光学干渉式膜厚測定により、非接触で高速計測が可能。表面または中間層の二層の同時計測可能。ソフトウエアもインライン対応。
昨今のLED測定アプリケーションはその使用マーケットの拡大に伴い多種多様化しており、既存の測定装置では用途に応じた対応が困難となってきています。 またLED関連企業の多くは技術的な難しさに加え、測定という新たなプロジェクトに対し多額な予算を準備することに戸惑いを持っており、LED及びLEDディスプレイの測定への高いハードルとなっています。 弊社はその現状を踏まえ、LED測定用モバイル分光測定装置を提案しております。
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基本情報
Handy Lambda LED monitor は、まず必要最低限な構成をお勧めしてから、用途が増えた際にアップグレードが出来る特徴があります。 ハード部は測定サンプルに応じた光学系に、ソフト部は測定されたい値に応じた内容とボリュームに変更可能です。CIE基準に沿った測定距離を保つ測定プローブや、様々な形状のサンプル用にカスタマイズ設計されたソケット類、光束測定に不可欠な積分球などを付けて頂く事が前提となります。 ソフトはLED及びLEDディスプレイの輝度・光度・光束・照度・色度・配光特性・主波長・ピーク波長・半値全幅・VF特性・LI測定などに対応した機能を持たせております。 特に、専用パルスジェネレータを使用したLI測定機能は、従来の測定装置には無いオリジナル機能となっています。
価格情報
1,500,000円〜
価格帯
100万円 ~ 500万円
納期
~ 1ヶ月
用途／実績例
対象波長範囲 310-1000nm 内蔵検出器 MOSリニアイメージセンサー 内臓検出素子 3.3nm（1素子） 測定露光時間 1.5m秒-6.5秒 実測定波長範囲 380nm-950nm（標準） 光度感度 1mcd-2000cd 輝度感度 20cd/m2-100000cd/m2 全光束感度 20m/1m-5000/1m（6inch球） 色度（x,y） ±0.0002 主波長精度 <±0.3nm 再現性精度 <0.2%
カタログ（1）
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企業情報
光測定を主に利用し、各種非破壊非接触測定及び半導体製造プロセス検査（膜厚測定、プラズマモニターなど）をおこなうデバイスをオンライン、オフライン両方に開発