あらゆる画像データから粒径や形状係数を数値化。粉体の解析と管理に特化した、真に実用的な粉体用画像解析ツール。
JIS Z8827-1 静的画像解析法に準拠した粒子径画像解析ソフトウェア Mac-View。粉体の解析と管理に特化した汎用的ソフトウェアのため、SEM, TEMだけでなく、あらゆる粉体のデジタル画像データが使用可能です。画像さえあれば高額な設備投資は一切不要で、凝集粒子の１次粒子径の評価や、ナノ粒子の解析も実施出来ます。 【特徴】 ・ナノ粒子の評価。画像データにスケール情報があれば粒子径を問わず解析が可能です。 ・凝集粒子の１次粒子径の解析。ソフトウェア上で使用可能な多数の粒子認識ツールを応用し、従来困難であった凝集粒子の１次粒子径評価も可能です。 ・多角的な解析と評価。粒度分布の自動計測、粒子形状（円形度係数やアスペクト比など）の数値化が可能です。 ・ソフトウェアの操作に特別な知識は不要。オペレータの習熟度を問いません。 ・高額な設備投資は不要。デジタル画像データ（jpg, bmp）があれば、PCにソフトウェアをインストール後、すぐに解析を開始出来ます。
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基本情報
■デジタルデータから粒子画像を取り込み 各種データを計測・解析。スケール情報さえあればすぐに解析が可能。 測定レンジに上限／下限はありません。 ■全自動／半自動／手動認識ツールの組合せ 自動認識機能により計測を効率化。あらゆる粒子の計測・解析を実現。 ■取り込んだ粒子群データを粒度分布データとして出力可能 ■計測したデータを一括保存／呼出 テキストデータやグラフ／画像データの出力機能を搭載。 ■JIS8827-1準拠 ■Windows10（32/64bit）対応 ■ライセンスはドングル管理の買い切り形式 サブスクリプション形式にありがちな更新管理や発注処理の手間はありません。 【詳しくはHPよりお気軽にお問い合わせください】 http://www.mountech.co.jp/contact
価格情報
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納期
用途／実績例
【計測機能】 粒度分布・面積・周囲長・長径・短径・最大長・最小長・Heywood径・周長円相当径・円形度係数・アスペクト比・形状係数1～3・Feret径・Martin径・ Krummbein径・二軸平均径・二軸幾何平均径・二軸調和平均径・長さ 他 【解析機能】 粒径％・ON/PASS解析・体積／個数／長さ変換・ピークデータ解析・要約データ解析・粒径区分変換・ふるい上下変換・ 形状係数解析・データ合成・データグループ化 【その他機能】 各種グラフ表示機能・各種プリント出力機能・テキスト出力機能・画像出力機能 他
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この製品に関するニュース（1）
企業情報
自動化をテーマに独自技術で業界をリードする製品を開発・製造・販売。「びっくりさせよう」を原動力に活動している東京の装置メーカーです。 粉体業界における研究・開発・品質管理・生産の現場に寄り添うことで長年培ってきたノウハウを基に、真にユーザーの皆様のお役に立てる製品・サービスを提供しております。 分析装置（全自動比表面積測定装置、全自動真密度測定装置、画像解析式粒度分布測定ソフトウェア）と生産装置（インライン式混合・反応・合成・発泡装置、湿式粉砕・分散・乳化装置、連続真空脱気装置）の両面から、現場のニーズにお応えします。