テスタのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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テスタ - メーカー・企業333社の製品一覧とランキング | イプロスものづくり

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テスタのメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社フクダ 東京都/試験・分析・測定
  2. タカヤ株式会社 岡山県/産業用電気機器
  3. 株式会社コスモ計器 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 株式会社ナック 東京都/産業用電気機器
  5. 5 株式会社東洋精機製作所 東京都/試験・分析・測定

テスタの製品ランキング

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  1. カーバッテリー診断トラブル 原因と回避策を解説した漫画資料 大作商事株式会社 インダストリアルプロダクト事業部
  2. 万能型ボンドテスター 4000Plus Nordson製 日精株式会社 本社
  3. フロースタンダード|FFM series (基準器・較正器) 株式会社フクダ
  4. 4 「総合製品案内」「技術資料」/ フクダのリークテスト 株式会社フクダ
  5. 5 【インサーキットテストの基礎知識】インサーキットテスタとは? タカヤ株式会社

テスタの製品一覧

661~690 件を表示 / 全 1227 件

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【レンタルサービス】気密検査用エアリークテスタ 他

必要な時に必要な期間だけ!お客様のニーズに応えたレンタルサービス開始

今だけ実施したい検査などありませんか? そんなお客様のニーズに応えたレンタルサービスを開始しました。 自動開閉チャンバー「土壌呼吸サンプリングチャンバー」をはじめ、 気密検査用「エアリークテスタ」をラインアップ。 必要な時に、必要な期間だけご利用いただけます。 【特長(エアリークテスタ)】 ■ワーク内には浄化したクリーンエアを供給して気密検査が可能 ■ワークシール冶具もワークにあった好適なものを提供 ■検査スペックにマッチした気密検査装置の提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • 土壌検査
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大型電池用二次電池寿命・容量テスター 『BTA-24V-12A』

大電流対応の二次電池テスター。大型電池の充放電検査が出来ます。

電動自転車や伝道工具などの大型電池に使用されている各種二次電池の電池寿命を短時間で計測し良否判定を行う寿命・容量テスターです。 ・充電試験、放電試験等の各種試験を行い、良否判定を行います。 ・本体にCPUを搭載していますので、各種試験条件の設定等が容易にできます。 ・大型液晶表示器を採用していますので測定時の波形や計測データがとても見やすい。 ・プリンタを内蔵しており、その場で試験結果を残せます。 ・本体内部に電池の品種を240種も登録でき、品種選択が簡単に行えます。

  • その他計測・記録・測定器
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タカヤ株式会社 主要4事業のご紹介

シナジーを生む4つの事業フィールド

様々な産業、生産現場からの多様なニーズに「ものづくり力」で的確に応えるタカヤ。4つの事業分野での経験と実績、技術と人がシナジー効果を発揮してさらなる成長力を生み出します。 【産業機器事業】 ・インサーキットテスタ(フライングプローブテスタ)の開発、製造 ・グローバル販売、サービス網 ・フライングプローブテスタは世界トップシェア ・プリント基板検査技術 ・30年を超える販売実績 【EMS事業】 ・設計、調達、生産、受託サービス ・量産設計技術サービス ・無線モジュール利用のご提案 ・最適生産地のご提案(日本、中国、タイ) ・豊富な経験と実績 【RF事業】 ・HF帯RFIDリーダライタの開発、製造、販売 ・ストアセキュリティ製品の製造、開発、販売 ・無線応用製品のOEM受託 ・RF回路、アンテナ設計技術 ・各国電波規格認定 【ITソリューション事業】 ・ITコンサルティングサービス ・受託開発サービス ・RFソリューションサービス ・システムサポートサービス ・ソフトウェア製品販売

  • 基板検査装置
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公益財団法人タカヤ文化財団 華鴒大塚美術館 のご紹介

人々の琴線に触れる美術館でありたい。小さくてもいい、宵の明星のように何かキラリと人の心に残るものの感じられる美術館 ———

華鴒(はなとり)大塚美術館は、タカヤグループが創業百周年を記念し、メセナ活動を通じて地域の芸術文化の発展と蓄積に寄与しようと、平成4年に財団法人タカヤ文化財団を設立、平成6年6月に開館いたしました。 広島県神辺町出身の日本画家・金島桂華の作品約270点(素描を含む)を主体に、横山大観、橋本関雪、児玉希望、前田清邨、池田遙邨、梅原龍三郎など近現代の日本画壇・洋画壇を代表する作家の作品約500点を所蔵しています。

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ICのリード浮き、BGAのボール浮きを電気的に検出しませんか?

TAKAYA独自のICオープンテストシステム

※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ TAKAYAのフライングプローブテスタには、独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。 IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、BGAのボール浮き不良を電気的に検出が可能です。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

  • 基板検査装置
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欧州業界紙 PRODUCTRONIC にて紹介いただきました!!

46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数!!世界で高評価を得ているタカヤのフライングプローブテスタです。

欧州で発行されている実装業界の情報誌「PRODUCTRONIC 2021」2月号に、大手センサーメーカーでの弊社テスタ導入記事を掲載いただきました。 こちらのメーカーでは、年間約1,000万枚のプリント基板と8億個の部品を取り扱っており、タカヤのフライングプローブテスタを約20年前からご使用いただいています。今回は、最新モデルのAPT-1600FDシリーズを導入いただいた際のコメントです。 基板実装工程の後に直接でインサーキットテストを実施されており、エラーを非常に早く、確実に検出することができる点、また、開発中にアセンブリの内容が変更されても、プログラムの修正だけで簡単に検査を変更することができる点で高評価を頂きました。 治具作成が不要になることで費用対効果も高まるとともに、治具式テスタ使用時にに比べて、約2~2.5倍の検査速度を実現されたとのことです。 日本のみならず、世界各国のあらゆる企業・業界で認められたタカヤのフライングプローブテスタを是非、ご活用ください。 *詳細情報は、下記関連リンクページをご覧ください。

  • 基板検査装置
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世界が認めた、タカヤのフライングプローブテスタ。その理由とは?

信頼と革新で世界46か国以上が導入。少量試作から量産まで、あらゆる現場に応える検査のベストパートナー。

業界をリードするノウハウ タカヤは、少量試作から量産まで対応可能な柔軟な検査システムを確立。長年にわたる経験と実績により、あらゆる基板検査において高精度かつ低コストを実現しています。 進化し続けるイノベーション 常に時代のニーズを先取りし、検査スピードの向上や新たな検査領域の開拓に挑戦。高品質・技術革新・柔軟性を兼ね備えた製品開発で、変化の激しい業界を支えています。 信頼の“Made in Japan”品質 すべての装置は日本国内で製造。厳格な品質管理のもと、長期間にわたる精度と安定性を維持し、航空宇宙・医療・自動車など高信頼性が求められる分野でも活躍しています。 グローバル対応のサポート体制 設置からトレーニング、定期メンテナンス、検査プログラム作成まで、専門スタッフが一貫してサポート。お客様の検査パートナーとして、世界中の製造現場を支えています。 導入実績:世界46か国以上 タカヤのフライングプローブテスタは、アジア・欧州・北米をはじめとする世界46か国以上で導入。その信頼性と柔軟性が、グローバル企業から選ばれる理由です。

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インサーキットテスト最速!フライングプローブテスタの導入効果

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。その導入効果を紹介します。

■ 品質の向上 外観検査やファンクション検査では検出が難しい不良を検出し、テスト結果と集計データから実装工程全体の品質を改善できます。微小チップ部品やファインピッチIC/コネクタにもピンコンタクト可能ですので、高密度基板の検査でも、治具検査に比べて検出率が大幅に向上します。 ■ 検査コスト削減 高額な専用検査治具を必要とせず、試作基板や少量/中量生産基板において大幅に検査コストを削減します。設計変更があった際にも、治具の改造費用は不要です。 ■ 不良解析時間の短縮 不良箇所が特定できるため(基板画像に不良箇所を表示)、不良解析や部品交換作業が容易になり、修理時間を大幅に短縮します。 ■ トレーサビリティ管理 部品の測定値や検査日時などを基板検査毎に保存し、品質管理の資料として手軽に検索や編集ができます。 ■ ライン稼働時間の短縮 量産開始までの待ち時間を大幅に短縮し、実装工程の稼働率を向上します。LCRメーター測定や目視検査によるオペレーターの負担を軽減し、ヒューマンエラーを排除します。 より詳しい情報については営業担当までお問い合わせください。

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タカヤ独自の4ヘッド&6フライングプローブシステム(垂直降下)

タカヤフライングプローブテスタ独自のシステムで不良検出能力を拡大!!

本システムによって、標準4本の傾斜プローブに、2本の垂直プローブを追加することで、高い部品の間にあるコンタクトポイントや、ビア・スルーホール・上向きコネクタなど、従来アクセスできなかったポイントへのコンタクトが可能となり、不良検出能力をより高められます。 検査対象の形状に合わせ、最適なコンタクト方法を選定できるよう、先端形状の異なるプローブを数種類用意しています。 さらに、2種類の異なる垂直プローブを、検査プログラムに合わせ自動的に切り替えるデュアルZ軸オプションを追加することで、手作業によるプローブ交換が不要となり、効率的な検査を行うことも可能です。

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【導入事例】初回確認、ライン切り替え時の確認検査

両面テープを貼付した試し打ち基板や、実装スタート直後の実装基板初回検査を自動化できます

プリント基板の部品実装工程において、機種切り替え時のマウンタ装置における部品セット間違い/実装プログラム間違いによるミスは、発見が遅れるとロット単位での不良(ロットアウト)となり、大損失につながります。 この様なミスを防ぐために、両面テープを貼ったベアボードの上に部品を仮実装し、一つ一つをLCRメータで測定/目視照合検査をされるケースがあります。 この検査は「一号機チェック」「段取り替えチェック」「試し打ち検査」と呼ばれますが、検査が終わるまではライン停止させなければならず時間がかかるため、ライン稼働率が下がる要因となってしまいます。 また、高密度に実装された基板上で、細かい部品をすべて手作業確認する場合、人的ミスを完全に無くすことは難しいです。 弊社では、この作業をより簡単かつ楽に行っていただける方法として、フライングプローブテスタによる自動検査をおすすめしております。ライン切り替え後の確認作業を正確かつ短時間に行うことが可能です。 実装機の切り替え時間短縮による稼働率向上・人件費の削減・不良品発生リスク低減を考えられているお客様はぜひ導入をご検討ください。

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【展示会】第37回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【出展パネル公開】超高速検査で実装基板の不良を検出するフライングプローブテスタ(基板検査装置)・業務改革に貢献するRFID製品

2023年1月25日(水)~27日(金)に 東京ビッグサイトで開催されました「第37回 インターネプコン ジャパン」にて、弊社ブースにお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 今回出展製品の資料・展示パネルを公開しております。期間中 会場にお越しいただけなかった方も、当ページより登録いただければ資料を閲覧頂けますので是非、ご活用ください。 今回、産業機器事業部では アンドールシステムサポート株式会社様の共同で、フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストのデモを実施したこともあり、大変多くのお客様にご興味を持っていただくことができたことを嬉しく思っております。 また、今回が初となる産業機器事業部・RF事業部のコラボ出展で、たくさんの方々に弊社製品を知っていただけたのではないかと思います。 今後もタカヤ株式会社はお客様のご期待に応えられるよう、精一杯努力してまいります。これからもご愛顧賜りますよう何卒よろしくお願い申し上げます。

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フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承ります

最大30kgの大型重量基板を自動搬送できるオリジナルのユニットを製作。特殊仕様の製作もお任せください。

タカヤでは、お客様の多様なニーズにお応えするため フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承っております。 一例ですが「最大30kgの大型・重量基板を自動搬送したい」というご要望にお応えするため 専用の自動搬送ユニットを製作致しました。 人力では持ち運び困難な非常に重たい基板も 安全・正確にハンドリング頂けます。 また、インサーキットテストと並行して特殊な検査を行うため テスタ本体内に特殊検査装置を納めるスペースを設けるなど、 柔軟なカスタマイズを行うことが可能です。 標準規格に収まらないような特殊製品の検査でも、カスタム対応で解決させていただきます。 まずは一度、営業担当までご相談ください。

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深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化

愛媛大学様との共同研究レポートを発表しました。

タカヤ株式会社は、愛媛大学 大学院 理工学研究科様と、深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化に関する共同研究を行っております。 2023年5月31日(水)~6月2日(金) 東京ビッグサイトにて開催された JPCA Show 2023 / 2023 マイクロエレクトロニクスショー の 愛媛大学大学院様ブースにて、当研究のレポートを掲示・ご紹介いただきました。 当日、展示していたレポートをこちらよりダウンロードの上、閲覧いただけます。皆様是非ご覧ください。

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【動画】HF帯RFID規格の違いについて

【RFIDの基礎知識】RFIDリーダライタとは?RFID規格の違いについて

Youtube動画をご覧ください。 HF帯RFID規格の違いについて 規格概要 ISO/IEC15693、ISO/IEC14443、ISO/IEC18092、 ISO/IEC18000-3

  • ICタグリーダ・ライタ
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【国際標準規格】OPC UA対応 MESシステムとの連携機能

【1/24~ ネプコン2024出展!】産業用機器とMESシステムとの相互接続性を実現!

OPC UA(OPC Unified Architecture)は 産業オートメーションなどの業界で、安全で信頼性あるデータ交換を行うために策定されたオープンな国際標準規格です。OPC Foundationが2008年に発表、その後IEC62541として国際標準化されました。機器の種類・OS・メーカーなどの垣根を越えて、セキュリティが確保された信頼性の高いデータ交換が行えることから、Industrie4.0の標準通信として推奨され、世界中で普及が広まりつつあります。また、PLCの国際標準 IEC61131-3と整合されており、製造現場の情報を上位の監視制御システムや生産管理システム(MES:Manufacturing Execution System)と高い信頼性でやりとりできる強みがあります。 この流れを受け、タカヤではフライングプローブテスタ APTシリーズにOPC UAサーバを搭載できるオプションをご用意しました。FA機器とITの橋渡しをする産業IoT標準の普及に努めています。

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2025年卒業予定者就職希望「岡山の人気企業」にランクイン!

総合ランキング20位、男性ランキング10位になりました。

株式会社ビザビ(本社:岡山市北区)様が 来春(2025年3月)卒業予定の 大学院生・大学生・短期大学生・専門学校生を対象に、 『岡山で就職を希望する企業3 社とその投票理由について』の アンケート調査を実施・結果が公開されました。 結果、タカヤ株式会社は 総合ランキングで20位、男性ランキングで10位 となりました! 昨年までと比較し、大きく順位アップしております。 タカヤをご評価いただいた皆様、ありがとうございました。 詳細は、ビザビ様ホームページのニュースリリースをご覧ください。 https://www.vis-a-vis.co.jp/news/index.cgi?c=zoom&id=6

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MES2024 に企業ブースを出展します

ES2024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウムに企業ブース出展します!

タカヤ株式会社は、2024年9 月11日(水)~13 日(金)の3日間、名古屋市南区の大同大学滝春キャンパスにて開催されます『MES024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウム』に企業展示ブースを出展します。同シンポジウムにご来場の際は 是非、タカヤのブースまでお越しください。 運営事務局 (一社)エレクトロニクス実装学会 〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL: 03-5310-2010 詳細および最新情報は MES2024 ホームページをご覧ください。

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タカヤグループは創業130周年を迎えました。

おかげさまで、タカヤグループは創業130周年を迎えました。

これもひとえに皆様方のこれまでのご支援とご厚情の賜物と深く感謝申し上げます。 今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、どうぞよろしくお願い申し上げます。 周年記念として、記念誌とヒストリー動画を制作しましたので、宜しければご覧ください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F-SL

高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献!

APT-2400F-SL は、APT-2400F の基本性能をそのままに、対応基板サイズを W635×D610mmまで拡大した大型モデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ 上面60mm/下面120mm、基板重量15kgまで対応できますので、 車載/航空機/医療機器/電源基板/プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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【導入事例】半導体製造装置における高密度基板検査

半導体製造装置における高密度基板検査工程に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

IEC60384-1に準拠した高精度な検査が可能です。固定コンデンサなど電子部品の特性を国際基準で保証し、高密度基板の品質向上を実現します。設計変更やプロトタイプにも柔軟に対応し、コスト効率の高い検査ソリューションを提供します。 【導入実績】 ・高密度実装基板の検査を実施し、精密な基板に対応した品質保証を実現。 ・IEC60384-1規格(固定コンデンサの性能基準)に準拠した検査を可能とし、国際基準に対応した製品品質を保証。 【お客様の課題】 部品間ピッチの狭さ: 高密度基板では部品間のスペースが極めて狭く、従来の治具式検査では物理的な接触が困難。 特に0.2mm以下の狭ピッチ部分や高ピン数の部品で、検査精度が低下する可能性。 規格対応の必要性: IEC60384-1に代表される国際規格への対応が求められる中、規格に基づいた検査項目を確実に実施する体制が必要。 特に固定コンデンサや特殊部品の特性測定が精密かつ迅速に行えることが求められる。 検査カバレッジの限界: 特にテストポイントが減少した設計では、物理的なアクセス不足により、検査カバレッジが低下するリスク。

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【導入事例】通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査

通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

通信インフラやサーバー向けの大型基板検査では、治具レス検査が特に有効です。基板サイズが大きくても効率的に対応でき、柔軟性と精度を兼ね備えた検査手法が品質向上とコスト削減に寄与します。これにより、通信インフラやサーバー分野での信頼性確保に大きく貢献します。 【導入実績】 ・大型基板特有の品質要求に応じた検査技術を確立。 ・通信インフラ機器やサーバー向け製品で使用される高精度な基板の信頼性を保証。 【お客様がかかえられていた課題】 大型基板の取り扱い: 治具式テスタでは、サイズが大きい基板に対応する治具の設計・製作が困難。 重量や取り回しの制約から、段取り時間が長くなる。 設計変更への対応: 大型基板ではテストポイントの数が多く、設計変更時に治具の修正コストが増大。 検査工程の柔軟性が低いため、少量多品種の製造に適していない。 コストと保管スペース: 大型基板用の治具は製作コストが高く、保管スペースを圧迫。 複数の製品ラインを運用する場合、治具の管理が複雑化。

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【導入事例】発電・電力システム向け基板検査

発電・電力システム向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

AOIでは検査が難しいディスクリート部品や手挿入部品に対し、APTを活用した電気的検査を組み合わせることで、発電・電力システム基板に求められる高い品質基準を実現し、効率的な検査体制を提供します。 【導入実績】 ・ディスクリート部品を中心とした実装確認を実施し、高信頼性を要求される電力システム基板の品質保証を達成。 ・電源ラインや手挿入部品を含む基板での全数検査を実現。 【お客様がかかえられていた課題】 AOIでの検査限界: AOI(外観検査装置)は、表面実装部品の検査には優れるものの、以下の点で限界がある: 手挿入部品の検査が困難: 電源ラインや大型ディスクリート部品の実装品質を十分に検証できない。 部品の位置や極性の確認不足: AOIでは正確な電気特性を確認できないため、誤挿入や極性不良が見逃されるリスク。 電源通電時のリスク: 電源ラインの不良部品や誤配線が、基板の破損や部品破壊につながる可能性。 特にディスクリート部品の品質保証が不十分な場合、発熱や短絡のリスクが高まる。 廃棄基板の発生: 通電テストで基板が破損した場合、不良基板の廃棄が発生し、コストが増加。

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【導入事例】コンシューマー製品向け基板検査

コンシューマー製品向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

コンシューマー製品向け基板の量産工程では、実装前にチップ部品の定数検査とマウンタプログラムの確認を行うことで、ロットアウトや不良品流出を防止し、製造工程の効率化と品質向上を両立します。 【導入実績】 ・量産型高密度実装基板の機種切り替え工程において、マウンタのプログラム確認やチップ部品の定数検査を実施。 ・短時間かつ高精度な検査により、製造工程の効率化を実現。 【お客様がかかえられていた課題】 部品セットミス: 実装工程での部品セットミスや、指定外の部品が装着されるリスク。 特に量産型ではミスの発見が遅れると、大量のロットアウトが発生。 プログラムミス: マウンタのプログラム設定ミスにより、誤った部品が基板に装着される可能性。 設定ミスが後工程で発見された場合、再作業や廃棄コストが増大。 目視検査の限界: 手作業や目視による確認は、作業者のスキルや疲労に依存し、検査漏れや誤検知が発生しやすい。

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【導入事例】自動車基板、車載基板の不良解析

自動車基板、車載基板の不良解析に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

自動車基板の不良解析では、フライングプローブテスタを活用することで、不良箇所の迅速な特定と、修理可能性の向上を実現します。解析時間短縮と廃棄基板削減により、品質向上とコスト効率の両立を図り、自動車産業における信頼性向上に寄与します。 【導入実績】 ・ファンクションテストで不良と判定された基板や、市場から故障で返却された基板の不良箇所を解析。 ・短時間での原因特定により、製品改善と不良削減に貢献。 【お客様がかかえられていた課題】 高度な知識が必要: 不良解析では、回路設計、実装技術、動作特性の知識が求められる。 複雑な自動車用基板では、原因が多岐にわたるため、解析が難航する場合がある。 解析時間の長期化: 手動での解析や目視による確認は、時間がかかり、不良箇所を特定できないこともある。 特に多層基板では内部接続不良や微細短絡の検出が難しい。 廃棄基板の発生: 不良箇所が特定できない場合、基板全体を廃棄せざるを得ず、コストが増加。

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【導入事例】航空宇宙・防衛分野向け基板検査

航空宇宙・防衛分野向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。

航空宇宙・防衛分野では、高い品質基準が求められる中、フライングプローブテスタを活用することで、少量生産基板の検査が効率化されます。治具不要の柔軟な検査フローにより、短納期対応やトレーサビリティの確保が可能になり、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・少量生産基板の全数検査を実施し、高信頼性を求められる製品の品質保証を達成。 ・高精度な検査フローにより、航空宇宙や防衛分野特有の厳しい要求に対応。 【お客様がかかえられていた課題】 治具作成の負担: 治具式テスタでは、基板ごとに専用治具が必要となり、少量生産ではコストが過大。 治具の設計・製作に時間がかかり、短納期での対応が難しい。 不良検知の難易度: AOIやファンクションテストのみでは検出が困難な微細な不良(隠れたショート、内部配線不良)が見逃されるリスク。 特に多層基板では、外観検査や通常の通電試験では品質保証が不十分。 トレーサビリティの要求: 航空宇宙・防衛製品では、測定結果や検査データを詳細に記録し、将来的なトレーサビリティを確保する必要がある。

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【展示会】第39回 ネプコンジャパンに出展しました。

フライングプローブテスタの新モデルを国内初出展!

タカヤ株式会社は 2025年1月22日(水)~ 24日(金) 東京ビッグサイトで開催される「第39回 インターネプコン ジャパン エレクトロニクス製造・実装展」 に出展しました。 出展製品 産業機器事業部 ○フライングプローブテスタ  ・新モデル「APT-2600FD-A」*国内初出展 RF事業部/ソリューション事業部 ○RFID製品 ・RFID × IoTプラットフォーム ・RFID常時監視ミドルウェア ・RFID持出管理システム ・RFID入出庫プラグインパッケージ 弊社ブースにお立ち寄りいただいたお客様、誠にありがとうございました。出展製品に対して、ご質問などありましたら遠慮なくお問い合わせください。

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第39回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会 企業ブース出展

第39回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 に企業ブースを出展します。(拓殖大学 文京キャンパス)

タカヤ株式会社は、2025年3月11日(火)~13日(木)の3日間、拓殖大学 文京キャンパスにて開催されます 第39回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 に企業ブースを出展します。 本大会は、一般社団法人エレクトロニクス実装学会様 運営の元 エレクトロニクス実装技術に関する最新の研究開発成果を互いに発表し、情報交換をする場として 毎年開催されております。 2023年より 現地参加とオンライン聴講のハイブリッド開催を実施されており、産学のエレクトロニクス実装技術関係者を中心に、約700名 の方が集います。 ご来場の際は 是非、タカヤのブースまでお越しください。(聴講には申込登録、参加費の支払いが必要です。)

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2025年度 エレクトロニクス実装学会「技術賞」を受賞しました。

-プリント回路基板実装業界での検査手法革新と生産性向上への貢献、国際的な実績が評価-

タカヤ株式会社(本社:岡山県井原市井原町661-1 代表取締役社長:岡本 龍二)のフライングプローブテスタが、一般社団法人エレクトロニクス実装学会(以下、「JIEP」)が顕彰する「技術賞」を受賞しました。同賞は、JIEPが実装技術の発展・教育などに関する業績や貢献を顕彰する賞の一つで、主に エレクトロニクス実装技術の発展に顕著に寄与した技術に対して授与される賞です。 このたび、当社のフライングプローブテスタが「技術賞」という栄誉ある賞をいただけたことを、社員一同、心より光栄に存じます。本技術の開発に携わったすべての関係者の努力と情熱、そして日頃よりご支援いただいているお客様・パートナーの皆様に深く感謝申し上げます。 タカヤ株式会社は、今後も「ものづくりの現場に革新をもたらす技術」を追求し、エレクトロニクス実装分野のさらなる発展に貢献してまいります。

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「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」を受賞しました。

業界の未来を見据えた設計思想が高く評価、名誉あるデザイン賞を獲得

日刊工業新聞社が主催する「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」において デュアルサイドフライングプローブテスタ「APT-2600FD」が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞しました。 デュアルサイドフライングプローブテスタ「APT-2600FD」は、プリント配線基板の導通や抵抗値などを高精度に検査するインサーキットテスタです。高速駆動する接触プローブを用いた「フライングプローブ式」テスト技術は、タカヤが世界で初めて開発したもので、現在も世界トップクラスのシェアを誇っています。 本製品は10年ぶりのモデルチェンジを経て、基板の損傷を防ぐ高度な制御機能や、高解像度の画像検査システムなど、最新技術を多数搭載。検査精度と作業効率の両立を実現し、電子機器製造現場における品質保証の新たなスタンダードを築いています。 このたびの受賞は、当社の技術力と製品デザインが高く評価された証であり、今後のさらなる技術革新への大きな励みとなります。 本製品の開発・製造・導入にご尽力いただいたすべての関係者の皆様、そして本賞の審査にあたり貴重なご意見とご評価を賜りました審査員の皆様に、心より御礼申し上げます。

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【新モデル】フライングプローブテスタ APT-T400J

【新製品情報】高速・高精度・低コストを実現する新型フライングプローブテスタ「APT-T400Jシリーズ」登場!

タカヤ株式会社は、実装基板の様々な不良を確実に検出する超高速検査を可能にする新モデル「APT-T400Jシリーズ」を発表しました。本モデルは、これまでの高精度なプロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデルです。多様化する製造現場のニーズに応えるべく、検査の信頼性と効率を高める各種技術を搭載しています。 電子機器の高密度化・多機能化が進む中、実装基板の検査には従来以上の精度と信頼性が求められています。一方で、製造現場では人手不足やコスト削減といった課題が顕在化し、高性能でありながら導入しやすい検査装置へのニーズが急速に高まっています。こうした状況を踏まえ、タカヤは長年培ってきたフライングプローブテスト技術をベースに、より幅広い現場で活用できるスタンダードモデルとして 「APT-T400Jシリーズ」 を開発しました。検査品質を妥協することなく、導入のハードルを下げることで、より幅広い製造現場の課題解決に貢献します。

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