更新日： 集計期間:2026年03月25日～2026年04月21日
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難電導性試料の無蒸着観察可能！繊維等の表面観察に最適な走査型電子顕微鏡検査
『走査型電子顕微鏡（SEM）』は、細く絞った電子線を試料に照射、走査し、 二次電子や反射電子を検出してその強度をモニター上に映像として表示する ことによって対象物の拡大像などを得る装置ですです。 像質が落ちるため高倍率観察には向きませんが、低真空モードを使い、 難電導性試料の無蒸着観察も可能です。 【観察項目】 ■5～300,000 倍での表面観察 ■附属装置のエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）による元素分析（B～U） ■微小領域の元素同定（定性分析・半定量分析） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンフォーカルレーザー顕微鏡を使用！高温時のサンプルからの放射光等の影響を受けず観察ができます
『VL3000DX-SVF18SP』は、最高1800℃の超高温環境下での 鮮明なミクロ観察ができる超高温観察レーザー顕微鏡システムです。 高倍率、高コントラストでの観察像を得ることが可能。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 【特長】 ■高解像度 In situ観察 ■超高温下の高分解能画像を取得できる ■多様な観察条件を実現 ■最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ■優れた操作性・制御性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
AFM :原子間力顕微鏡法
AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。
コンパクトに設計された高温加熱観察装置です。 お持ちの顕微鏡、マイクロスコープに載せて使用可能です。
IR-TPSは、”高機能とローコスト”の相反する事を追求して完成した顕微鏡用高温ステージです。 標準構成はもとより、高品質オプションで高度なシステム機器が構築できます。 精密な温度制御と空気中・不活性ガス中・真空中の雰囲気下で、材料解析等の研究や品質管理等にご利用いただけます。 【特徴】 ○赤外線集光で試料だけの秒速高温均一加熱（1500℃まで60秒以内） ○クリーン加熱で省エネ ○メンテナンスが簡単 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察
TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。 本事例では市販のハードディスクから磁気ヘッドを取り出し、MTJ：磁気トンネル接合(Magnetic tunneljunction）部の高分解能(HR)-TEM観察を行ったデータを紹介します。 このように金属の極薄膜の多層構造でも明瞭に構造を観察することが可能です。
最高1800℃の環境下を高解像度で in-situ（その場）観察。セラミックス、二次電池等の研究、材料開発に！
米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載。 最高1800℃の超高温環境下の鮮明なミクロ観察を可能にしました。 従来機と比べ、解像度・明るさが約２倍に向上*し、高倍率、高コントラストでの観察像が得られます。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 ＊当社従来型の「VL2000DX-SVF17SP」と比較 ◆ ポイント◆ ・ 高解像度in-situ（その場）観察 超高温下の高分解能画像を取得 ・多様な観測条件を実現 最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ・優れた操作性・制御性 温度と正確にリンクした高速画像取得 オプションの負荷機構モジュール「SVF12FTC」を利用することで、 高温下で応力負荷中（最大5kN）の観察が行えます。 詳細はお問い合わせください。
加熱in-situ TEMを用い、半導体デバイスの熱処理中の材料の構造変化をnmレベルで可視化、プロセス開発に役立てる事例紹介。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 半導体デバイスの開発・製造において、熱処理工程における材料の構造変化を把握することは非常に重要である。加熱in-situ TEMを用いることにより、熱処理中の材料の熱挙動をnmレベルで可視化し、構造変化に関する新たな知見を得て、膜質制御などプロセス開発に役立てることが可能となる。本稿では、加熱in-situ TEMを用いて、(1)結晶構造解析を併用したアモルファスシリコン膜の結晶成長メカニズム解析、(2)元素分析を併用した金属積層膜の熱挙動把握、(3)平面での薄膜ルテニウム膜の結晶成長過程の観察を行った事例を紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. 加熱in-situ TEMの概要と特長 ３. 加熱in-situ TEMの解析事例 ４. まとめ
InGaZnO4粒子の超高分解能STEM観察
Csコレクタ（球面収差補正機能）付きSTEM装置により、超高分解能観察（分解能0.10nm）が可能となりました。原子量に敏感なHAADF※-STEM像は多元系結晶構造を直接理解できる有効なツールです。今回、酸化物半導体中微粒子の評価を行いましたので紹介します。異種材料界面・化合物界面の原子配列、粒界偏析評価などに応用できます。 ※High-Angle Annular Dark-Field： 原子量（Z)に比例したコントラストが得られます。
コストパフォーマンスに優れた超高真空常温SPM
超高真空 (10-8Pa以下)、常温でのSTM・AFM・SNOMなど幅広い応用に対応可能な走査型プローブ顕微鏡 (SPM) システムです。 コンパクトでシンプルな構造と優れた除振機構により高分解能なSPM測定を容易に実現します。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
属製長尺ニードル先端部の分析や自動車用大型部品の分析の応用例をご紹介
フルオートFTIR 顕微鏡「LUMOS II」は、面倒な試料の前処理を必要とせず、 大きなサイズの試料もそのまま直接分析することが可能です。 試料ステージの広さと可動範囲の大きさ、そして作動距離の大きさは、 顕微分析において非常に重要な要素であると言えます。 試料形状に応じて、バイスホルダー等を併用することで、 ニードル先端の様に難しい試料の分析も容易に行うことが可能です。 【掲載内容】 ■はじめに ■装置 ■応用例: 金属製長尺ニードル先端部の分析 ■応用例: 自動車用大型部品の分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ファイバーのリング照明と､同軸照明を使った明暗視野像の切り替えがツマミの回転でできる使いやすい顕微鏡です！
ファイバーのリング照明と､同軸照明を使った明暗視野像の切り替えがツマミの回転でできる使いやすい顕微鏡です。明視野と暗視野の像が交互に切り替えられます。明視野像は金属顕微鏡で見るような全反射照明の像であり、暗視野像は落射照明で見るような像です。性質の違う2種の像がこの顕微鏡で観察できます。1台で明暗視野の2通りの見え方が得られ、活用が拡がります。
トランジスタの超音波顕微鏡観察！同じ焦点でも様々な場所での剥離状況を確認可能
当社で行っている半導体パッケージの超音波顕微鏡観察について ご紹介します。 半導体パッケージは保管状態や実装条件等により、金属部分 (ダイパッド)とパッケージ樹脂との間で剥離が発生することが あります。パッケージ内部の剥離は製品品質に大きな影響を与える 不具合ですが、外観から剥離の発生を確認することはできません。 超音波顕微鏡を用いることでパッケージ内部の構造を鮮明に捉え、 信頼性評価に貢献します。 【特長】 ■チップ側より超音波顕微鏡観察 ・同じサンプルでも、焦点位置を変えることにより見えていなかった ところが見えてくる ■ダイパッド側より超音波顕微鏡観察 ・同じ焦点でも様々な場所での剥離状況を確認することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。
C-SAMは、SAT：Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。
活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能
リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素（Li、O）の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属（Ni、Co、Mn）の原子位置をHAADF-STEM像で可視化した事例を紹介いたします。 測定法：SEM・EBSD・TEM 製品分野：二次電池 分析目的：形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
顕微鏡の性能や使用用途、環境、などのご相談に応じます
『顕微鏡各種』は、コンパクトで持ち運べるタイプのものから フルセットまで用意しております。 『顕微鏡周辺機器』は、搭載可能の光学レンズや周辺基材等、 様々な製品をご提供致します。 【顕微鏡各種・仕様】 ■実体顕微鏡 ■金属顕微鏡 ■生物顕微鏡 ■1眼・2眼・3眼の他照明有り無し ■ご使用用途や環境などに応じて必要機種をご提案 ■部材・アクセサリーもご提供可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
数十nmオーダーの狙い精度で数百μm角の断面観察が可能！
弊団では、Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察を承っております。 集積回路、電極やプリント基板、半導体パッケージの電極を 電気的に接続する金属製ボンディングは直径数十μm～数百μm程です。 Xe-PFIB(Xe-Plasma Focused Ion Beam)では数十nmオーダーで 加工位置を狙い、数百μm角の断面を作製できるため、 ボンディング中央にて全景を詳細に把握することができます。 【測定法・加工法】 ■[SEM]走査電子顕微鏡法 ■X線CT法 ■[FIB]集束イオンビーム加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
教育・農林・医療・衛生防疫等の各領域で使用されています
当社では、生物顕微鏡、工業顕微鏡、デジタル顕微鏡、蛍光顕微鏡等 多くのシリーズの顕微鏡を取り扱っております。 各顕微鏡製品は月産15000台以上の生産体制で、教育、農林、医療、 衛生防疫等の各領域で使われており、全ての原材料と製品はCE、CMD、 CQC、RoHSの認証を取得しております。 【ラインアップ】 ■医療顕微鏡 ■生物顕微鏡 ■デジタル顕微鏡 ■児童顕微鏡 ■金属顕微鏡 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「操作性」「機能性」に優れたシャープな立体像が観察できるフレキシブル双眼実体顕微鏡です！
◆種類は、持ち運びに便利なS型とマグネットによる固定のM型があります。 ◆オプション品としても、 １、リング蛍光灯照明 ２、アジャスター（取り付け工具付き） ３、防塵ガラス を用意しております。
1983年に独自の長距離顕微鏡の製造・開発を開始。同年に長距離顕微鏡はその年の最も価値のある新機軸製品として表彰されました。
クエスター長距離顕微鏡は、「真空チャンバー中で行われる実験で微細な動的過程のリアルタイム観測・計測」、「有害な環境下にある試料の顕微鏡観察」、「オンラインでの精密検査」といった、長距離顕微鏡での計測・検査・監視・芯合わせに強力な画像化の手段を、という研究者や生産現場からの強い要望により開発されました。 長距離顕微鏡光学系により、雑然としがちな作業エリアから観察系を外に出すことが出来ます。なおかつクエスター長距離顕微鏡により、高いレベルの要求に基づく高倍率・高解像度の画像を得ることが可能になります。
WIFI接続タイプワイヤレスデジタル顕微鏡の偏光モデルです。
光を調整する機能搭載で、反射の大きい金属などでも光を押さえた鮮明な画像確認が可能です。
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工（Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能
SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 〇特長 ・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ ・安全・簡単！ 試料交換ナビ ・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像 ・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析 ・充実の機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕微鏡（TEM）」。オプションでSEM/STEM追加可能。
【LVEM5の主な特徴】 ◆1台でTEM（電子回析含む）、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。（各イメージモード搭載時） ◆抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。 ◆低電圧（5KV）の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に有効。 ◆簡単操作で誰にでも扱える為、専任オペレータは不要。 ◆独自設計の永久磁石レンズは冷却が不要 ◆イオンゲッターポンプの採用によりクリーンで振動が無く、高真空を実現。 ◆簡単に切替が出来るイメージングモード 複数のイメージングモードを切替えて実行出来る為、表面画像と透過画像の両方をキャプチャする事が可能です。 また、カラムを再調整したり試料を調整をすることなく、ワンクリックでモードを切替え使用が出来ます。
試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分析も可能です
一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察も可能。 試料中の測定したい2点間の距離計測もできます。 【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
3Dプリンターの製品確認 材料学も3Dの時代へ！ 組織観察過程を全自動化
さまざまな材料にも適用できる3D顕微鏡です。 コンピュータ制御により、組織観察、研磨機、洗浄、エッチングを 繰り返し全自動で行え、高効率で 3D組織像 が得ることができます。 従来、手動で繰り返し行っていた機械研磨と光学顕微鏡観察を全自動化することで、数ヶ月要していた作業を1日で終わらせることができます。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
