従来の機種では測定が困難であった、100V以下の帯電を高精度で測定し、0.1Vからの測定が可能になりました。
電子デバイスの静電気耐性はますます低下しており、静電気管理電圧も低下してきております。 従来の機種では測定が困難であった、100V以下の帯電を高精度で測定し、0.1Vからの測定が可能になりました。また、測定エリアを絞ることにより、LSIのパッケージ表面等の狭いエリアの測定が可能になりました。
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基本情報
●静電気破壊の原因になる低電位の静電気が測定できます。 ●新たに、レンジ切替機能追加により微小電位の測定が可能です。 ●測定距離を縮めることにより、測定エリアを絞り、約20mm四方のエリアの測定が可能になり、小さな電子デバイスの表面電位を高精度で測定できます。 ●表示部と検出部がセパレートになっており狭い場所の測定ができ、測定値を手元で見ることができます。 ●小さな電子部品の測定から、広巾物の電位分布の測定ができます。 ●ピークホールド測定と連続測定の切り替えができます。 ●検出センサ故障診断回路を内蔵し、故障時に表示いたします。（特許） ●電源の消し忘れによる電池消耗対策としてスリープモード機能付です。
価格情報
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納期
用途／実績例
●各種電子デバイスの表面電位測定。 ●プリント基板・フラットパネル等の電位分布の測定。 ●その他比較的帯電量が少ない物の測定。
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企業情報
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