その他検査機器・装置の製品一覧
- 分類：その他検査機器・装置
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
2024/4/10（水）～2024/4/12（金）名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内
三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド（名古屋）に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時：2024/4/10～2024/4/12 開場：AM10:00~ 場所：名古屋ポートメッセ（第１展示会場） ※弊社ブース：19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。
薄板・多層材・高減衰材に対応した第3世代モデル、0.001mmの違いを確実に識別、最薄で0.1mmから測定
- その他検査機器・装置
- その他計測・記録・測定器
精密超音波厚さ計『PM4 Gen3』を2026年6月10日に販売開始
非破壊検査機器を販売する株式会社NDTアドヴァンスは、0.001mmの違いを識別できる新製品の精密超音波厚さ計『PM4 Gen3』の販売を、2026年6月10日に開始します。 『PM4 Gen3』は、薄板や加工部品の高精度測定に対応した精密超音波厚さ計です。上位モデルのPM5 Gen3と同じ200MHzの超高速サンプリングにより、0.001mmの違いを識別できる高い再現性と安定性を実現しました。鋼では0.13mm～28mmの測定に対応し、薄板・精密部品・小径配管などの精密な厚さ測定ニーズに応えます。 PM4 Gen3は、上位モデルPM5 Gen3からAスキャン機能や細かな測定パラメーター、複雑な測定モードを省き、簡単に高精度測定ができるよう設計されたシンプルな厚さ計です。PM5 Gen3が非破壊検査のプロフェッショナル向けに、多用途に対応できる各種機能や詳細なパラメーター設定を備えているのに対し、PM4 Gen3はパラメーター設定を最小限に抑え、扱いやすい操作性を重視しています。
かざした瞬間にワイヤーハーネスの線の色順を判定！画像処理により誤配線を検出し、ポカミスによる不良の流出を防ぎます。
- その他検査機器・装置
ワイヤーハーネス誤配線検査機『RakuiroChecker』をリリースしました
ワイヤーハーネスをかざした瞬間に線の色順を判定する検査機「RakuiroChecker」をリリースいたしました。ポカミスによる不良の流出を防ぎます。 【特徴】 ■画面内にハウジングと線が映れば、どこにあっても合否判定します。しかも判定にかかる時間は0.3秒。片手にワイヤーハーネスの束を持ちながら次々と検査を行うことができます。 ■独自のアルゴリズムによりハウジングの表と裏を学習し、ハウジングの表裏を同時判定します。ハーネスをカメラにかざす時にハウジングの表裏を気にする必要はありません。 ■周囲の明るさの変化をリアルタイムに検知して色判定の設定を自動調整します。そのため周囲の明るさ環境に影響されにくく、場所を選ばず使うことができます。 次世代の誤配線検査ツールとして、高速な画像処理、ハウジング表裏自動判定、かざすだけの簡単運用などの新しい機能を多数備えています。 多品種小ロットの製品が増える中、検査担当者の負担を減らして誤配線の流出を防ぎます。是非お役立てください。 ※製品の詳細は＜カタログをダウンロード＞より、すぐにご覧いただけます。 お問い合わせもお気軽にどうぞ。
7/24,28開催 Webセミナー 平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位測定・アプリケーションのご紹介
大塚電子のゼータ電位測定システム"ELSZシリーズ"では、溶液中のコロイド粒子のゼータ電位だけでなく、 平板状やフィルム状サンプルのゼータ電位も測定することが可能です。 この測定により、平板サンプルの表面改質状態や、液中粒子との吸着特性なども評価することが可能です。 本セミナーでは、そのアプリケーションについてご紹介します。 ※2025年9月放映のセミナーを講師の変更と一部内容を更新して配信いたします。
JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
7/24,28開催 Webセミナー 平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位測定・アプリケーションのご紹介
大塚電子のゼータ電位測定システム"ELSZシリーズ"では、溶液中のコロイド粒子のゼータ電位だけでなく、 平板状やフィルム状サンプルのゼータ電位も測定することが可能です。 この測定により、平板サンプルの表面改質状態や、液中粒子との吸着特性なども評価することが可能です。 本セミナーでは、そのアプリケーションについてご紹介します。 ※2025年9月放映のセミナーを講師の変更と一部内容を更新して配信いたします。
JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。