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測定(光) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年11月19日~2025年12月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

測定の製品一覧

31~40 件を表示 / 全 40 件

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分光透過率・反射率測定

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな測定メニュをご用意しております。

「紫外可視近赤外分析光度計による分光透過率・反射率測定」 紫外可視から近赤外域までの測定範囲をカバーし、物性の分光特性を解析します。 ●測定応用例 ガラスやプラスチック材料を用いた光学部品の透過率、反射率、及び製品の光学特性の測定 「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 フィルムなどの物質の光学特性(透過散乱測定、反射散乱測定)を、目的に応じた種々の光を当てながら受光器を自動で回転させることによって測定します。 ●測定応用例 ・フィルム、ガラス基板等の透過、反射特性の角度変化の測定 ・BRDF、BTDFの測定

  • 受託測定
  • 受託解析

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蓄電池・バッテリーの測定をサブミクロン分解能で高速高精度で測定

高温環境での平坦度測定や製造工程中の異物検査、ボタン電池のエッジ形状検査、セパレーター厚みやコーティング厚みの測定等の実績豊富!

当社は色収差共焦点・干渉を原理とした非接触タイプの測定器を取り扱っています。 膜厚測定、形状測定、粗さ測定、変位測定、外観検査に適用でき、加工中のインプロセス測定やインラインでの高速検査、オフライン測定が可能です。 各種インターフェースを用意しており、組み込み用途にも対応。 高分解能(最小XY分解能1μm~、最小Z分解能0.02μm~)で測定が行え、製品品質の向上、製造プロセスの時間・コスト削減に貢献します。 シングルポイントセンサでは、低価格向けの製品(CHRcodile C, CHRocodile Mini)も2種類用意しています 【特長】 ■幅広いセンサラインナップ   各種センサプローブの中から検査要件、材質に応じて選択可能 ■測定範囲に応じたセンサ   シングルポイントセンサ、ラインセンサ型、エリアスキャン型をご用意 ■用途   PCBフレキの検査、ワイヤループ検査、ウエハバンプ検査などに活用可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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導電性ダイヤモンドの熱伝導率測定

薄くて小さな試料でも、熱伝導率の高い試料でも測定ができます!

導電性ダイヤモンドの熱伝導率測定も当社で可能です。本来ダイヤモンドは絶縁体ですが、ホウ素をドープすることで導電性を付与して、高性能な電極とすることが可能です。広い電位窓による他材質の電極では不可能な酸化還元反応が可能、強酸強アルカリ環境などの厳しい環境でも使えるなど非常にメリットが大きいようです。個人的にはCFRPのリサイクルに使えることに注目しています。 測定はサーモウェーブアナライザTA35で行います。 【試料について】 今回の試料は厚みが30μmと300μmで、試料サイズが10mm×10mmということで、普通の熱伝導率測定装置ではほぼ測定は不可能と言えます。サーモウェーブアナライザのみで測定可能です。 厚み30μm試料は艶消しの黒で表面はなめらかです。厚み300μm試料も艶消しの黒ですが、表面は若干ざらついていました。なお、この程度のざらつきは測定には全く影響ありません。

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電気光学効果電界プローブ 過酷な環境でのEMF測定!

水中、オイル中 での利用可能な光プローブ・光電界センサ

eoProbeは、電気光学技術(ボッケルス効果)に基づいた光電界センサで一軸を測定します。この超広帯域センサは、過酷な条件下で、ほとんどすべての場所および環境(空気、液体、気体、真空)で正確な測定を可能にします。 Kapteosシステムは、このボッケルス効果を利用した電気光学プローブeoProbeとハイエンドコンバータeoSenseにより革新的な電界測定を実現しました。その測定性能は、数MV / mを超え、40 Hz〜100 + GHzの超高帯域幅や、水中などの非常に過酷な環境で最も高度な機能を提供します。 <電場ベクトルの包括的測定> 電気光学技術に基づいたボッケルス効果によりベクトル電界の3つの成分と位相を測定することができます。また縦方向,横方向タイプの2種類のプローブにより、eoSensorコンバータと使用することで3軸のベクトルを正確に識別・測定することができます。 <非侵襲的測定> 金属部品を使用しないセンサの能動部品は基本的にクリスタルです。測定信号は光ファイバーリンク内のレーザーによって送信されます。MRIシステム内の動物組織、果物または野菜の内側の電界測定も可能です。

  • 光学測定器
  • EMC試験
  • プローブ

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絶対光散乱強度からの粒子濃度測定

粒子径が異なるポリスチレンラテックスの粒子濃度測定

光の波長より十分に小さい粒子によって散乱される光はレイリー散乱と言われており、この領域の大きさのサンプルの絶対散乱光強度を単一粒子からの散乱光強度で除算することで、粒子濃度が算出されます。 今回、粒子径の異なるポリスチレンラテックス(28nm ~ 2900nm)分散液の絶対散乱光強度を求め、理論式より粒子濃度の算出を試みました、 レイリー散乱領域を超えた大きさまで粒子濃度の評価可能であることがわかりました。また、1μm以上になると測定値から乖離する結果となっています。

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多角度測定での動的光散乱測定 

後方・側方・前方の3角度での動的光散乱測定で分離能を向上

通常の動的光散乱測定では後方か側方のいずれか1方向の散乱角度で測定を行い、粒子径を求めますが、多角度測定では後方・側方・前方の3角度で動的光散乱測定を行います。各角度で測定した散乱光強度の自己相関関数に対して最適解となる粒子径分布を解析します。これにより、1角度での粒子径分布解析では困難であった隣接した粒子径分布の分離能が向上し、粒子径分布の分離が可能になります。

  • 多角度粒子径測定.jpg
  • その他理化学機器

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デジタル水質超低濃度全硬度/低濃度鉄測定MF2PTM-7741H

デジタル水質超低濃度全硬度/低濃度鉄測定器/品番 MF2PTM-7741H

MF2PTM-7741Hはポータブルのデジタル吸光光度計で超低濃度の全硬度と低濃度の鉄をこの1台で測定できます。 測定に使用する試薬は、測定頻度に合わせてお選びいただけます。 また本器では、バリデーター(標準液セット)での本体の数値検証・校正も行えます。 これにより高い精度と信頼性を保て安心です。

  • 分析機器・装置

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顕微分光膜厚計 複雑な形状のある任意ポイントの測定

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

DLC(diamond‐like carbon)はアモルファス(非晶質)な炭素系材料です。高硬度・低摩擦係数・耐摩耗性・電気絶縁性・高バリア性・表面改質やDLCの厚み測定は断面を電子顕微鏡にて観察する破壊検査が一般的でしたが、大塚電子の光干渉式膜厚計であれば非破壊かつ高速に測定が可能です。 独自の顕微鏡光学系を採用することで、形状のあるサンプルの実測定が可能になりました。

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【遠赤の話】分光放射率の測定について

分光放射率の測定方法や、装置についてご紹介!

有限会社AMKは、工業用遠赤外線ヒーターと加熱装置・乾燥装置を取り扱って いる会社です。 遠赤外線ヒーターの効果を確認する方法の一つに波長毎の放射率を測定する ことが可能です。分光放射率といい測定方法はJIS R 1801に規定。 測定器はフーリエ変換赤外分光装置で略してFTIR装置といいます。 原理は光の干渉波形を空間や時間の関数として計測し、フーリエ変換すること によりスペクトルを得る装置です。現在ではFTIRでの分光放射率測定が主流。 得られるグラフは横軸が振動数(波長)で縦軸は1(黒体)から0となっていて、 各波長で1に近ければ近いほど黒体並みの放射率ということになります。 ただこれは各波長毎の黒体との比率であることに注意してください。 測定で難しいのは 光源である黒体炉の温度と試料の表面温度を正確に測定 すること。かなりの技術と慣れが必要で測定する人や、測定機関により 違った結果が出ることも多々あります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他ヒータ
  • 加熱装置
  • 乾燥機器

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測色計・分光色彩色差/濁度同時測定器 APHA・YI・ヘーズ測定

色彩と濁度を同時に測定! 一台でハ-ゼン色数(APHA)・ASTM色数・ヘ-ズ・濁度・分光透過率・吸光度など測定が可能。

『TZ-7700』は、一台で分光透過率・色彩値・石油製品色・ヘーズ(濁度)・ 色汚染度(排水着色度)の5種類の測定が行える測定器です。 白色LEDを採用し、400nm~700nmの波長範囲を出力10nm間隔で測定。 今まで複数の測定器使用が必要だった作業が一回の測定で計測が可能です。 ◇試験管やディスポセルでの測定もできます(オプション) 【特長】 ■色彩と濁度を同時測定 ■白色LEDを採用した分光方式 ■標準の光以外に他光源下での色彩測定が可能 ■大型開放型スライド式扉採用 ■見やすい大型カラー液晶表示採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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