測定・分析の製品一覧

高性能かつシンプルなストリップマシン

その他加工機械

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【導入事例5選を収録！】バランサー　総合カタログ無料プレゼント

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株式会社パラマティック

【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！

その他搬送機械

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【医薬品向け】ELSZneo：製剤の安定性評価に

希薄系から濃厚系まで、医薬品製剤の粒子径・ゼータ電位を測定

その他計測・記録・測定器

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分光配光測定システム　GP series　　　

分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！　

分光分析装置

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紫外放射照度測定システム MCPD series　

紫外域でも高精度な測定を実現！

その他電子計測器
その他計測・記録・測定器
光源・照明

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全光束測定システム HM/FM series　　　

LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

分析機器・装置

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分光全放射束測定システム HM/FM series　

IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応

分光分析装置

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分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3　　

各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！　

膜厚計

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高速LED光学特性モニター LE Series　

光ファイバーにより自由な測定系が可能　LED生産工程での光学特性を高速で評価

LED照明
光源・照明
光学測定器

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インライン反射率評価システム　MCPD Series　

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

分光分析装置

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インライン膜厚評価システム　MCPD Series　　

光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

分光分析装置

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ロードポート対応膜厚測定システム　GS-300　

半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！

半導体検査/試験装置
膜厚計

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インライン透過率評価システム　MCPD Series　　

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

分光分析装置

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分光配光測定システム　Gp series

光源や照明器具の配光特性を測定する装置です　

分析機器・装置

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ラインスキャン膜厚計　オフライン（ウェーハ対応タイプ）　

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現！

膜厚計

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ラインスキャン膜厚計　オフラインタイプ　

全面を高速かつ高精度に膜厚測定可能！

膜厚計

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ラインスキャン膜厚計　インラインタイプ　