検査機器・装置の製品一覧

  • 分類:検査機器・装置

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
  • ウエハー

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測定画像の自動保存、測定箇所・任意設定、多品種の製品に対応可能!

  • 外観検査装置

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円筒内画像検査により簡易方式で検出可能!液晶ガラスの内部欠陥を自動で検査!

  • その他検査機器・装置

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立体高倍率の観察により、精密部品のバリ、キズ、見逃しません!

  • 外観検査装置

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製造ライン投入型デジタル渦流探傷機器IS500

  • 欠陥検査装置
  • 探傷試験
  • その他検査機器・装置

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非破壊評価総合展の参加登録方法

非破壊評価総合展への参加登録は是非、以下のリンクからお願いします。 http://www.rohmann.co.jp/?p=981 上記リンクから登録してくださった方にはささやかながらブースにてノベルティを差し上げます。 特に気になる製品等がございましたら、事前にお問い合わせいただけますと 会場でより詳しいお話ができるかと存じますので是非ご検討のほどよろしくお願い致します。 当日にお会いできますことを楽しみにしております。

設計から製造、据付、既存の機械の改造も行います。

  • 機械設計
  • その他検査機器・装置
  • その他組立機械

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フレキシブルオプティカルテクノロジー非接触シャフト測定システム

  • プローブ

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小型な筐体で、シンプルかつ実用性に優れた高速測定が可能

  • その他検査機器・装置

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Admesy社製輝度・照度・フリッカー測定器Asteriaの製品情報を公開しました

Asteriaは、輝度・照度・フリッカーを高速に測定します。Admesy社は、以前から提供している超小型の色彩輝度計MSEをベースとして、よりシンプルで実用性に優れた高速測定が可能な装置として、Asteriaを新たに開発しました。Asteriaの測定速度・安定性・デザインは、インライン測定に最適です。

わずかなデバイスの位置ずれを防ぎ、高倍率顕微鏡を使った時でも操作性が向上

  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置
  • プローブ

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真空計の校正方法 JIS Z 8750 に準じた装置です。ご要望に応じて簡易型も製作可能です。

  • その他検査機器・装置

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400MHzの広帯域を実現!高い同相信号除去比も兼ね備えた差動プローブ

  • 電圧計
  • プローブ

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BumbleBee.JPG

【2015年1月20日】岩通計測が広帯域・高電圧差動プローブ『BumbleBee』を販売開始

当社は、ドイツPMK社製の広帯域・高電圧差動プローブ『BumbleBee』を発売致します。 発売開始は2015年1月20日から、出荷開始は同年3月中旬を予定しています。 価格は480,000円(税別)です。 当社では2004年からPMK社製の高電圧プローブを販売を開始しておりますが、 その中でも『BumbleBee』は、PMK社が最新の技術を投入して開発した製品で、 クラス最高の帯域と同相信号除去比を実現しています。 近年、パワー半導体は、SiC(炭化ケイ素)やGaN(窒化ガリウム)などを使用した デバイスの登場により、高周波・高耐圧化が進み、従来の差動プローブでは 測定が困難という状況が多くなってきました。 本装置は、それらの問題を高いレベルでクリアし、 400MHz帯域、最大2000Vの差動入力を実現して多くのユーザニーズに応えます。

製造ラインの全数検査に最適!わずかな消費電流まで測定する高精度検査機!

  • 基板検査装置
  • その他検査機器・装置
  • 試験機器・装置

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日本の自動化技術・金型技術を中国で実現します!

  • その他半導体製造装置
  • その他検査機器・装置
  • レーザーマーカー

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アウトガスの少ないコネクタです。

  • コネクタ
  • その他検査機器・装置
  • その他コネクタ

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缶からの液タレ、打痕キズ、ラベル位置ズレを自動で検査する装置です。

  • その他検査機器・装置

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