半導体・ICの製品一覧

  • 分類:半導体・IC

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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室温から-13°Cの強冷風!ご使用環境によりコンボタイプかセパレートタイプを選択可能!

  • 冷却装置

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2024/4/10(水)~2024/4/12(金)名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内

三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド(名古屋)に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時:2024/4/10~2024/4/12    開場:AM10:00~ 場所:名古屋ポートメッセ(第1展示会場) ※弊社ブース:19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。

熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能

  • 受託解析
  • トランジスタ
  • 蓄電装置

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ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

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  • サンプル全景.png
  • サンプル外観.png
  • X線透過像.png
  • 開封後のサンプル内部構造.png
  • 受託解析
  • その他半導体

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デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価

  • 受託解析
  • その他半導体

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金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

  • 受託解析
  • メモリ

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TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

  • img_C0264_2.jpg
  • img_C0264_3_HO-Si-O.jpg
  • img_C0264_4_O-Si-O-Si-O.jpg
  • img_C0264_5_Si-N-Si.jpg
  • img_C0264_6_Si-Si.jpg
  • 受託測定
  • トランジスタ
  • メモリ

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デバイス内部の異常を非破壊で評価します

  • 受託解析
  • その他電子部品
  • トランジスタ

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めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。

  • img_c0638_2.jpg
  • ウエハー
  • 受託測定
  • その他半導体

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SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析

  • img_C0736_2.jpg
  • 受託検査
  • ウエハー
  • その他半導体製造装置

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純水やウエハ洗浄液等、様々な溶液の高感度分析が可能です

  • 受託解析
  • ウエハー
  • 水質検査

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着目の成膜パラメータ(温度、圧力)にて多分子競合吸着性の評価が可能です

  • img_C0743_3.jpg
  • 受託解析
  • その他電子部品
  • メモリ

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  • 液晶ディスプレイ
  • その他機械要素

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