イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）
・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point） ・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。 ・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。 ・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。 ・応力シミュレーションサービスのご提案も可能。
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基本情報
・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、プリント基板等の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPENとなる瞬間をモニタリングできるシステム。 ・落下衝撃試験機等と組み合わせて使用可能。
価格情報
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納期
用途／実績例
・イベントディテクタ（イベントディテクト）としての活用 ・落下衝撃試験機等と組みあわた評価 ・電子機器の接続信頼性評価 ・大手半導体メーカーにて導入実績あり
カタログ（2）
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企業情報
開発・設計会社として、半導体周辺回路と応用製品の開発・設計・評価 シミュレーション技術により、お客様の開発設計を促進しています。
