高性能かつコスト効率の高いサーマルイメージング
＼高性能×低コスト／熱反射イメージングの決定版 SanjSCOP EZ530 「研究開発の精度は落としたくないが、予算は限られている」 そんなラボや教育機関、企業の課題をSanjSCOP EZ500が解決します！ 半導体分析やRFデバイス試験、故障解析向けに設計された本システムは、圧倒的なコストパフォーマンスを誇るエントリーモデルです。 ◆3つの強み １．サブミクロンの高解像度： ホットスポットや一時的な発熱現象をリアルタイムで精緻にキャッチ。 ２．非侵襲・超高感度（10mK）： デバイスに負荷をかけず、わずかな温度勾配や欠陥を検出。 ３．優れた操作性： 独自ソフト「SanjView」との連携で、定常・過渡状態の熱画像をスムーズに解析。 ◆幅広いアプリケーション 半導体・IC試験、RF/5Gデバイスの放熱監視、LEDや光学部品の信頼性試験など、あらゆる熱特性評価に最適です。 使いやすさ、精度、信頼性を手頃な価格で。 SanjSCOPE EZ530が、あなたの製品開発と故障解析を次ステージへ導きます。
![ez500-probe-station-768x1075[1].jpg](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/2058922/IPROS12094355577138449880.jpg?w=280&h=280)
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基本情報
高性能とコストパフォーマンスを両立した、熱反射イメージングシステムの主要スペックです。 測定技術： 定常状態（Steady-state）および過渡状態（Transient）の熱画像測定 空間分解能： サブミクロン（1μm未満の詳細な熱分布解析が可能） 温度感度： 10mK（微小な温度変化や勾配を正確に検出） 画像処理速度： 高速・リアルタイム解析 解析ソフトウェア： Microsanj独自開発「SanjView」ソフトウェア（シームレスな統合とスムーズな操作性を実現） 測定対象・用途： * 半導体（IC、マイクロチップ）の熱性能試験 RF・5G高周波回路の放熱監視 パワーデバイス等の故障解析、信頼性試験、欠陥検出 フォトニクス（LED、レーザーダイオード、光学部品）の熱特性評価 【システムの特徴】 コンパクトな筐体に高い非侵襲性と感度を凝縮。デバイスに負荷をかけず、ホットスポットや一時的な発熱現象をリアルタイムに捉えます。
価格帯
納期
用途／実績例
半導体（IC、マイクロチップ）の熱性能試験 RF・5G高周波回路の放熱監視 パワーデバイス等の故障解析、信頼性試験、欠陥検出 フォトニクス（LED、レーザーダイオード、光学部品）の熱特性評価
ラインアップ（10）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| SanjSCOP NT220 | |
| irSCOPE EZ100A | |
| irSCOPE EZ100A Open Test | |
| OPP-3DIC | オプション |
| PicoSCOPE | オプション |
| POSH-TDTR | オプション |
| irFLASH | オプション |
| IR+TR ハイブリッドシステム | オプション |
| SanjVIEW | ソフトウェア |
| SanjANALYZER-PLUS | ソフトウェア |
企業情報
アンテナテクノロジー株式会社は、主に無線LAN用各種アンテナ、データテレメトリ用各種アンテナ等の設計・製造・販売を行っている会社です。お客様個々のニーズに合わせた受注開発を得意としており、幅広い分野の電波伝送・高周波伝送技術に対応が可能です。ご要望の際は、是非当社にお問合せください。
