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当社は各種スラリー／塗料の製造受託を行っております。製造でのお困りごとがありましたら、ぜひお気軽にお問い合わせください。
塗料製造技術でお困りでしたら、ぜひご相談ください。 こんなお悩みありませんか？ ー ー ー TOPPANインフォメディアなら解決できます！ ー ー ー 【塗料製造技術】 ・粒子を液体に均一に混ぜられない（分散ができない） ・製造実績がしっかりした企業に依頼したい ・少量での試作を行いたい ・品質事故を改善したい ・クリーンルームで製造して欲しい ・不純物の分析も行いたい ⇩ 当社は高度な品質が要求される半導体製品を扱っており、長年にわたり高い品質を保持しております！ ※当社HPに製造受託事例が記載されておりますので、ぜひご覧ください。
当社は配線形成の製造受託を行っております。製造でのお困りごとがありましたら、ぜひお気軽にお問い合わせください。
配線形成技術でお困りでしたら、ぜひご相談ください。 こんなお悩みありませんか？ ー ー ー TOPPANインフォメディアなら解決できます！ ー ー ー 【配線形成技術】 ・ロール to ロールで印刷したい ・製品への直接印刷しているため歩留まりが悪い ・曲面への印刷を行いたい ・印刷位置精度を向上させたい ⇩ 当社は塗料製造から配線形成（製品化）まで一貫して行える数少ない企業であり、優れた品質水準を達成しております！
危険場所で使用できる耐圧防爆型の計量器です。検定品(取引証明用)の製作も可能です。秤量/積載面共に多数取り揃えております。
自社で設計・製作しておりますので、設置場所に寸法制限がある場合や、既設基礎合わせでの更新の場合など、お客様のご要望に沿った仕様にご対応致します。 カタログに掲載の無い秤量/目量・計量台積載面寸法の製品の製作も可能です。 材質もSS製やオールステンレス製等お選び頂けます。 超薄型の低床式防爆フロアスケールもラインナップしております。 労検合格品の耐圧防爆型ロードセルや耐圧防爆型指示計を使用しているため、消防検査にも容易に対応できます。 指示計は自社製作品ですので、簡単な計量以外にも電磁弁など外部機器の制御や上位(DCS・PC)との通信などもお客様のご要望に合わせてカスタマイズ可能です。 あわせて安全場所設置タイプのプリンタやCSVに計量データを保存できるデータレコーダもご提供しております。 近年ではフォークリフトに積載して移動できるフォークリフト用チャンネル＆アジャスタ付の指示計一体型仕様もご好評頂いております。 「希望の仕様が見つからない」・「仕様の相談をどこにすればよいか分からない」などございましたら是非お気軽にご相談ください。
容易にテストパターンを作成！湿度コントロール機能を備えた試験装置
『Orion3』は、デバイスの帯電による静電破壊現象をシミュレートできる テストシステムです。 湿度コントロール機能を備えており、テストヘッドを交換することで各種の 規格に対応したESD(CDM)試験を実施。 任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成でき、サイクルタイムを 最小限にします。 【特長】 ■湿度コントロール機能を備えた試験装置 ■テストヘッドを交換することで各種の規格に対応した試験を実施 ■任意のデバイスに対して容易にテストパターンを作成できる ■サイクルタイムを最小限にする ■新機能CDM2は従来の空間放電方式で問題になっている繰返し再現性を大幅に 改善した新方式のCDM試験が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水分率最小表示0.001%の高精度！加熱乾燥のできる様々な物質の水分測定
『MS-70』は、株式会社サンコウ電子研究所が取り扱っている製品です。 最小表示が、0.001%・0.01%・0.1%から選べる加熱乾燥式水分計。 加工食品・薬品・粘土・おがくずなど、加熱乾燥のできる様々な物質の 水分を測定します。 通信用ソフト｢WinCT-Moisture(CD-ROM)｣を標準付属しています。 【特長】 ■加熱乾燥式水分計 ■水分率最小表示0.001％の高精度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
紛体摩擦帯電量を速やかに測定！ポリマー粒子や無機紛体などサンプルは問いません
『NS-K100型』は、粉体間または粉体と容器間の摩擦により発生する 静電気について、その現象をナノクーロンの領域で評価できる装置です。 本装置は、粉体の摩擦帯電量を素早く正確に測定し、摩擦帯電の現象を 解析することができます。 測定結果は測定条件も含め、エクセルファイルに転送できます。 【特長】 ■10g程度の粉体でかく拌による摩擦帯電量を測定できる ■医薬品、化成品粉体、金属粉体の摩擦帯電量をファラデーケージにて 迅速に測定 ■容器との組み合わせにより、発生する帯電量の変化を精密に 測定することが可能 ■かく拌スピードと時間が任意に設定可能 ■吸引式ファラデーケージを用いて、サンプルの吸い取りによる 帯電量も測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
弊社では、環境試験ー温湿度組合わせ（サイクル）試験 及び、お客様ご指定条件による温湿度試験を実施します
１．JIS C 60068-2-38 試験の概要： ・ JIS C 60068-2-38 では高温高湿及び低温条件で主として電気・電子部品の劣化を加速した方法で判定する温湿度組合わせ（サイクル）試験を規定しており供試品の欠陥を水分の吸収によって発生させるのではなく呼吸作用によって発生させることを目的とした温湿度サイクル試験方法です。 ・この試験は他の温湿度サイクル試験とは異なり以下の通り試験の厳しさを強めています： ◇規定時間内での温度上下回数が多い ◇温度変化の範囲が広い ◇温度変化の速度が速い ◇0度以下の温度サイクルを含んでいる ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
低コスト・省スペースのESDテスターが実現！！
近年のデバイスの微小化に伴い、ESD耐量の向上が要求されています。 そこで、阪和電子工業株式会社では試験操作が簡単で、持ち運び可能な静電破壊試験器を開発しました。 本装置はリーク測定機能も備えていますので、ESDによる破壊判定を本装置のみで行うことができます。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○HBM Fast/Slowユニット（オプション） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。
コンパクトESD試験器 「HCE-5000」は、日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。 （JEITA/ESDA/JEDEC規格対応） 放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。 デバイス各端子容量の測定が可能です。測定データはテキストファイルとして保存可能です。 【特徴】 ○窒素による温湿度制御が可能 ○様々なデバイスの形状に対応 ○自動波形取得システムを搭載 ○測定可動範囲(80mm×200mm) ○印加電圧範囲：0 ～ +/-4000V (+/-5V ステップ) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
照明器具などのデータから光学解析用モデルを作成。「照明Simulator CAD」を使用しご要望のシミュレーションを行います。
「照明Simulator CAD」の開発元だからこそできる、機能を最大限活用し解析いたします。 【受託解析の流れ】 １、器具の仕様や情報をご提示いただき、初期検討 形状、光源、材料などについて、どの程度データ化されているか？ データ内容に基づいた解析モデルの再現性 所望の解析項目と結果データの検討 ２、費用のご提示 ３、物体モデル、光源のデータや材料パラメータ等の用意 ４、シミュレーションモデル化 ５、シミュレーション実行～結果出力とまとめ
地震対策万全ですか？微振動・地震時の震動エネルギーを熱エネルギーに変換吸収することで地震の力を遮断して、揺れから建物を守ります！
地震動による大きな揺れや風による振動などの、外部から加わる望ましくないエネルギーを効率よく吸収し受け止めるオイルダンパーは、油圧技術を熟知すればこそ実現できる、高度なテクノロジーを要する製品です。 シンプルな形状の中に内蔵されたリリーフバルブなどの内部構造に光陽精機独自の技術の粋が結集され、構造物や構造内部の人やモノを守ります。
インドのプリント基板工場で製造。 片面、両面、4層板に対応します。
下記のような業者様で、メリットがでるのではないかと考えます。 - 今のところ海外進出予定の無い国内プリント基板製造者で、月1000ｍ2～3000ｍ2の受注に備えたい業者様。 - 現在、海外の業者と取引をされている国内の業者様で、現地リスク（カントリーリスク等）へのヘッジを検討中で、インドを新たな選択肢として、検討していただける業者様。 - インドを、基板製造委託先としてのみならず、新たな市場として、検討していただける業者様。
メンテナンス性・作業性が簡便！リフトオフ成膜機構には特殊遮熱機構を採用！
当製品は、金属材料を対象とし、リフトオフ成膜可能な電子ビーム蒸着装置です。 3連式EBガンはスライド移動機構により、メンテナンス性・作業性が簡便。 基板寸法は最大φ3インチで、リフトオフ成膜機構には特殊遮熱機構を 採用しております。 【特長】 ■基板寸法：最大φ3インチ ■基板加熱温度：常用600℃ ■リフトオフ成膜機構：特殊遮熱機構採用 ■電子ビームガン：ハース3連手動スライド移動式 ■EBガンメンテ機構：EBガンスライド移動機構 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
UV式転写/熱式転写/成型の受託加工が可能！導入の検討にお役立てください
当社では、お客様のニーズにお答えし、UV式転写/熱式転写/成型 受託サービスを 行っています。 お客様の御要望に合わせた転写材料(樹脂・レジストets)に転写/成型 を 行います。 ナノインプリント技術導入可否の御検討に、装置導入前の評価、ナノイン プリント技術の基礎実験や初期ご検討にお役立て下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiC等のデバイス作製に適した高温イオン注入や、ドーパント活性化のための高温アニール処理が対応可能です！
SiC（シリコンカーバイド）、GaN（窒化ガリウム、ガリウムナイトライド）等の化合物半導体では、デバイス作製に適した高温イオン注入やドーパント活性化のための高温アニールが必要とされます。弊社では、高温イオン注入や高温アニールのリクエストにお応えします。 また、アニール時の温度が高温のため、アニール前のキャップ膜による表面保護が必要になります。弊社では高温アニールだけでなく、PBII（Plasma Based Ion Implantation)を使ってカーボンキャップ膜成膜のニーズにもお応え致します。 【掲載内容】 高温イオン注入 キャップ膜成膜 高温アニール処理 ※詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お問い合わせください。
食品、化粧品などの「硬さ」や「可塑性」を自動測定！
サンプルの「硬さ」や「可塑性」を自動測定 【特徴】 ・ペースト状、クリーム状、半固体、高粘度のサンプルに針が貫入する際の抵抗力を自動測定！ ・ピエゾ素子により、自動でサンプルの表面を検知！ →測定者による誤差無し！ ・LEDライトにより、手動での表面検知が容易！ ・サンプルに合わせた様々なプローブを用意！
あらゆる環境で信頼性を発揮！堅牢なアルミダイキャスト製はかり
『ICS425/435/445/465』は、さまざまな設置方法に対応した数種類の 構造タイプ、幅広いアクセサリ、アプリケーション、ひょう量、そして最適な 計量性能からお選びいただける産業用コンパクトスケールです。 過剰充てんを最小限に抑え、充てん不足を防止し、誤った部品や紛失部品を 検出することにより、生産性が向上します。 また、オペレーターの作業を容易にし、ミスを防止し、作業のパフォーマンスを 高めるよう設計されています。 【特長】 ■迅速で精密 ■簡単操作 ■モジュール式＆高い汎用性 ■堅牢＆高信頼 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様の要件に対応する最適なソリューションを！多用途に対応
『ICSシリーズ』は、モジュール設計で指示計と計量台（プラットフォーム）の幅広い 組み合わせにより、お客様の用途に合わせて選択が可能なコンパクトスケールです。 当製品は、お客様の計量プロセスの簡単に組み込めるように設計されています。 チェック計量、個数計数、品質保証など多様な用途へのソリューションを提供。 生産性、プロセスセキュリティ、製品と出荷の品質を向上させる最適なシステムを 構築することができます。 【特長】 ■モジュール式で高い柔軟性 ■高速で高性能 ■堅牢で高信頼性 ■さまざまな環境に適応 ■移動して使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板実装だけでなく、樹脂成形、板金加工、配電盤組立まで対応！ハーネス一本からでも可
当社では、お客様のご要望に合わせて、以下の一貫した体制で製造を行っております。 ■開発（電子回路設計、ソフトウェア、機構設計など） ■部品調達 ■製造（基板実装、樹脂成形、組立） ■検査・品質保証 また、ホットメルトを使用したメンブレンの封止作業が可能です。 特に強い分野は、NFC（RFID）、BLE、Wi-Fi、LPWA、LANなどの通信技術です。 さらに、生産や検査に必要な治具も内製しております。 また、多品種・少量・短納期に対応するため、フレキシブルな対応を心がけております。 開発部門と販売部門が緊密に連携し、タイムリーに製品をご提供することで、 高い評価をいただいております。 ODMに自信があります。まずはお気軽に当社にご相談ください。
ハーネス1本から板金加工、配電盤組立まで対応！低コストで高品質な製品をご提供
東京通信機工業株式会社では、企画から開発から品質保証まで一貫した 体制で行う「EMS/OEM/ODM 製造受託サービス」をご提供しております。 自社で一貫して行うことで、製品の信頼性を高め、コスト削減と一貫した サービス提供を実現。安心してご利用いただける製品をお届けします。 また、通信技術においては、特にNFC、BLE、Wi-Fi、LPWA、LANなどを 得意分野としており、生産や検査に必要な治具も内製しています。 【当社が選ばれる理由】 ■悠久の歴史：長年の実績と経験に裏打ちされた信頼性 ■一貫生産：企画から品質保証まで一貫して対応し、品質管理を徹底 ■国内工場：国内工場での製造により、品質と迅速な対応を保証 ■企業文化：チャレンジ精神を大切にし、戦略的に挑戦し続ける ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
丸棒・パイプの外径を絞ってテーパーをつけたり、細くすることが可能！
当社では、パイプ・丸棒の『絞り加工』を行っております。 冷間で金型により丸棒・パイプの外径を絞ってテーパーをつけたり、 細くすることができます。 プレスを使う方法とスエージングマシンを使う方法があり、断面の 異形加工も可能です。 【特長】 ■冷間で金型により丸棒・パイプの外径を絞って テーパーをつけたり、細くすることが可能 ■2種類の加工方法（プレス・スエージングマシン） ■断面の異形加工も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『グリーンナノ』は、プラスチック製品を焼却処分する際の発生CO2を削減するエコ技術です。
透明度・強度に劣る植物由来プラスチックなどとは違い、機能性マスターバッチを僅かな量を加えるだけなので、通常のプラスチック製品の性能はほぼ維持され、リサイクルにも対応可能。 導入時もデザイン・素材・生産設備はそのままで良く、手間やイニシャルコストがほどんどかかりません。加える量も僅かな為、環境配慮型プラスチックの中でも、安価に“エコ化”をすることができます。 【特長】 ■機能性マスターバッチを僅かな量を加えるだけ ■通常のプラスチック製品の性能はほぼ維持 ■リサイクルにも対応可能 ■導入時の手間やイニシャルコストがほどんどかからない ■安価に“エコ化”をすることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
本装置は、ヘリウムを加圧し試験体に気密試験後、ヘリウムを蓄圧器に回収する機能も有り。真空引きにより高純度ヘリウムを保てます。
本装置は、ヘリウムを加圧し試験体に気密試験を行うことができます。気密試験後、ヘリウムを蓄圧器に回収する機能も有しております。また、真空ポンプで真空引きするので、回収したヘリウムの純度を保ったまま再利用できます。 装置に使用している当社のエア駆動式ポンプは、小型で高圧部のメンテナンスが容易にできます。
海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに対して信頼性試験・評価試験の品質評価サービスを提供します。
海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下さい。 ■海外製部品評価例 ・部品調達・選定段階での信頼性評価 ・部品・製品メーカー間比較評価 ・現行部品⇒変更部品（コスト削減）の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部品（トランジスタ、ダイオード、サイリスタ、等） ・受動部品（コンデンサ、抵抗、等） ・LCD ・基板 ・電源 等
印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも対応
『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応 ■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能 ■印加ピンの接触確認機能により確実に印加 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致します
『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の 問題解決のお手伝いをします。 【特長】 ■512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応 ■512ピン以上の製品についても一部対応(要相談) ■ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を実施 ■お客様のご要望や目的に応じた試験をご提案、実施 ■耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の問題解決をお手伝い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも！
株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法：W650×H460×D370mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W650×H460×D670mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W970×H460×D670mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較！メリット、デメリットを挙げて解説します
試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメリットをご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡の特長 ・メリット／デメリット ・こんな観察にお勧め ■SEM（走査電子顕微鏡）の特長 ・メリット／デメリット ・こんな観察にお勧め ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各元素の分布を2次元的に見ることが可能！多層状の試料の分析の際にも有効な場合があります
Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析箇所の元素濃度変化を確認できます。 【EDSによる分析の特長】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析 ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出 ・金属間化合物等は算出された濃度比により、形成された化合物を推定 ■線分析 ・SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイルできる ・分析箇所の元素濃度変化を確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
