半導体・ICの製品一覧

電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました

電池・バッテリー
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オイルミストコレクター『ミストール』＜デモ受付中＞

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東洋空気調和株式会社

静電式により高い捕集率を実現。大型から小型まで豊富なラインアップを展開。水溶性オイルミストにも対応

空調

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【分析事例】STEM・EDXと像シミュレーション結晶構造評価

STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます

受託解析
磁石
メモリ

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【分析事例】分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜構造解析

シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です

受託解析
メモリ

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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価

試料断面における応力分布を確認することが可能です

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ウエハー

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【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

ppmオーダーの微量金属も評価可能です

受託解析
セラミックス
ウエハー

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【分析事例】グラフェンの官能基の評価

熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能

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トランジスタ
蓄電装置

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【分析事例】SiCディスクリートパッケージの非破壊3D構造観察

ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

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その他半導体

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【分析事例】SiCTrenchMOSFETトレンチ側壁の粗さ評価

デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価

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その他半導体

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【分析事例】ワイドギャップ半導体ドーパントサイト同定電子状態評価

ミクロな原子構造を計算シミュレーションによって評価可能

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その他半導体

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【分析事例】DRAMチップのTEM・SEMによる構造解析

製品内基板上DRAMのリバースエンジニアリング

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メモリ

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【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

受託解析
メモリ

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【分析事例】SiON極薄膜中の成分深さ方向分析

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

受託測定
トランジスタ
メモリ

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【分析事例】ウェハ上異物・付着物の無機・有機同時定性分析

微小特定箇所の無機成分・有機成分を同時に測定

受託測定
ウエハー
メモリ

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【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

デバイス内部の異常を非破壊で評価します

受託解析
その他電子部品
トランジスタ

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【分析事例】デバイスの金属膜中および界面における金属不純物の評価

めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。

ウエハー
受託測定
その他半導体

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【分析事例】ウェハ上パーティクルの組成分析