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[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

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最終更新日:2026年04月02日

一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です

試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能 ・最表面を感度よく分析することが可能 ・イメージ分析が可能 ・深さ方向分析の定性分析が可能

    受託解析受託測定受託検査
A0016.jpg

[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

A0016.jpg
A0016.jpg 打ち合わせ.jpg セミナー.jpg
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基本情報

一次イオン照射量を少なくすることで、表面の分子状態を保って二次イオンを発生させることが可能となります。得られた二次イオンを、飛行時間型(Time-of-Flight)質量計で分析します。

価格帯

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納期

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用途/実績例

・変色部(曇り、シミなど)、剥離部の成分評価・原因調査 ・残渣、付着物、異物(数μm以上)の有機・無機定性分析 ・処理前後の最表面評価 ・有機EL・有機太陽電池・高分子フィルムの材料及び添加剤の分布評価 ・金属薄膜の層構造評価・不純物の定性評価 ・二次電池のバインダーの定性・Liの状態・劣化評価 ・粉体表面からの不純物・コーティング剤の分布評価 ・薬剤の皮膚や毛髪への浸透評価 ・フィルムの成分分布評価

詳細情報

  • 打ち合わせ.jpg

    まずはご相談ください ★分析プランのご提案から行います★ 御社へ伺ってのお打ち合わせも、もちろん可能。 分析結果のご説明も丁寧に行い、疑問を残しません。 まずは03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください!

  • セミナー.jpg

    訪問セミナー実施します ★お客様のニーズに合わせた技術者訪問のセミナーを無料で承っております★ お客様のご要望に応じて、分析技術のご紹介や分析データのご説明をいたします。 ◆セミナー内容例 ・MSTの分析手法を広く解説 ・特定の分析手法を原理からじっくり、詳しく解説 ・お客様がご依頼の分析データを解説 03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください!

この製品に関するニュース(5)

TOF-SIMS新サービス 2016年10月より提供開始のお知らせ

  • 製品ニュース

2016年10月、MSTは最新型の高分解能TOF-SIMSを導入し分析サービスを開始します。医薬品・バイオテクノロジ・医療機器や、エレクトロニクス関連の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 これまでも実績のあるTOF-SIMS分析の技術を基盤に、さらに高品質なデータでお客様の研究開発をサポートします。 詳細は下記URLをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/corporate/tabid/1211/Default.aspx 分析事例のご紹介 •TOF-SIMS新サービスのご紹介【医薬品・バイオテクノロジ・医療機器向け】  http://www.mst.or.jp/special/tabid/1194/Default.aspx •TOF-SIMS新サービスのご紹介【エレクトロニクス分野向け】  http://www.mst.or.jp/special/tabid/1210/Default.aspx

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【分析事例】C60を用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布評価 公開しました

  • カタログニュース

アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にC60(フラーレン)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動が抑えられることがわかりました。この測定を行うことで、SiO2膜中の不純物について定性・定量分析を行うことが可能です。 ★★★★★★★★★★★★★★★★★  分析データはリンク先をご覧ください ★★★★★★★★★★★★★★★★★

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【MSTホームページ】有機ELの分析特集 part2★TOF-SIMS分析新サービス公開

  • 製品ニュース

MSTは、有機ELの開発を分析サービスで強力サポートいたします! 画素の高精細化に伴いパターンが微細化されてる有機ELパネルについて、積層された有機膜の各原料を推定する測定環境を整えました。 デバイス評価・劣化評価を通じて、MSTは皆様の研究開発に貢献いたします。 ★★★今回紹介の分析事例★★★ ・有機材料劣化成分の深さ方向分析  ~有機EL劣化層の成分評価~ ・ポリイミド成分の深さ方向分析  ~有機材料の表面改質層評価が可能です~ ・有機EL成分の深さ方向分析  ~微小画素領域での有機成分評価~  【新サービスです!】  TOF-SIMSの新スパッタ条件により、有機成分を壊さず  深さ方向分析が可能になりました。 ・有機EL材料の構造推定  ~Q-Tof型LC/MS/MSを用いた材料の構造推定事例~ *******************************************   詳しいデータはリンク先をご覧ください!! *******************************************

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【分析事例】キトサンの分布評価 公開しました

  • カタログニュース

キトサンは、抗菌性や保湿性などをもつため、医療、食品、化粧品、衣料品などの幅広い分野で用いられています。日常品である綿棒には、抗菌性をもたせるためキトサンを配合したものがあります。 そこで、マッピングにより可視化が可能であり、スペクトル測定により成分評価が可能なTOF-SIMSを用いて、綿棒に含まれるキトサンの評価を行いました。 ★★★★★★★★★★★★★★★★★  分析データはリンク先をご覧ください ★★★★★★★★★★★★★★★★★

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MSTは、高度な受託分析サービスを提供する財団法人です。 最先端の「物理的解析」と、AI技術を活用した「高度なデータ解析」を融合させることで、従来の分析の枠を超えた多角的な視点を提供し、お客様の高度なニーズに迅速かつ的確にお応えします。 技術知識を兼ね備えた専門スタッフが、お客様の課題に寄り添い、最適な分析プランをオーダーメイドでご提案いたします。オンラインでの打ち合わせはもちろん、貴社への訪問による対面でのご相談も承っております。 また、ISO9001(品質)およびISO27001(情報セキュリティ)を取得しており、機密性の高いプロジェクトにおいても、確かな技術力と厳格な管理体制のもと、安心してお任せいただける環境を整えています。製品開発の加速から不良原因の究明、特許調査まで、研究開発のあらゆるフェーズにおける課題を、確かな分析技術で解決へと導きます。

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