SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。
走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。 JTLでは、SEM/FE-SEMによる観察・分析の前後に必要な工程である、評価試験や断面研磨、寸法測定等のサービスも合わせて受託致します。
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基本情報
【低倍率から高倍率（約300,000倍）までの観察】 汎用型のSEMだけでなく、電界放射型の電子銃を搭載したFE-SEMを所有しているため、低倍率（数倍）から高倍率（約300,000倍）までの幅広い倍率での観察が可能です。 それ以上の倍率での観察をご希望の場合、TEM観察のサービスも実施しております。 【大型試料の観察】 汎用型SEMで観察できる範囲はφ180mm×t70mmですが、装置に投入可能な試料サイズは約φ300mm×t70mmになります。 FE-SEMの観察可能な試料寸法は70×50×t25mmまでとなります。 【低真空モードでの観察】 汎用型SEMでは低真空モードでの観察が可能ですので、ガスが出やすい試料や蒸着しても帯電しやすい試料、蒸着無しでは観察が困難な試料（絶縁体や水・油を含んだ試料等）でも、SEM観察を行うことが可能です。 【EDX（エネルギー分散型分析装置）による元素分析】 SEM・FE-SEMにはともにEDXが装着されており、試料表面を構成する元素の種類・量・分布状態を調査することが可能です。
価格情報
- 観察内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
納期
※観察内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
用途／実績例
・溶接部の溶け込み部の断面観察 ・金属材料の結晶状態の観察 ・メッキの断面観察・分析 ・はんだ接合部の観察・分析 ・セラミック材料のマイクロクラック観察 ・EBSDによる結晶方位解析 金属プレートの破損部周辺の結晶組織解析 カシメ部めっきの結晶組織解析 結晶粒内クラック周辺の結晶方位解析 はんだの試験前後品の結晶組織変化の解析 セラミックス品の結晶方位配向性解析 溶接部破損部の結晶組織解析 ・その他 付着物・異物の観察・分析 錆発生箇所の観察・分析 金属材料の破断面の観察 金属製品の腐食液の進入状態の確認 端子カシメ部の形状確認・加工率測定 溶接品（レーザー・TIG・アーク・スポット・抵抗等）の表面・断面調査 熱処理品（高周波・アニール・TIC・浸炭・真空等）の表面・断面調査
企業情報
開発品の信頼性を評価する技術サービスを主な業務としています。 規格・規定通りの評価データのご提供だけでなく、評価目的に最適な手法・条件・設備のご提案や、規格外評価のためのオリジナル設備・治具の設計製作にも対応しています。 また、計測・試験・分析の3つの評価技術を複合的に取り扱っていますので、多様な設備を横断する複合業務や、より多角的な評価方法のご提案も可能です。