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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
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広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

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  • 分光分析装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

  • 光学顕微鏡

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傾斜モデルを用いたITOの構造解析

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  • 傾斜モデルを用いたITOの構造解析-2.jpg
  • 膜厚計
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

  • 反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定.jpg
  • 分析機器・装置

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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

  • 膜厚値違いによる反射率の変化.jpg
  • 分析機器・装置

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超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる

  • 高リタ1.gif
  • 高リタ2.gif
  • その他 計測・測定機器

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複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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アルミ材の切削加工になります。

  • 旋盤

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反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
  • 分析機器・装置

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屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

  • 屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析.jpg
  • 分析機器・装置

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手間なく(ワンタッチ)・簡単に(工具レス)・誰でも同じ力で強力固定。フラットバーやシャフトなどさまざまな対象物に使用可能!

  • ブレーキ

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反射分光法と他の測定手法の比較

  • 測定方法の比較.jpg
  • 分析機器・装置

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傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

  • 傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析.jpg
  • 分析機器・装置

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光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理

  • 膜厚原理.jpg
  • 分析機器・装置

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粒子径が異なるポリスチレンラテックスの粒子濃度測定

  • 粒子径が異なるポリスチレンラテックスの粒子濃度.jpg
  • その他理化学機器

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後方・側方・前方の3角度での動的光散乱測定で分離能を向上

  • 多角度粒子径測定.jpg
  • その他理化学機器

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毎日使うものだから、よいものを少しでも安く提供したい

  • 鉄鋼

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コロイド分散系における無機粒子のpHタイトレーションによる等電点の評価

  • 無機粒子のpH変化による等電点の評価.jpg
  • 分析機器・装置

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高濃度試料のゼータ電位・粒子径測定による分散安定性評価

  • 住宅_プリンタ用インクのゼータ電位・粒子径測定1_1.jpg
  • 住宅_プリンタ用インクのゼータ電位・粒子径測定1_2 - コピー.jpg
  • その他理化学機器

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MEMS加速度計搭載、IP67の傾斜計で船体の安定をサポート

  • その他計測・記録・測定器

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MEMS加速度計搭載、IP67の傾斜計。地盤監視の安全性を向上。

  • その他計測・記録・測定器

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価

  • 生理食塩水に分散させたリポソームのpHタイトレーション測定.jpg
  • 分析機器・装置

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粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価

  • 各種リポソームの粒子径分布.jpg
  • 分析機器・装置
  • その他検査機器・装置

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研磨パッドの表面ゼータ電位測定

  • 各pHにおける研磨パッドの表面ゼータ電位測定結果.jpg
  • その他理化学機器
  • その他検査機器・装置

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CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価

  • 各砥粒のpHタイトレーション結果.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価

  • 各NaCl濃度におけるSIO2のゼータ電位.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

  • スラリーとウェーハのpHによるゼータ電位変化.jpg
  • 分析機器・装置

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ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてCMPスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の評価

  • CMPスラリーの界面活性剤添加のゼータ電位・粒子径.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞評価

  • 最近から生産された細胞外膜小胞.jpg
  • C2C12myoblastとmyofiberの粒子径分布.jpg
  • 光散乱光度計
  • 表面電位測定

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ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

  • C2C12myoblastとmyofiberの粒子径分布.jpg
  • 光散乱光度計
  • 分析機器・装置

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nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価し、エネルギー材料の品質向上に貢献。

  • 光学顕微鏡

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細胞培養における異物や欠陥を可視化し、培養環境を最適化

  • 光学顕微鏡

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BCPは「保有」から「説明できる運用」へ。継続して動かせる状態にすることが本質的な価値です

  • その他

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  • 光学顕微鏡

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nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価!化粧品の品質管理に貢献

  • 光学顕微鏡

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持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置!サンプルを傷つけずに測定

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  • 膜厚計

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

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ステンレス材の切削加工になります。

  • 旋盤

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  • 膜厚計

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