その他計測・記録・測定器の製品一覧
- 分類：その他計測・記録・測定器
7036～7050 件を表示 ／ 全 13051 件
【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
添加剤、洗浄剤、化学品、消臭・除菌剤類など製品企画から充填・加工・出荷までサポート！原料はあるが充填できる場所がないお悩みに
- そのほか消耗品
- 加工受託
点灯不良にお困りではないですか？確実に点灯させるための技術で解決いたします！
- その他機械要素
- その他計測・記録・測定器
日本ビュッヒ25周年記念「抽出装置更新キャンペーン」のご案内【2026年12月末まで】
2026年5月から2026年12月末の期間限定で、 抽出装置を特別価格でご購入いただけるキャンペーンを実施いたします。 手動ソックスレー抽出の場合8～16時間かかる抽出時間を、 自動化することで抽出～溶媒留去を40分まで時間短縮が可能です。 さらに、今なら装置1台につき溶媒容器を6個プレゼント！ ぜひこの機会にご検討ください。 装置のラインナップ、価格などの詳細は、下記関連資料よりダウンロードいただける キャンペーンフライヤーにてご覧いただけます。
日本ビュッヒ25周年記念「抽出装置更新キャンペーン」のご案内【2026年12月末まで】
2026年5月から2026年12月末の期間限定で、 抽出装置を特別価格でご購入いただけるキャンペーンを実施いたします。 手動ソックスレー抽出の場合8～16時間かかる抽出時間を、 自動化することで抽出～溶媒留去を40分まで時間短縮が可能です。 さらに、今なら装置1台につき溶媒容器を6個プレゼント！ ぜひこの機会にご検討ください。 装置のラインナップ、価格などの詳細は、下記関連資料よりダウンロードいただける キャンペーンフライヤーにてご覧いただけます。
ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応
- その他計測・記録・測定器
- センサ
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
高温環境での平坦度測定や製造工程中の異物検査、ボタン電池のエッジ形状検査、セパレーター厚みやコーティング厚みの測定等の実績豊富！
- その他計測・記録・測定器
XYステージ不要！分光干渉原理による厚みと距離（変位）測定が可能！ウエハ検査用途にも。
- その他検査機器・装置
- その他計測・記録・測定器
- スキャナ
振動の影響不要！環境に依存せず簡単な操作性を実現します！ウエハ検査用途にも。
- カラーカメラ
- その他検査機器・装置
- その他計測・記録・測定器
コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ検査用途にも。
- その他検査機器・装置
- その他計測・記録・測定器
- センサ
高分解能の形状測定を実現。センサプローブの種類が豊富。平坦度や厚みのインライン測定も可能。ウエハ検査用途にも。
- その他計測・記録・測定器
単3バッテリー3個で2～3年間動作可能！送信機から受信機間はメッシュネットワークで最大70m
- その他セキュリティ・監視システム
- その他計測・記録・測定器
多種多様な材料の厚み測定、広い測定レンジから加工中と加工前後を1台で対応！ウエハ検査用途にも。
- その他計測・記録・測定器
- センサ
