最大64レーン(128差動ペア)の高密度試験に対応！
『B6064C』は、PCIe 6.0およびそれ以前の規格に準拠した 高速ケーブルのビットエラーレート(BER)試験に対応する、 高密度で汎用性の高いソリューションです。 自動リンクトレーニング、最大40dBの挿入損失補償機能を備え、 高速PCIeケーブルの研究開発、検証、製造試験に好適。 データセンターのインターコネクトにおける包括的なシステムレベルの シグナルインテグリティ検証を可能にし、ケーブルメーカーやシステム インテグレーターに不可欠な品質保証を提供します。 【主要仕様(一部)】 ■テストユニット：2 x 64 ペア TRx ■ターミナル：AC 結合 ■対応レート：64GT/s, 32GT/s, 16GT/s, 8GT/s, 5GT/s, 2.5GT/s ■プロトコル準拠：PCIe 6.0/5.0/4.0/3.0/2.0/1.0 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【その他の主要仕様】 ■テストパターン：PRBS7-31 ■被測定デバイス (DUT) タイプ：PCIe データレートの高速ケーブル ■システム損失バジェット：Die-to-die 40dB @ 64 GT/s (BER ＜ 1E-6) ■TXイコライゼーション：4 タップ FIR ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
この製品に関するニュース（1）
企業情報
当社は高速光/電気計測技術およびwafer/チップレベルのハンドリング技術で CPOやchipletといった先端半導体に適切なテストソリューションを提供する サプライヤーです。 高速信号処理技術、アドバンスハンドリング技術および高精度アナログ信号 処理技術、三つの中核技術を軸に、研究開発や量産工程まで一貫して対応可能な テストソリューションを展開。 私たちはお客様の未来をともに創るテクノロジーパートナーとして、常に一歩先の 価値を提供しております。
