分光エリプソメーター GES5E

基本情報

【豊富な製品バリエーション】 ○研究開発用途　○大型パネル自動測定　○ロールツーロール測定　○FTIRオプション　○光学式細孔率　○細孔分布測定　などあらゆる製品をご提案可能 【薄膜太陽電池向け分光エリプソメーター】 ○アモルファスシリコン　○微結晶シリコン　○GIGS　○CdTe　○DSSC　○有機物等の、光学特性の測定が可能　○ITO膜 【測定可能な物理特性】 ○膜厚と光学屈折率(n,k)　○屈折率の勾配と材料組成 【アプリケーション】 ○半導体　○シリコン、有機、化合物半導体　○太陽電池　○有機EL　○LED　○ポリマー　○フラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）　○医療、バイオ　○ＰＥＴフィルム　○燃料電池　○グラフェン 【仕様】 ○波長範囲：190nm-2400nm　○測定スピード：全波長範囲　1秒～ 【オプション】 ○FTIR　○ポロシメーター　○マイクロスポット　○コンペンセーター　○自動マッピング・ステージ　○シート抵抗　○反射率計　○ラマン分光　○透過率計 仕様や価格については、お気軽にお問い合わせください。

価格情報

- 波長範囲などの仕様によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせ下さい。気軽にお問い合わせください。

納期

※お気軽にお問い合わせください。

用途／実績例

半導体、太陽電池、フラットパネルディスプレイに非常に多くの実績があります。 ※無料カタログをご用意しております。 　ダウンロード頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

詳細情報

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  比抵抗率・シート抵抗測定オプション Eddy Currents（渦電流法）による比抵抗率・シート抵抗測定機能。非接触で精度良い測定が可能です。

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  反射率測定オプション 長寿命キセノンランプと２層構造の石英光ファイバーを使用。非接触で高精度の反射率測定が可能です。

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  ラマン分光オプション ラマン分光によるリアルタイム・モニタリングと特性評価。 非接触で、材料の結晶度や組成が高精度で測定可能。