更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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成熟miRNAと一次転写産物の発現プロファイルを解析した事例
トランスクリプトーム解析の分野を軸に発展・拡大してきたFANTOMに 大きく貢献した事例をご紹介しています。 FANTOMでは、short RNA-seq解析とCAGE法を用いた多数の初代培養細胞における、 成熟miRNAと一次転写産物の発現プロファイルを解析しました。 さらに、CAGE法によってこれらのプロモーター配列も明らかにしました。 その結果、miRNAのプロモーターは高度に保存されていること、成熟 miRNAと一次転写産物の発現プロファイルに強い相関があること、 また、同一の一次転写産物上から切り出される複数のmiRNA間の発現 プロファイルには強い相関があることを示しました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Ion PGM次世代シーケンサーによる解析を承ります！
瑞輝科学生物株式会社では、次世代シーケンサーによる受託解析サービス を行っています。 シーケンシングから得られた配列データと公共データベースの検索結果を 基に、「クラスター解析・ヒートマッピング」「自己組織化マップ」 「積上げ横棒グラフによる細菌叢のプロファイリング」といったような 解析結果を作成します。 その他、PCRや定量リアルタイムPCRによる各種検査や、試験法の開発 支援なども行っております。 ご相談案件がございましたら、お気軽にお問い合わせください。 【受託内容】 ■細菌叢解析（16Sメタゲノム） ■環境生物叢解析（16S/18Sメタゲノム） ■アンプリコンシーケンス ■細菌／真菌 RNA-seq（遺伝子発現解析） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
特許技術を利用し「特異性」「検出感度」「再現性」に優れたmiRNA測定。バイオマーカー探索や疾患メカニズム解析に最適なサービス
HMTではシンガポールに拠点を置くMiRXES社と提携し、miRNA（microRNA）解析サービスをご提供しています。 MiRXES社のもつ特許技術を利用したID3EALテクノロジーは、特異性、検出感度、再現性に優れたmiRNA測定手法で、お客様の研究開発をサポートいたします。 受託解析サービスのひとつ『PanoramiR miRNA KNOWLEDGE PANEL』は、 様々な疾患に関連する厳選されたmiRNA 376種類のプロファイリングパネルを用いた受託解析サービスです。 標的miRNAは、miRbase 22、HMDD v3.2、The Cancer Genome Atlasといったデータベースや自社研究および影響度の高い学術論文データをもとに厳選しています。 バイオマーカー探索や疾患メカニズム解析の基礎研究などにおすすめです。 ※詳しくは下記リンク先をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
RNA-seqに比べ約7倍の高感度！PCRフリーで転写開始点を正確に同定。※小冊子『遺伝子発現解析方法の違い』を無料進呈中
当社では、mRNAやncRNAなどの発現を転写開始点ごとに 定量解析する技術『CAGE』による受託解析サービスを提供しています。 RNA-seq解析に比べ約7倍の検出感度を有し、 PCRフリーのため定量性に優れ、網羅的な発現量データが得られます。 解析もしっかりフォロー。 納品データは、発現量や発現比較、クラスタリングなどを標準セットにしています。 サンプルRNAの品質確認やデータ解析は、基本サービスとなり、追加費用はありません。 初めての方や、データ解析が心配な方にもお勧めです。 【特長】 ■理化学研究所と当社の共同開発技術 ■転写開始点をゲノムワイドに定量解析 ■遺伝子だけでなく、プロモーターの網羅的な発現解析も実現 ■プロモーター単位での遺伝子発現ネットワーク探索も可能に ■転写因子結合モチーフ探索を標準で実施 ■価格は1サンプルあたり、解析込みで約10万円 ※製品の詳細は、下記よりPDF資料をご覧ください。 ※小冊子『FAQでみる遺伝子発現解析方法の違い』も 下記より無料でダウンロードして頂けます。
PHOTOシリーズは多くの製造設計の現場で使われています。
電磁場解析ソフトウェア PHOTOは、低周波から高周波までの幅広いレンジに対応した、電磁場、渦電流、電磁波解析ソフトウェアです。
マイクロスコープやFE-SEMにて破面解析を行うことで、破壊現象の推定が可能！
機械部品として使用される金属材料は、使用方法や使用環境によって 壊れてしまう事があります。 マイクロスコープやFE-SEM（電界放出型走査電子顕微鏡）にて破面解析を 行うことで、破壊現象の推定を行うことができます。 当資料では、SNCM420（ニッケルクロムモリブデン鋼）が使用されている ピニオンシャフトで発生した折損についての解析事例を紹介いたします。 【掲載内容】 ■概要 ■検査事例 ■評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こっているかを把握できます
電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を紹介しています。 EBSDで2相ステンレスにおいて、α 相とγ 相の分布割合と結晶方位が確認できました この測定技術は、金属や金属化合物における材料の分布で硬さ脆さなどの性能比較、析出具合を検出して色への影響把握に活用できます。 ぜひお試しください。 また、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析を行っており多面的に解析分析を行えます。 技術者が直接対応できますので、お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である（各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2～5 nm）。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能である。さらに、TEM観察と同一視野で測定できることから、(S)TEM-EDX / EELSと合わせた複合的な解析やin-situ TEMとの併用も可能となる。 【目次】 １．はじめに ２．ASTARを用いたACOM-TEM法 ３．ASTARを用いた分析例 ４．まとめ
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR法による結晶化度、および酸加水分解HPLC-蛍光検出法による構成糖分析の例を示す。 【目次】 １．はじめに ２．形態観察の概要 ３．CNFおよびCNF／ポリマーの観察事例 ４．CNFの結晶化度の評価 ５．CNFの構成糖分析（HPLC-蛍光検出法） ６．まとめ
不良解析の実績多数！現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な解析が可能
当社では、「海外製ディスプレイの不良解析」を行っております。 現象の確認から、不良発生メカニズムの推測、原因となった 生産工程の絞り込みなど、詳細な解析が可能です。 点灯観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実施。 不具合箇所を絞り込み、詳細解析が必要な場合は適切な手法を提案させていただきます。 【詳細解析例(一部)】 ■配線の断面観察 ■異物分析 ■液晶成分分析 ■電気特性測定 ※別途費用が発生いたします ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品の故障解析、材料分析による故障個所の観察・分析を行います。
半導体、ケーブル・コネクタ、プリント基板、LCD等の表示デバイス、電源ユニット、バッテリ、ACアダプタ、メモリ等、各種部品の専門家が、故障解析を行います。 ・半導体パッケージ樹脂開封を行い、光学顕微鏡やエミッション顕微鏡での観察、 機械的研磨での走査電子顕微鏡(SEM)観察等から原因推定 ・材料の状態、異物の特定、表面／破断面の解析等、材料分析の観点から、 集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM)による加工・観察、透過型電子顕微鏡(TEM)による観察等にて 原因推定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法と知見で解析致します！
アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD（a-Si TFT／LTPS TFT）,OLED 車載,モニター,モバイルなど。 液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法を用いて良品解析を実施します。 【解析内容（抜粋）】 <信頼性/点灯試験> ■分類 ・信頼性試験 ・点灯検査 ■分析手法 ・オーブン内駆動試験 ・目視確認 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Windows版のユーザーフレンドリーな有限要素解析パッケージ！
『LISA』は、プリ/ポスト、ソルバー、インターフェースなどの機能が備わった ユーザーフレンドリーな有限要素解析(FEA)アプリケーションです。 有限要素解析の初心者であるエンジニアや学生だけでなく、経験豊富な ユーザーにも使用されるように設計。 モデラーやマルチスレッドソルバー、グラフィカルポストプロセッサーなどを 統合した機能があります。 【ライセンスについて】 ■Business/Corporate Single User ■Business/Corporate Multiple Users (max 3) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
特許技術を利用し「特異性」「検出感度」「再現性」に優れたmiRNA測定。700種類のmiRNAに対して絶対定量を行うサービス
HMTではシンガポールに拠点を置くMiRXES社と提携し、miRNA（microRNA）解析サービスをご提供しています。 MiRXES社のもつ特許技術を利用したID3EALテクノロジーは、特異性、検出感度、再現性に優れたmiRNA測定手法で、お客様の研究開発をサポートいたします。 受託解析サービスのひとつ『Premium 700』は、 ID3EALテクノロジーを用いて、700種類のmiRNAに対して絶対定量を行う受託解析サービスです。 臨床試験、バイオマーカー探索などにおすすめです。 ※詳しくは下記リンク先をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
