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安全柵　『SATECH』【低コスト＆スピード施工！】

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【分析事例】リチウムイオン二次電池

サンプル冷却でセパレータ断面形状を正確に評価

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【分析事例】食品中機能性成分濃度分析

赤ワイン中レスベラトロールの濃度評価事例

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【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

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【分析事例】SIMSによる有機EL素子中不純物の深さ方向分析

有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

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【分析事例】SIMSによるSiON膜の評価

膜厚1nm程度のSiON中Nの評価が可能

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【分析事例】SSDP-SIMSゲートから基板へのB突き抜け量評価

SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定

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【分析事例】素子分離領域の歪解析

NBD：Nano Beam Diffractionによる微小領域の歪解析

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【分析事例】SIMSによる極浅注入プロファイルの評価

極浅い領域においてもドーパント分布・接合の評価が可能

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【分析事例】SIMSによるUVセンサAlGaN中不純物濃度度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

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【分析事例】TOF-SIMSによるキトサンの分布評価

TOF-SIMSによる医薬品成分の可視化

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【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

TOF-SIMSによる高分子・樹脂･フィルムの表面改質層の最表面の評価が可能

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【分析事例】シリコン単結晶中の格子間原子濃度の定量

赤外吸収法により非破壊で格子間酸素・炭素濃度を定量

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【分析事例】CIGS粉体の組成・不純物分析

主成分および微量成分の定量分析が可能

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【分析事例】白色LEDのフォトルミネッセンス分析

白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認

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【分析事例】プラスチック容器の表面金属汚染評価

XRFによる高分子材料中不純物の組成・分布評価

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【分析事例】クレンジングオイルの洗浄効果評価

TOF-SIMSによる洗浄残渣の測定事例

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【分析事例】SIMSによるSiC中ドーパント元素の深さ方向分析1

SiC中B、Al、N、P、Asについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能

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【分析事例】SIMSによるSiCパワーMOSFETドーパント評価

イメージングSIMSにより、局在する元素の評価が可能

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【分析事例】SIMSによるSiC

イメージングSIMSにより、局在する元素の評価が可能です

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【分析事例】食品用の耐熱用PETボトルの積層構造分析

TOF-SIMSを用いてPETボトルの層ごとの成分を特定可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池　セパレータの評価

サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価

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【分析事例】シリコン(Si)酸化膜の状態評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

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【分析事例】アルミニウム(Al)表面のOHの分布、状態評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能

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【分析事例】SUS不動態皮膜深さ方向状態と酸化膜厚評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

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【分析事例】SIMSによるGaN系LED不純物の深さ方向濃度分析

目的に応じた分析条件で測定します

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【分析事例】SIMSによるNPT-IGBT中ドーパント調査

イメージングSIMSによって局在する元素の評価が可能

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【分析事例】パワーデバイスのドーパント・キャリア濃度分布の評価

複合解析で活性化率に関する評価が可能

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【分析事例】300mmウェハ最表面の異物の評価

異物検査装置との座標リンケージ機能で特定異物の評価が可能

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【分析事例】SiC基板のゲート酸化膜評価

膜厚・密度・結合状態を評価

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【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

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【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析

裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能

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【分析事例】はんだ合金中の添加物面内分布評価

ppmレベルの添加物の分布を高感度に評価可能

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【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析

化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

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【分析事例】食品中有害成分の濃度分析

乳幼児用粉ミルク中メラミンの濃度評価

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【分析事例】パフ表面の形状観察

パフ表面のデジタルマイクロスコープ観察

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【分析事例】SIMSによるSiC中ドーパント元素の深さ方向分析2

目的に応じた分析条件で測定します

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【分析事例】SAXSによる乳化剤の液晶構造・ミセルサイズ評価

ナノオーダーの構造解析・ナノ粒子サイズの評価が可能

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【分析事例】ヤムイモ中ジオスゲニンのLCMS分析

ジオスゲニン配糖体の定性・定量分析

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【分析事例】機能性成分グルコシルセラミドの分析評価

LC/MSによる定性分析、HPLCによる定量分析事例

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【分析事例】SiCパワーMOSFETの活性層複合評価

活性層の形状とドーパントを評価

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【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価

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【分析事例】シリコンウェハ上の汚染原因調査

手袋由来の汚染の評価

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【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析

フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価

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【分析事例】TOF-SIMS Siウエハ保管による表面汚染評価

フッ酸処理で酸化膜を除去したSiウエハの汚染・酸化の評価

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【分析事例】アルミホイル表面の成分分析

光沢面・つやなし面の違いを評価

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【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析

TOF-SIMSにより光学顕微鏡で見えないシミや洗浄残渣の分析が可能

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【分析事例】GCIBのSiO2中アルカリ金属深さ方向濃度分布評価

SiO2膜の不純物の評価

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【分析事例】錠剤における薬効成分の分布評価

主成分や添加物の分布が可視化できます

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電解液の溶媒及び添加剤の分析

製品からの電解液の抽出および成分評価

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【分析事例】LIB電解液の溶媒及び添加剤の特定・定量評価

電解液のサンプリングから定性・定量評価が可能

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【分析事例】食品用ラップフィルム表面の成分分析

TOF-SIMSを用いて加熱前後のラップフィルム表面の成分変化を分析

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【分析事例】FT-IRによるUV硬化樹脂の硬化度評価

官能基の変化を捉えることでUV硬化樹脂の硬化度を評価可能です

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【分析事例】DNA解析を利用した細菌の分析

サンプル中の細菌について、単離・培養せず、DNAから分析します

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【分析事例】粘着テープの残渣評価

TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します

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【分析事例】SIMSによる酸化物ReRAM動作領域の元素分布評価

酸化物デバイスにおける局所元素分布を酸素同位体を用いて高感度に評価

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【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

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【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析

熱分解GC/MSによる有機成分の同定

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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

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【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察