ニア・フィールド・プローブ・セット XF1
この「XF1」は、H-フィールドプローブ「XF-R 400-1」, 「XF-R 3-1」, 「XF-B 3-1」, 「XF-U 2.5-1」と E-フィールドプローブ「XF-E 10」がセットとなっている。電子的な組立、コンポーネント、ICピンにおける磁界計測用に設計された。それぞれの周波数レンジは30MHz〜6GHzで、HF電磁界の発生源や障害の発生元の位置測定を可能にする。プローブはSMAでスペクトラム・アナライザの50Ohm入力に接続できる。
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基本情報
「主な特徴」 ◆周波数レンジ30MHz〜6GHz *「XF-E」は30MHz〜3GHz ◆「XF-R 400-1」：直径が25mmと大きいので感度が非常に良く、最小の分析が出来る。プローブは装置から10cmまでの距離に使用可能。 ◆「XF-R 3-1」：HF電磁界のほとんどの点状の検波を行える。プローブはミリメーター範囲の電磁界の解析まで可能。 ◆「XF-B 3-1」：平らな装置の表面から垂直に発せられる電磁界の探知用に設計されている。プローブはプリント回路基板の妨げられた部分の測定を可能。 ◆「XF-U 2.5-1 」：極小導電経路、コンポーネントの接続部分、コンデンサ、ICピンの流動スペクトル検波用に設計された。プローブヘッドは約0.5mm幅で磁気によって有効な規制を含む。 ◆「XF-E 10」：プローブのヘッド・チップは幅わずか約0.5mm。約0.2mmの分解が可能なので、個々のトラックが設計図上で評価が可能。
価格情報
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納期
用途／実績例
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企業情報
EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。
