表面解析サービス
IHI検査計測社が取り扱う 表面解析サービスのご紹介です。 表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価 経年変化/健全性評価の観点で重要となっています 【主要設備】 ○FE-SEM/EDS分析装置 ・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：5×104倍 ・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適 ○AES分析装置 ・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍 ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置 ・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 観察視野は、AESより広いが、元素の結合状態の分析より 化学式の推定が可能 ○EPMA分析装置 ・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：104倍 ・走査型電顕により表面形状を観察しながら元素の定性/定量分析実施 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。
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基本情報
IHI検査計測社が取り扱う 表面解析サービスのご紹介です。 表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価 経年変化/健全性評価の観点で重要となっています 【主要設備】 ○FE-SEM/EDS分析装置 ・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：5×104倍 ・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適 ○AES分析装置 ・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍 ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置 ・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 観察視野は、AESより広いが、元素の結合状態の分析より 化学式の推定が可能 ○EPMA分析装置 ・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：104倍 ・走査型電顕により表面形状を観察しながら元素の定性/定量分析実施 ●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。
価格情報
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納期
用途／実績例
【用途】 ○付着物の組成分析、腐食生成物の分析 ○複合蒸着膜の界面分析 ○ステンレス鋼の不動態皮膜の構造分析 ○拡散接合部の合金元素分布測定
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企業情報
IHIグループで検査・計測・制御を専門としている総合企業です。 私たち IIC は、株式会社 IHI の検査・計測を担当する部門が1974年に独立し，設立しました。 その後、検査・計測に関する装置を開発・製造する部門を立上げ、さらにIHIグループの制御システムを開発・製造する部門を譲り受け，事業領域を拡大してまいりました。 IHI の研究開発部門の支援も受け、理論的バックグラウンドを有し(Intelligent) かつ総合的 (Integrated) な企業に発展してきております。 検査，計測，制御などの技術をもって、より広範なサービスを提供できる会社を目指しています。