赤外線サーマルイメージングシステム irSCOPE EZ100A

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Microsanj

最終更新日：2026年06月22日

公式サイト

広範囲の熱異常を瞬時に可視化！汎用・高精度赤外線熱画像解析システム『irSCOPE EZ100A』

半導体パッケージから電子基板まで、あらゆる産業の熱課題を解決。広視野かつ高感度なマクロ測定で、目に見えないホットスポット（異常発熱）を迅速に特定します。 Microsanj社製の『irSCOPE EZ100A』は、幅広い産業分野における一般的な熱解析ニーズに最適な、汎用型の高精度赤外線（IR）サーマルイメージングシステムです。デバイスやパッケージ全体の広範囲（マクロスケール）な温度分布を一度に捉える「広い視野（Large FoV）」と、微小な温度変化を逃さない「高い熱感度」を両立。基板上の異常発熱箇所を迅速にスクリーニングし、開発・検査プロセスの効率を大幅に向上させます。高度なMicrosanjの熱画像解析テクノロジーを、より手軽で導入しやすいパッケージでご提供します。

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基本情報

広範囲のホットスポットを迅速に特定（マクロスケール測定）広視野（Large FoV）での測定により、対象物全体の熱分布を一度に可視化します。異常な発熱箇所や欠陥部位を素早く見つけ出し、後続の詳細解析への移行をスムーズにします。微細な温度変化を逃さない高い温度分解能優れた熱感度（Thermal Sensitivity）を持つ赤外線センサーにより、わずかな温度差も正確に検知。初期段階での熱リスク排除に貢献します。あらゆる産業に対応する圧倒的な汎用性（General-Purpose）特定の微細デバイスに限らず、パッケージレベルの半導体、プリント基板（PCB）、パワーモジュールなど、多種多様なターゲットの熱解析・故障解析（FA）に対応可能です。直感的でシームレスな解析ソフトウェア解析業務を自動化・効率化するMicrosanjの専用ソフトウェア（SanjVIEW / SanjTHERMなど）と連携。複雑な設定なしで、高度な熱マッピングが可能です。