レンズシャッターの精度測定可能！高精度波形メモリー解析方式！15回/秒の連続測定可能！
「SLE-3700」は、高精度波形メモリー解析方式によるデジタルカメラ用のレンズシャッターテスターです。 閉じ動作検出点設定機能、バウンド検出機能を搭載しています。 本体部、投受光部セパレート型のコンパクト設計です。 絞り口径誤差測定ができます。 15回／秒の連写測定に対応します。 コンパクトデジタルカメラ用レンズシャッターの精度測定にお使いいただけます。 【特徴】 ○高精度波形メモリー解析方式 ○レンズシャッターテスター ○本体部、投受光部セパレート型のコンパクト設計 ○閉じ動作検出点設定機能 ○バウンド検出機能 ○絞り口径誤差測定 ○ＩＲＩＳ（絞り口径測定）モード ○15回／秒の連写測定対応 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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基本情報
【仕様】 ○高精度波形メモリー解析方式 ○被測定物 ：デジタルカメラ用レンズシャッター ○測定項目 ・全開時間（T1） ・全閉時間（T2） ・露光時間（TE） ・AV値（Av） ・F値、EVの誤差（ΔEV） ○Ｔ2閉じ動作検出点 ・0-100％ ・5-95％ ・10-90％ ・15-85％ ・20-80％ ○測定有効絞り口径：φ14.0～φ1.0 ○測定範囲 ・EV ：±4EV ・AV値 ：1～11AV ・露光時間 ：1/30～1/4,000s ○測定精度 ・時間 ：±15μs ・AV値 ：±0.05EV ・EV ：±0.05EV ・IRISモード時 ：±0.03EV ○電源 ：AC100～240V（50Hz/60Hz）・90VA ○外形寸法 ・操作部 ：130(W)×127(H)×286(D)mm・5kg ・投受光部 ： 90(W)×169(H)×304(D)mm・2kg ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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企業情報
京立電機は1965年(昭和40年)創業以来、「光とエレクトロニクスの融合」をテーマにオリジナル製品の開発に実績を築いてまいりました。 1971年より製造開発したカメラ測定器(露光量テスター、輝度計、フラッシュテスター、シャッターテスター、サービス用テスター、LED光源、コリメーター他)を供給し、カメラメーカー様を中心とした業界に高いシェアを有しております。 長年培われた光計測技術は、デジタルカメラ、ビデオカメラの調整用光源装置や、イメージセンサ取付アライメント測定器、フラッシュ光計測定器などに生かされ、品質向上のお役に立っております。 当社は1994年にISO-9001を取得し、トレーサビリティの取れた物づくりを心がけております。また、海外におきましてもアメリカ、中国、台湾、韓国に代理店を持ち、幅広い展開を行っていると自負しております。 今後も光学産業分野に貢献するメーカーとして、技術を磨いていく所存でおります。
