解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。
精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。
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基本情報
【非破壊解析】 非破壊でしか得ることのできない製品の内部構造に関する情報を調査・提供します。 [設備] SAT、X線CT、X線残留応力測定装置 【試料調整】 高度で多様な試料調整技術によりマイクロ接合領域の分析・解析を可能にします。 [設備] FIB、イオンミリング装置、ミクロトーム、レーザー開封装置、薬液開封装置、蒸着・コーティング装置、ポリッシャー、精密切断機、切断機、卓上SEM 【物理分析】 多種多様な観察・分析装置を用いて試料の状態に関する情報を提供します。 [設備] Cs-STEM、FE-EPMA、XPS、走査型オージェ電子分光分析装置、FE-SEM、SEM、SEM-EBSD、XRF、XRD、デジタルマイクロスコープ、金属顕微鏡、蛍光顕微鏡、熱物性測定装置（熱伝導率測定装置、熱拡散率測定装置、DSC） 【化学分析】 金属元素分析やアウトガスの分析、生体試料中の薬物濃度測定などに対応します。 [設備] IC、GC、HPLC、GC-MS、GC-MS/MS、LC-MS、LC-MS/MS、ICP-MS、ICP-AES、FT-IR、Raman、カールフィッシャー水分計
価格情報
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納期
用途／実績例
・形態観察 試験前後の表面状態の確認 接合面の状態観察 薄膜の膜厚観察 超微細パターンの観察 ・EDS分析（元素分析） 付着物の観察、分析 元素の分布状態の把握 ・化合物分析 樹脂、ゴムなどの種類判別 ・蛍光X線分析（元素分析） 金属材料の材質確認 ・最表面観察・分析 試料最表面の観察、分析 ・クロマト分析 環境分析 化学分析
企業情報
開発品の信頼性を評価する技術サービスを主な業務としています。 規格・規定通りの評価データのご提供だけでなく、評価目的に最適な手法・条件・設備のご提案や、規格外評価のためのオリジナル設備・治具の設計製作にも対応しています。 また、計測・試験・分析の3つの評価技術を複合的に取り扱っていますので、多様な設備を横断する複合業務や、より多角的な評価方法のご提案も可能です。