その他計測器の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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【エネルギー分野向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

薄膜の膜厚測定を1秒で！エネルギー分野の品質管理に貢献

膜厚計

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

【電子部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！電子部品の品質管理を加速

膜厚計

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【光学部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

コーティング膜厚測定を1秒で！光学部品の品質管理に貢献

膜厚計

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【半導体向け】顕微分光膜厚計 OPTM series

1ポイント1秒測定！半導体製造における膜厚測定を革新。

膜厚計

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【電子材料向け】ELSZneoによるデバイス性能評価

希薄系から濃厚系まで、高精度な粒子径・ゼータ電位測定でデバイス性能を向上

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【電池向け】ELSZneo：電極材料の粒子径・ゼータ電位測定

電極材料の品質管理に。粒子径、ゼータ電位、分子量を高精度測定。

その他計測・記録・測定器

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【セラミックス向け】ELSZneoによる焼結性評価

焼結体の品質向上に貢献する、粒子径・ゼータ電位測定システム

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【食品向け】ELSZneoによる乳化安定性評価

食品の品質と安全性を向上させる、粒子径・ゼータ電位測定システム

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム　ELSZneo

希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・粒子径分布・ゼータ電位測定　さらに固体表面、分子量の評価まで

その他計測・記録・測定器

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顕微分光膜厚計 OPTM series　

1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

膜厚計

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【医薬品向け】ELSZneo：製剤の安定性評価に

希薄系から濃厚系まで、医薬品製剤の粒子径・ゼータ電位を測定

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紫外放射照度測定システム MCPD series　

紫外域でも高精度な測定を実現！

その他電子計測器
その他計測・記録・測定器
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分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3　　

各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！　

膜厚計

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ロードポート対応膜厚測定システム　GS-300　

半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！

半導体検査/試験装置
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ラインスキャン膜厚計　オフライン（ウェーハ対応タイプ）　