半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
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電波遮蔽性能と遮音性能を併せ持つ防音シールドルームで、良好な検査環境を構築！
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【2013年6月4日】岩通計測が「スキャナーシステムCS-700シリーズ」を販売開始
岩通計測株式会社は、従来から発売する「半導体カーブトレーサCSシリーズ」の測定デバイスを自動的に切り替り替える「スキャナーシステムCS-700シリーズ」を発売します。 発売開始は2013年6月4日から、受注開始は即日を予定しており、価格は仕様により異なります。岩通計測は、CS-700シリーズを、向こう1年間に50台の販売を見込んでいます。 CS-700シリーズは、リレーユニットを組み合わせることで、さまざまなデバイスの自動測定に対応し、リレーユニット1台で最大10チャネルの信号切り替えが可能です。 また、CS-701を増設することにより、最大800台までのリレーユニット増設が可能です。これにより、極めてフレキシブルなシステムの構築が可能となりました。 更に、CS-810（半導体パラメータ測定ソフトウエア：CSシリーズ共通オプション）と組み合わせることで、デバイスの大量自動測定が可能になります。これにより、従来では測定のたびに必要だった結線作業が不要となり、実験、評価作業が大幅に改善されます。 詳しくはお問い合わせ、または資料をご覧ください。
高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コントロールが可能。JIS、MIL、IEC等の規格試験に対応。
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デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。
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ＲＯＭライターＩＣプログラマーで定評ある『台湾・リープ社』世界の主要半導体メーカーから認定を受けたICプログラマーのメーカーです
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