地球環境に優しい水系洗浄剤を主力としています。 神奈川のテクニカルセンターでは、インライン・バッチ式のスプレー洗浄装置 や噴流、超音波装置の中からお客様のご希望に沿った装置をお選びいただき、 生産現場と同等条件のもとワーク洗浄をお試し頂けます。 また、洗浄テストと並行しながら分析センターにて清浄度を分析いたします。 デジタル顕微鏡、FT-IR、イオンクロマトグラフィー、SEM-EDX/EDSなどを駆使し 外観のみでは見逃しやすいフラックス残渣の検知も可能です。 テスト終了後には、推奨プロセスなどの詳細を記載したテクニカルレポートを、エンジニアより提出させて頂きます。 ※弊社は洗浄工程の問題に対するサポート対応を基本的には無償で行っております。  フラックス洗浄に関するご要望・課題がございましたら、ぜひお問い合わせ下さい。

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