更新日： 集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
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![[MALDI-MS]マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/fda/2001512022/IPROS11338482308148200208.jpg?w=280&h=280)
質量分析法におけるイオン化法の1種であり、試料分子の開裂（フラグメンテーション）を抑制で きるソフトイオン化法です。
ESIやFDなどの他のソフトイオン化法ではイオン化が困難な分子量数万程度の高分子をイオン化できるのが特徴です。 MALDIと飛行時間（TOF）型質量分析計を組み合わせたMALDI-MS分析では、高分子材料のマススペクトルを測定し、定性分析を行うことができます。質量分解能が高いスパイラルモードと、測定可能な質量範囲が広いリニアモードの質量分析計を使い分けることにより、幅広い材料を評価可能です。 さらに、スパイラルモードで分離・検出した試料分子イオンを、不活性ガスと衝突させることにより開裂させ、生成したフラグメントイオンのマススペクトルを測定するMS/MS分析も可能です。これにより、高分子材料の分子構造解析も可能です。
GC-MS(/MS)による効率的で確実な香気分析を提供！多様なシステムに対応
『Smart Aroma Database』は、GC-MS(/MS)を用いて香気成分の客観的な 評価・解析を実現するデータベースです。 特長的なイオン、保持時間およびマススペクトル情報を利用して、 解析しにくい香気成分も、確実かつ簡便に検出することが可能。 500成分以上の香気成分を登録しており、幅広い試料での香気分析に 適用することができます。 【特長】 ■スキャン測定の香気成分を高精度に自動検出 ■香気に寄与する化合物を簡単に絞り込み ■MRMやSIMによる高感度なターゲット分析 ■多様なシステムに対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
分析目的に応じた前処理および好適な手法をご提案させて頂き、各成分を分画して解析を行います！
当社では『樹脂材料の組成分析』を承っております。 分析手法として、赤外分光分析(IR)、質量分析(MS)、核磁気共鳴分光分析 (NMR)、走査型電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析(SEM-EDX)などの 様々な機器分析を用いて、樹脂、添加剤、顔料などの詳細分析を実施。 分析目的に応じた前処理および好適な手法をご提案させて頂き、 各成分を分画して解析を行います。 【機器分析】 ■赤外分光分析(IR) ■質量分析(MS) ■核磁気共鳴分光分析(NMR) ■走査型電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析(SEM-EDX) ■熱重量/示差熱分析(TG/DTA) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
FE-EPMAによる相分析により、材料中の各相の分布を可視化し、微細な相構造を明らかにすることが可能です。
電子線マイクロアナライザー（EPMA）を用いた相分析は、材料の元素濃度分布を詳細に解析し、そこから組成比を計算することで、存在する相の種類と分布を明らかにする手法です。 解析には専用ソフトウェア「フェイズマップメーカー」を活用します。EPMAで取得した元素マップデータを基に、元素のX線強度を二次元ヒストグラムとして表現した散布図を出力します。この散布図において、同じ相に属する測定点は互いに近接したクラスターを形成するため、その領域を指定することで、直感的に相の分布を示すフェイズマップを作成できます。 FE-EPMAによる相分析では、複数の異なる相を一つのフェイズマップ上に同時表示することで、各相の分布を一目で把握することができ、材料の特性や現象の原因となっている要素を迅速に解析できるため、問題解決や品質向上に貢献します。
★耐久性改良、加工性改良、物性改良、、、 ★材料メーカーや加工メーカーの重要なノウハウを学べる講座!
講 師 西岡 利勝 氏 会 場 川崎市産業振興会館 第1会議室 【神奈川・川崎】JR・京急「川崎駅」下車徒歩 5分～6 分 日 時 平成23年4月28日(木) 10:30-16:00 定 員 30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
高精度な樹脂製マイクロチップと、オーダーメイドの流路形状で開発から量産までをサポート！
リッチェルの『射出成形マイクロチップ』は、金型スタンパーとして、 シリコンウェハーにエッチング加工した基板を採用しています。 高い技術で微細な凹凸を忠実に再現し、さらに当社オリジナルの 転写性に優れた材料を使用することで高精度な成形を実現。 また、射出成形にて生産を行うことで、チップの量産と大幅なコストダウンを可能にしました。 当社では、ご要望の多い流路5パターンの標準チップのほか、 目的に応じた射出成形マイクロチップの受託作製を承っております。 【特長】 ■高度な金型技術と成形技術で大幅コストダウン ・高精度/量産/低コスト ■マイクロオーダーの凹凸形状を忠実に転写 ・転写性/透明性/耐熱性 ■不純物の原因となる接着剤を用いない接合 ■樹脂特性によるタンパク質低吸着を実現 【用途例】 細胞培養/血球分離/タンパク質分析/血栓形成能解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
![[AFM-IR]AFM赤外分光分析](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/e09/2001512494/IPROS11942423150227656465.jpg?w=280&h=280)
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。
本手法はAFMシステムと連動し計測を行う事で、試料の凹凸および機械特性分布、選択された吸収帯 での赤外吸光像（官能基分布）を同時計測することが可能です。 AFM-IRは以下の特徴があります。 ? 非常に高い空間分解能（ナノスケールオーダー）での評価が可能なため 微小領域でのスペクトル測定・イメージ測定が可能 ? FT-IRのライブラリーを使用することで同様の解析が可能
測定機能と解析能力を強化しました！様々なイオンの定性・定量分析に対応
株式会社分析センターでは「イオンクロマトグラフ分析」を行っております。 水サンプル中に含まれる各種のイオンについて一斉に濃度測定が可能な イオンクロマトグラフ(IC)。水サンプルに限らず、溶液製品の濃度管理、 不具合品の汚染度調査、部材腐食の原因成分分析など様々な分野の 評価法として有用です。 このたび、ACLでは分析装置を刷新し、これまで分析が難しかったイオン種や 複雑な組成のサンプルに対応できるよう強化しました。 【IC分析の一例】 ■陰イオン分析 ■有機酸分析 ■各種リン酸塩の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
対象油種は、その他スラッジ・溶剤等！X線回折の原理を利用して試料の結晶構造を観察
当社で行う、「X線回折分析」試験をご紹介いたします。 X線回折の原理を利用して試料の結晶構造を観察し、無機化合物を定量する 試験。X線回折で得られた結果と蛍光X線分析(K521)で得られた測定結果を 併せて解析することにより、成分分析を行うことができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【試験詳細】 ■項目番号：K522 ■必要量：別途相談 ■規格番号：- ■対象油種：その他スラッジ・溶剤等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リサイクル樹脂の課題の一つであるにおいの原因調査を行い、課題解決まで対応致します!!
弊社では、樹脂材料の異臭原因調査のにおい分析を行っております。 八角臭のするポリプロピレン(PP)ペレットをHS-GC/MSで測定し、におい成分 データベース「Aroma Office」で解析することで、異臭原因の特定に向けた データをご提供可能。 においの印象(例：八角臭)を起点に、収録されている複数の化合物を 逆引き検索し、クロマトグラム上での存在有無を確認可能です。 ■検出された29成分ピークのうち18成分がにおいライブラリーに一致し、 そのうち6成分が八角臭由来の物質として特定 ■主成分に埋もれた微量成分(強度比約1/100)も見逃さずに特定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
リサイクルポリマー等に含まれる微量不純物の高精度組成分析サービス開始について ～サステナブルな社会実現に向けた材料開発を支援～
当社（以下、「TRC」）は、ポリマー中の各種成分分離に関するノウハウ と2次元液体クロマトグラフィー高分解能質量分析計（以下、「2D-LC/HRMS（Liquid Chromatography–High Resolution Mass Spectrometer）」）を活用し、国内受託分析会社として初めて、リサイクルポリマー等に含まれる微量不純物の高精度組成分析サービスを開始しました。 リサイクルポリマー中の微量の不純物や劣化物は、ポリマーの性能低下や変色要因となる可能性がありますが、従来分析法では微量成分の分離が難しく、構造解析 が困難でした。そこで、今回、微量成分の分離能力を向上させる技術を開発し、微量成分の特定を可能としました。これにより、リサイクル工程 の改善や変色の防止等が期待できます。 TRC は、このような材料分析に関わる情報をご提供することで、サステナブルな社会の実現に向けて、材料開発支援の面から貢献していきたいと考えています。
裏面研磨技術を用いたXPS分析(Backside XPS)についてご紹介！
当社で行う「ゲート電極/酸化膜界面の不純物分析」についてご紹介します。 ゲート電極/ゲート絶縁膜界面の不純物の分布や結合状態などを調べるためには 1nm以下の深さ方向分解能が必要。このような場合、裏面(ゲート絶縁膜側) からの測定を行うことで、より信頼性の高い解析が可能になります。 XPSの検出深さは数nm以下と浅いので、Si基板部分を裏面から研磨やウェット エッチングにより除去してXPS測定を行います。 【得られる情報】 ■ゲート電極/ゲート酸化膜界面近傍の不純物の分布・結合状態 ■ゲート電極/ゲート酸化膜界面近傍の組成変化 ■バンドアライメントなど ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
誰でも簡単・迅速にさまざまなサンプル測定ができる吸光光度計
『DR 6000』は、多彩な機能を搭載した吸光光度計です。 本体には、重金属、無機イオン、有機物の分析方法がプログラムされており、 HACHが提供する試薬と組み合わせてこれらの測定が可能です。 また、内蔵プログラム以外に、ユーザー独自の検量線を入力可能。 サンプルに合わせた分析方法が設定できます。 【特長】 ■検量線入力済み。校正のための標準液が不要 ■測定プログラムを自動選定し、自動測定（TNT plus 試薬使用時） ■波長スキャン測定、タイムスキャン測定など多彩な測定が可能 ■分析プログラムをインストール済み(専用試薬も多数用意) ■マルチセルアダプターを標準装備し多様なサンプルセルに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 【測定項目】 全窒素/全りん/硝酸/アンモニア/COD（過マンガン酸法）/シリカ/カドミウム/残留塩素/鉄/銅/揮発性酸/硬度/りん酸 など約70項目
高精度の四重極型質量分析システムによる受託分析サービス。封止デバイス内部や接合ウェハー界面のガス分析を行います。
当社では、高精度の四重極型質量分析システムにより、お客様から受領した サンプルのガス分析（リーク量測定）を行うサービスを提供しております。 分析装置に“低ガス放出”の0.2％BeCu合金製の真空構造材を採用しており、 デバイスの破壊試験による10^-15Pa・m3/s(He)以下という極微小リークの検出が可能。 封止デバイス内部や接合ウェハー界面のガス分析を行います。 半導体デバイスの不良解析、品質改善、品質管理に貢献します。 【測定例】 ■半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定 ■半導体ウェハー基板からのガス放出測定 ■接合ウェハー界面のガス分析 ■MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定 ■封止デバイスの極微小リークチェック ※「PDFダウンロード」より本サービスの紹介に加え、 分析システムに関する解説を掲載した資料をご覧いただけます。 お問い合わせもお気軽にどうぞ。
川崎重工業の製品開発・品質保証を支える試験・分析ソリューションを提供。試験例を紹介した資料を進呈
当社では、45年以上にわたり、川崎重工業の製品開発・品質保証を支えてきた 実績と技術力を活かした『試験・分析サービス』を提供しています。 高分子から潤滑油、金属材料、ガスなど、幅広い分野の試験・不具合調査に対応可能。 JIS規格やISO認証に準拠した試験により、信頼性の高いデータの提供が可能です。 異物混入対策やプラスチック部品の劣化防止、腐食原因の特定など、 開発・品質保証の強化にご興味をお持ちの方は、ぜひ一度ご相談ください。 【特長】 ■年間1000件、累計4万件超の対応実績 ■高分子・金属・潤滑油・ガス・製品など幅広い試験対象に対応 ■トラブルの原因特定や品質向上につながる提案が可能 ■JIS、ISOなどの各種規格に準拠し、信頼性の高いデータを提供 ※分析技術のうち、10点を厳選して紹介した資料を無料で進呈中です。 ＜カタログをダウンロード＞よりご覧いただけます。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
