半導体デバイスの静電気放電に対する耐性評価の各種試験を行っております
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基本情報
【特徴】 ○適合規格 ・MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA ○仕様 ・最大テストピン数 256Ｐｉｎ ・最大印加電圧 ±4,000V ・DC供給電圧 ±30V 1A ○256pin以上でも対応可能 ●その他機能や詳細については、お問い合わせください。
価格情報
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納期
用途／実績例
【用途】 ○半導体デバイスの静電気放電に対する耐性を評価する各種試験
企業情報
宇宙・車載用途、民生から産業分野までお客様のご要求に高い技術力でサポートいたします。 【当社の特徴】 ・ISO/IEC17025試験所認定取得 ・信頼性試験～解析・分析まで一貫サポート ・リーズナブルな価格設定 ・スピード対応