更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
76～90 件を表示 ／ 全 314 件
長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します！
当社では、卓越した分析力と先進の分析設備で、迅速・的確に お客様のニーズにスピーディーにお応えする『受託分析評価サービス』を 提供しております。 単に結果を得るために分析するのではなく、その結果から課題解決の 指針を見いだすことを常に念頭に置きながら、経験豊富な技術者集団が 先進の分析機器・分析技術、今まで培ってきたノウハウを活かし、 好適な分析手法をご提案いたします。 【分析分野】 ■半導体 ■電子部品 ■工業材料 ■環境分析 など ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
COMPO像により組成の違いを識別！酸化状態や微量な腐食原因元素の分布の解析に有効
当社では、XRDとEPMAによる構造分析と元素マッピングを行っております。 FE-EPMAを用いて、微小部の微量元素の検出・分布を明らかにして、 XRDから鉄酸化物の構造決定を行うことが可能。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【詳細】 ■電子像観察(COMPO) ■元素組成・元素分布：FE-EPMA ■結晶構造解析：XRD ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した事例を紹介！
パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡 (X線CT)で観察した際のCT像をご覧いただけます。 【概要】 ■X線CTによるエッチピットの形状解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
テクスチャー解析に必要な多種多様なプローブや治具を測定ツールとしてラインアップ
『TX-700』は、圧縮、引張またはその組み合わせによって材料の質感を 測定するテクスチャーアナライザーです。 7インチカラータッチスクリーンにより直感的に操作でき、測定値・測定曲線を 直接ディスプレイに表示します。 また、オプションのRheo Texソフトウェアで制御すれば測定と同時に 最大10項目を自動で解析できます。 【ラミーレオロジーのテクスチャーアナライザーの特長】 ■測定と同時に最大10項目まで自動解析が行える(RheoTexソフトウェア制御時) ■応力センサーは6種類あり、計測する力に応じて交換可能 ■2本の垂直のロッドが振動のない高精度な変位を可能に ■温度プローブが標準で付属 ■高さ調節可能な直径160mmのターンテーブルを標準搭載 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
材料と目的に応じた分析手法をご提案！液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介
液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR：主成分分析 ■EDX：元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析（劣化解析）ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
複合解析で活性化率に関する評価が可能
SIMSによる不純物濃度分布とSRAによるキャリア濃度分布を比較することで、ドーパントの活性化状態がわかるだけでなく、整合しない領域には未知の不純物の存在、構造的な問題の内在が示唆されます。 Profile Viewerを用いれば、お手元でSIMSのデータとSRAのデータを重ね、解析することが可能です。 一例として、市販のダイオードチップについて、パッケージ開封後のダイオードチップ表面中央部と外周部（図1）および裏面について、SIMSとSRAを行った事例をご紹介します。
クレームや工程トラブルに対し付着物、混入異物等の分析を行っております。
成分分析とは、製品における様々なクレームや工程トラブルに対し、高精度解析装置を導入し、製品トラブルの原因解析、品質管理のための分析など、テクノリサーチ業務を行っております。製品の付着物の分析や加工食品中の混入異物の分析、製品中の異物の分析などといった、付着物、混入異物、変色、錆などの分析を行っております。詳しくはお問い合わせください。
縮合系高分子の詳細な構造解析が可能
ポリウレタンなどの縮合系高分子の構造解析を行う際、熱分解GC/MSだけでは情報が十分に得られない場合があります。このような時、メタノールを用いた化学分解を行うことで、より詳細な構造情報が得られるようになります。 本事例ではポリウレタン製軽石をメタノールで分解し、GC/MS測定を行った結果を紹介します。ジフェニルメタンジイソシアネート、フタル酸ジメチル、トリメチロールプロパン、プロピレングリコール類が検出され、本製品はこれらの素材から構成されるポリエステルウレタンと推定されました。
「試料埋め込み」や「研磨及びエッチィング処理」などの試験項目ごとに分析料金をご紹介！
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『表面分析』の料金について税抜き、税込みでご紹介。 試験法は「エネルギー分散XMA」や「EPMA」「オージェ電子分析（AES）」 などがございます。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■金属組織形態観察など ■SEM ■破面解析（SEM観察の他別途請求） ■エネルギー分散XMA ■EPMA ■オージェ電子分析（AES） ■X線光電子分析（XPS） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高分子、プラスチック、複合材料等を主な対象とした各種の分析を行います。
高分子の構造解析、分子量測定、組成分析の他、熱分析、レオロジー等の熱的特性、重金属をはじめとする各種元素分析、溶出試験、その他の各種分析試験を行うサービスです。また、長年のノウハウを活かし、各種配合材料 (コンパウンド、電子材料、塗料、接着剤等) の成分分析・全組成分析を行います。
特性解析やロット間の同等性評価等にも対応！お客さまのバイオ医薬品開発をサポートします
スぺラファーマでは、近年、成長著しいバイオ医薬品に関する分析機能も有しております。 「バイオ医薬品の品質試験法設定および安定性試験」では、抗体医薬品を 中心とするバイオ医薬品の品質評価のための分析法を開発・設定、 試験法バリデーションを行い、治験薬の出荷試験を実施。 また、バイオ医薬品の安定性を担保するための安定性試験の実施も可能です。 「バイオ医薬品の特性解析・同等性評価」では、適切な分析系を選択・評価し、 お客さまのバイオ医薬品開発をサポートします。 【主な分析機能（一部）】 ■ペプチドマップ（LC/MSによるアミノ酸配列・翻訳語修飾解析を含む） ■キャピラリー電気泳動法による純度・糖鎖・電荷バリアント測定 ■イオン交換LC・イメージング等電点キャピラリー電気泳動法による電荷バリアント測定 ■細胞アッセイ・ELISAによる活性（力価）試験 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例を紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分光エリプソメトリーは光の偏光状態の変化を測定し、光学定数（屈折率・消衰係数）や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例を紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. エリプソメトリーについて ３. PVA膜スピンコート直後の経時変化 ４. シリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価 ５. おわりに
高分解能・高コントラストな観察を実現！非破壊で3次元観察することが可能
「MEMS」には、立体的で可動部を有するMEMS構造体が中空で 封止されています。 この構造をあるがままに観察するためには開封などの加工を行わず 観察することが必要です。 3次元X線顕微鏡(X線CT)は、非破壊で3次元観察でき、できばえ解析・ 不具合解析・リバースエンジニアリングに有効です。 【3次元X線顕微鏡 特長】 ■対象物の内部を非破壊で3次元観察することが可能 ■試料を透過したX線を光学レンズで拡大するため、高分解能・ 高コントラストな観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AI予測機能はAICFDの特長的なモジュールの1つ！解析反復数が膨大になる問題を解決
このケースでは、AICFDに搭載されたAI予測機能 (IntelligentForecasting)を用いて特定条件下における 潜水艦の抵抗値をシミュレーションします。 AI予測機能は、AICFDの特長的なモジュールの1つであり、AIによる リアルタイムの結果予測により産業設計シミュレーションにおける 解析反復数が膨大になる問題を解決します。 ※記事の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析
ロックイン発熱解析において、ホットスポットを絞るためには周波数を上げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の試料でも発熱箇所の特定を行うことが可能です。
