4探針法-にて簡単に導電素材のシート抵抗が測定できます。
4探針法を使用して、半導体や金属薄膜のシート抵抗、または、 抵抗率を簡単に高精度で測定することができるマニュアルタイプの 測定器です。 測定能力は1.000mΩ-cm 〜 500KΩ-cmの測定が可能です。
シグマ-5
4探針法を使用して、半導体や金属薄膜のシート抵抗、または、 抵抗率を簡単に高精度で測定することができるマニュアルタイプの 測定器です。 測定能力は1.000mΩ-cm 〜 500KΩ-cmの測定が可能です。
4探針法を使用して、半導体や金属薄膜のシート抵抗、または、 抵抗率を簡単に高精度で測定することができるマニュアルタイプの 測定器です。 測定能力は1.000mΩ-cm 〜 500KΩ-cmの測定が可能です。
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シリコンウェーハ等の抵抗率を正確に測定する ことができます。
精密は精密でも、他に無い「新技術」により生まれた「精密」さにこだわり、追求することがお客様へのご提供価値と考えます。