半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他安全・衛生用品

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鋼材の追求から、熱処理炉の温度管理、硬さ検査、組織検査、寸法検査など高精度の検査機器で測定し、企画をパスした製品のみをお届け!

  • その他検査機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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大阪 切削量産 旋盤加工・マシニング加工【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • CVD装置
  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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アルミ精密部品 半導体製造装置 【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • 半導体検査/試験装置
  • イオン注入装置
  • CMP装置

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アルミ精密部品 旋盤加工 マシニング加工【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • CVD装置
  • エッチング装置
  • 半導体検査/試験装置

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五面五軸加工 半導体製造装置部品【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • CVD装置
  • 半導体検査/試験装置
  • エッチング装置

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シリコンブロック内部異物検査装置

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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薄膜太陽電池パネル測定装置

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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結晶欠陥測定装置 (光散乱断層撮影式)

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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インライン型ウェハー測定モジュール

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、空乏層の容量評価、PN接合試料のシート抵抗を高速に測定!

  • その他検査機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔率・細孔分布測定装置

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  • その他計測・記録・測定器
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シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

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渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定

  • 半導体検査/試験装置
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u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります

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単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

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