R, G, B ＋ NIR補正レンズ＿可視光からNIR（850nm）の波長域に変化しても良好なMTFを維持します。
LSMシリーズは、435nmの可視光域から850nmのNIR域までをカバーし、波長変化に伴う色収差を高度に補正している。 最大の特長は、R／G／B／NIRと照明条件を切り替えてもフォーカス位置がほぼ変化しない点にある。 これにより、可視光検査からNIR検査へ切り替える際にも再調整を必要とせず、安定した検査環境を維持することが可能となる。 有効像円φ30mmを確保したM42マウント対応レンズで、フランジバック12mmというコンパクトな設計を採用。 LSMシリーズは、可視光から850nmまでの広い波長域において高いMTF特性を維持する。 単にフォーカスが合うだけでなく、解像力そのものを波長横断で確保しているため、微細欠陥や材質差の検出といった高難度の検査用途にも適している。 LSMシリーズは、高解像ラインスキャンカメラの性能を余すところなく引き出せる。 一方で、一般的な2K／4Kクラスの3ラインスキャンカメラにも使用可能であり、既存設備への展開性にも優れる。
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基本情報
有効像円φ30mmを確保したM42マウント対応レンズで、フランジバック12mmというコンパクトな設計を採用。 LSMシリーズの光学設計は、Teledyne e2v社の4ラインセンサー「EV1S04KM-CLV0150-T」の特性に基づいて最適化されており、4K解像度・ピクセルピッチ7µmに対応。 カメラの代表例として、Teledyne e2v社の Linea2 や Allied Vision社の allPIXA neo 4k CSP color などがある。 ●LSM25 焦点距離：25mm イメージサークル：φ30 FNo.：F2.8 解像力：4,096pixel, 7µm マウント：M42 ●LSM35 焦点距離：35mm イメージサークル：φ30 FNo.：F2.0 解像力：4,096pixel, 7µm マウント：M42 ●LSM50 焦点距離：50mm イメージサークル：φ30 FNo.：F2.8 解像力：4,096pixel, 7µm マウント：M42
価格情報
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納期
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用途／実績例
１．マシンビジョン／品質検査 ●電子部品・半導体検査：ICチップ、PCB基板、平面パネル（LCD／OLED）の欠陥、異物検出。 高速・高精細な表面検査に最適である。 ●印刷物検査：印刷品質、色ズレ、欠落、パターン不良の識別。 三原色やスペクトルを同時取得して解析可能である。 ●ウェブ検査：高速搬送ラインのロール材料（紙、フィルム、繊維など）のリアルタイム欠落検出。 ２．カラー＆マルチスペクトル検査 ●食品・農作物検査：果物・野菜の成熟度、内部欠陥、腐敗の兆候、異物判別などの用途に適している。 ●農作物の選別：色・構造・内部品質を同時計測し、高度な分類・選別が可能となる。 ３．ラベル／パッケージ検査 ●包装検査：包装の印字・色ムラ・封入不良などの検査。 複数波長情報により不透明材の透過情報も取得可能。 ４．その他特殊用途 ●スポーツ計測（フォトフィニッシュなど高精度ライン撮影）やリサイクル選別（材料特性に応じた波長帯の反射特性を利用）といった専門用途にも適用される。
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企業情報
当社は、マシンビジョンレンズ、特注レンズの開発・生産メーカーです。 1984年の創業以来、世界のお客様のご要望に対して多くのカスタム対応のレンズを開発し生産してまいりました。 また、市販の製品でお困りのお客様、何か条件で合わずに 購入が進まないお客様、などのような例でお困りのお客様と ご一緒に、カスタムソリューションを実現させていただきます。
