Last Updated： Aggregation Period:2025年08月20日～2025年09月16日
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材料由来の不具合の原因分析、材料開発。ナノレベルの構造／表面分析によりサポートします
故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであっても、ユーロフィンFQLはそれを追求します。 透過型電子顕微鏡をはじめ、原子数個の大きさを調べる分析装置と材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援。 “製品や部品に付着した異物の正体を特定したいが、方法がわからない”などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【特長】 ■故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであってもそれを追求 ■透過型電子顕微鏡をはじめ原子数個の大きさを調べる分析装置と 材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援
シンプルな流路構成！装置内部で解析・演算、測定結果の表示・プリントアウトまで自動で行います
『SU-300』は、単糖類、2糖類、糖アルコールを簡単に分析することができる 糖濃度分析計です。 パルスドアンペロメトリ法の採用により糖類を選択的に検出することが可能。 サンプル中の共存成分による影響を受けにくいため、希釈など簡単な 前処理を行うのみで注入が可能です。 また、アルカリ溶液を直接流せるカラムと検出器を採用し、分離と検出を 容易に行わせることができます。 【特長】 ■5項目の糖類とエタノール、または7項目の糖アルコールを同時分析 ■簡単な前処理 ■シンプルな流路構成 ■パソコン不要(装置内部で自動解析・演算) ■簡単メンテナンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
30以上の疾病リスクをスクリーニングする国内唯一の腸内細菌叢の検査・分析サービス
『SYMGRAM』は、腸内細菌叢の検査結果から被検者様の疾病リスクを 分析する画期的な機能を実現した腸内細菌叢検査・分析サービスです。 医師による疾病の診断、予防・改善のための生活習慣指導等を強力にサポート。 次世代シーケンサーを用いた腸内細菌叢の解析結果はもとより、 その解析結果から被検者の疾病リスクを推定した結果や リスクの高い疾病を予防・改善するための食品に関する情報などを 網羅したレポートを作成し、医師による診断や予防・改善のための 生活習慣指導等を強力にサポートすることができます。 【特長】 ■1回の検査で30以上の疾病について網羅的にリスクをスクリーニング ■日本最大級のデータベース（約27,000人）を活用した精度の高い疾病リスクの分析≪世界初・特許取得済≫ ■推奨食品（成分）の情報で生活習慣指導を強力にサポート ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の知見を活かしご提案いたします。
●太陽電池モジュールの評価／分析 太陽電池モジュールの故障解析や性能評価を実施します。 ・非破壊検査：製品出荷検査と同等のEL測定や出力測定にて、故障状態を顕在化します。 ・破壊検査：不具合部分の断面成分解析等にて、故障原因を特定します。 ●現地調査 自然災害等による太陽光パネルの被害状況や、発電低下部分の原因追及を行います。 ・ソラメンテによる測定をはじめ適切な方法をご提案し、故障状況や原因を調査します。 ・調査結果より、保険会社向けの調査報告書をご提出します。
解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。
精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。
より良い観察の提案が可能！高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入
自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が 飛躍的に増大し、開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます 要求されています。 試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、 工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や 市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、 といった要望が高まっています。 ”クオルテック 名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ X線CT「FF35」を導入。より良い観察の提案が可能です。 【特長】 ■内部構図を立体的に把握でき、任意箇所の断面画像を得られる ■二つのX線管を併せ持つCTシステム ■150nmまでの微細構造を認識できる高解像度観察が可能 ■積層物のCTに適したヘリカルスキャン機能も搭載 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。
軟磁性粉を圧縮成形して製造される圧粉磁心は、圧粉後に焼鈍処理が行われます。焼鈍温度により変化する因子をEBSDで分析し、保磁力との関係について調査を行いました。その結果、焼鈍温度の上昇とともにKAM値の減少と平均結晶粒径の増加が見られ、それに伴い保磁力が低下する傾向を示しました。この結果を応用すれば、 EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。
材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考察
ポリエチレン樹脂には大きく分けて高密度ポリエチレン（HDPE）と 低密度ポリエチレン（LDPE）の種類があります。 それぞれ基本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。 当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの 把握、不具合、そして劣化現象などを様々な分析手法から考察致します。 【事例内容】 ■FT-IRによる主骨格の比較分析 ■EGA-MSによる熱分解温度の比較分析 ■熱分解GC-MSによる熱分解生成物の比較分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
鮮明な写真を撮影しご報告！分析機器を使用して、異物の正体を調査解析いたします
異物が混入することによる外観不良、機能不良の問題でお困りでは ないでしょうか？異物の正体が判れば、異物の混入経路解明の 重要な手がかりとなります。 当社は分析機器を使用して、その異物の正体を調査解析いたします。 異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告。 外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察を行い、 有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析を行います。 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■異物の大きさに合わせて、鮮明な写真を撮影しご報告 ■外観の大きさ、色調、付着の状態など詳しく観察 ■有機物であればFT-IR、無機物であればSEM／EDXで分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
酸化劣化により硬化したグリースの耐用年数を延ばす使用温度条件を調べた分析事例
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、グリースの寿命評価を行った際の 概要や分析原理、手順について掲載しています。 使用していたグリースが4年で硬化し、不具合が発生。 硬化原因は、元素分析 (C/O)、赤外分光分析、 プロトン核磁気共鳴分光分析により、酸化劣化であることが判明しました。 グリース使用のランニングコストを押さえることを目的に、 耐用年数を最短7年にできる使用温度条件を調べるために 熱重量分析/示差熱分析による反応速度論的解析評価を行いました。 【掲載内容】 ■概要 ■特徴 ■分析原理と手順 ・アレニウスプロットによる解析 ■分析結果 ・TG/DTAおよびアレニウスプロットによる寿命7年の使用温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気的特性評価をはじめ、光学特性評価、結晶性評価、組成評価を実施！
当社の『コンビナトリアル特性解析』では、ご要望により、組成変化に 従った種々の多点物理分析をいたします。 画像の例では、Si基板上のHfO2、Y2O3、Al2O3の正三角形の 3元コンビナトリアル組成傾斜試料にPt電極を形成してC-V、I-Vの 電気的特性を行い、高誘電率層の評価をしたものです。 上から、誘電率、フラットバンド電位、リーク電流の組成マッピングを 示しており、1試料中の246組成が同時評価できます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【サービス内容】 ■C-V、I-V、半導体特性などなどの電気的特性評価(室温～400℃） ■透過率測定、分光エリプソメトリなどの光学特性評価 ■マイクロビームXRDを用いた結晶性評価 ■マイクロビームXRF、XPS、Auger分光などによる組成評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザーブレイクダウン分光分析システム
■ どこへでも持ち運び可能なポータブル型 ■ 豊富なデータベースにより、正確で迅速な解析 ■ ASCII、Binary、Excel(CSV)形式、WMFとWPG形式で出力可能
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
・試料中の特定元素（特にB,C,N,O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であっても評価が可能
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるので表面汚染、表面処理の評価に活用いただけます
XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
データ解析・AIに何ができる/できないか！的確な解析手法をご提案します
想定外の事態が発生すると最適化の条件やAI・機械学習のための教師 データが現実と乖離する事態に陥ります。 当社では、お客様のお持ちのデータと得たい結果をご提示いただければ 試験的に分析を行い、異常検知や予兆診断のルール発見の可能性を評価。 分析した結果を効果的に提示するための可視化手法もご提案します。 【背景・課題】 ■各種デバイスの普及で環境に関する情報、機器動作や人間行動に関する データ収集が容易になり、それに基づく精緻な制御が可能となってきた ■しかしここ数年のように事態が急変し、前提条件が崩れると、最適化 または学習した結果は現実を反映できない恐れが高く ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
