ワイヤーの半田部分の浮き検査を高速高精度で実現！鏡面や複雑な形状にも対応する高精度センサー搭載製品
『浮き検査測定装置』は、ワイヤーの半田部分の浮き検査を高速高精度で行う製品です。潰れ高さを測定することにより、電気的な非導通の検査をいたします。 色収差共焦点原理を用いた高精度の超高速センサーにより、36000ライン/秒の測定速度で、ライン当たり測定点数1,200点測定が可能です。測定精度は±2μm。センサーの入射光と検出光は同じ経路をたどるためシャドーイングを無視でき、複雑な形状や鏡面でも正確に測定できます。さらに、他の部位の段差、異物、キズ、突起、膜厚なども大面積で短時間検査測定が可能です。卓上機から全自動型24時間インラインにも容易に対応いたします。 【特長】 ■ワイヤーの半田部分の浮き検査を高速高精度で実施 ■潰れ高さの測定により電気的な非導通を検査 ■鏡面や複雑な形状のワークも正確に測定可能 ■卓上機から全自動型24時間インラインまで対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【仕様】 ■構成（一例）：電動X・Yステージ、手動Zステージ、サンプル保持用冶具、光学系取付架台、測定及び制御用パソコン、専用対物レンズ群、モーターコントロールボード、LCDディスプレイ ■測定速度（1秒あたりのライン数）：3600 ■ライン長：2.36 mm〜11.9 mm（レンズ交換） ■測定範囲（Z方向）：0.68 m〜10.6 m（レンズ交換） ■開口数（NA）：0.77〜0.22（レンズ交換） ■ライン当たり測定点数：1200 ■Z方向分解能：0.8μm（レンズ交換） ■測定可能角度：90°±50°〜±13°（レンズ交換） ■重量：約 6.2kg（センサー部） ■大きさ：346 × 185 × 135mm（センサー部） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■ワイヤーの半田部分の浮き検査 ■電気的な非導通の検査 ■段差・異物・キズ・突起・膜厚などの測定検査 ■鏡面や複雑な形状のワーク測定 ■卓上型および全自動24時間インライン検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。
