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パルスIーL特性試験装置 MODEL:SEC-PL4000

最終更新日:2025年09月02日

システム技研株式会社
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レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定!

本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。 CWでは得る事のできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られたデータは、Windows上で表示されデータ処理されます。 LDヘッドには5.6Φ用及び3.3Φ用LDソケット4chが装備されていますので、測定するLDタイプ(5.6Φ又は3.3Φ)の素子に適合するソケットにLD素子を装着します。ソフトウエアの測定条件により、LDドライブ,PD受光信号をRF SWの操作で自動選択し、計測します。

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パルスIーL特性試験装置 MODEL:SEC-PL4000

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  • 関連リンク - http://www.systemg.co.jp/PL4000.htm
  • 特設サイト - 製品・サービス詳細 - https://pr.mono.ipros.com/systemg/product/

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基本情報

本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。 CWでは得る事のできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られたデータは、Windows上で表示されデータ処理されます。 LDヘッドには5.6Φ用及び3.3Φ用LDソケット4chが装備されていますので、測定するLDタイプ(5.6Φ又は3.3Φ)の素子に適合するソケットにLD素子を装着します。ソフトウエアの測定条件により、LDドライブ,PD受光信号をRF SWの操作で自動選択し、計測します。

価格情報

-

納期

~ 1ヶ月

用途/実績例

本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。

企業情報

システム技研株式会社

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私どもシステム技研株式会社は、総勢50名弱の研究開発型企業であり、一貫したユーザーファースト(顧客第一)の企業理念のもとお客様の様々なご要望にお応えするため、常に創意工夫と技術革新の弛まぬ努力を続けております。1969年創業以来先端デバイスの計測・評価システムを通じて先端技術の躍進に貢献致してまいりました。 近年はオプトエレクトロニクス分野のデバイス計測評価システムのパイオニアとして高い評価をいただいているものと自負しております。 皆様におかれましては、今後とも従来同様のご支援、ご鞭撻を心からお願い申し上げますとともにより多くの人の期待にお答えするシステム技研でありたいと考えております。

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