高精度過流探傷（ET） 欠陥検出技術
最大検出精度30μm：深さ方向の欠陥検出が可能ま 高精度過流探傷（ET）欠陥検出技術 【特徴】 ○最大検出精度30μm： 深さ方向の欠陥検出が可能 （従来の検出精度1,000μm） ○湾曲部等の特殊形状部位の欠陥検出が可能 ○ニーズに合わせたプローブの製作が可能 （最小径：φ2mm〜） ○非鉄金属（常磁性金属）の欠陥検出に最適 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
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基本情報
最大検出精度30μm：深さ方向の欠陥検出が可能ま 高精度過流探傷（ET）欠陥検出技術 【特徴】 ○最大検出精度30μm： 深さ方向の欠陥検出が可能 （従来の検出精度1,000μm） ○湾曲部等の特殊形状部位の欠陥検出が可能 ○ニーズに合わせたプローブの製作が可能 （最小径：φ2mm〜） ○非鉄金属（常磁性金属）の欠陥検出に最適 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
価格情報
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納期
用途／実績例
【用途】 ○チタン ○ステンレス ○銅合金
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企業情報
IHIグループで検査・計測・制御を専門としている総合企業です。 私たち IIC は、株式会社 IHI の検査・計測を担当する部門が1974年に独立し，設立しました。 その後、検査・計測に関する装置を開発・製造する部門を立上げ、さらにIHIグループの制御システムを開発・製造する部門を譲り受け，事業領域を拡大してまいりました。 IHI の研究開発部門の支援も受け、理論的バックグラウンドを有し(Intelligent) かつ総合的 (Integrated) な企業に発展してきております。 検査，計測，制御などの技術をもって、より広範なサービスを提供できる会社を目指しています。