更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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コンフォーカルレーザー顕微鏡を使用！高温時のサンプルからの放射光等の影響を受けず観察ができます
『VL3000DX-SVF18SP』は、最高1800℃の超高温環境下での 鮮明なミクロ観察ができる超高温観察レーザー顕微鏡システムです。 高倍率、高コントラストでの観察像を得ることが可能。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 【特長】 ■高解像度 In situ観察 ■超高温下の高分解能画像を取得できる ■多様な観察条件を実現 ■最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ■優れた操作性・制御性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
広視野角の蝶番式三眼鏡筒を装備！カメラユニットも装着できます
『OSK 97XJ MX-6RT』は、広範囲な研究分野に対応可能な 正立型金属顕微鏡です。 操作者の負担を最低限に抑える様に設計されており、モジュール構造により 微分干渉、斜光、偏光などの観察オプションを自由に選択可能。 また、ステージの移動幅を広くとれるガラス製大型プラットホーム設計を 採用しております。ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■広視野角の蝶番式三眼鏡筒を装備、カメラユニットも装着可能 ■ステージの移動幅を広くとれるガラス製大型プラットホーム設計採用 ■微分干渉レンズ用スロット付暗視野内蔵の高精度対物レンズ5穴レボルバー ■安全かつ安定した正立型フレーム構造設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AFM :原子間力顕微鏡法
AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。
コンパクトに設計された高温加熱観察装置です。 お持ちの顕微鏡、マイクロスコープに載せて使用可能です。
IR-TPSは、”高機能とローコスト”の相反する事を追求して完成した顕微鏡用高温ステージです。 標準構成はもとより、高品質オプションで高度なシステム機器が構築できます。 精密な温度制御と空気中・不活性ガス中・真空中の雰囲気下で、材料解析等の研究や品質管理等にご利用いただけます。 【特徴】 ○赤外線集光で試料だけの秒速高温均一加熱（1500℃まで60秒以内） ○クリーン加熱で省エネ ○メンテナンスが簡単 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
赤外光で非破壊検査
IR 顕微鏡システムSK19001-300 は、シリコンウェハーを透過する近赤外光を用いることで、PC 画面上でウェハー内部の欠陥や接合面の状態の目視確認を行うことができる非破壊の検査システムです。
最高1800℃の環境下を高解像度で in-situ（その場）観察。セラミックス、二次電池等の研究、材料開発に！
米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載。 最高1800℃の超高温環境下の鮮明なミクロ観察を可能にしました。 従来機と比べ、解像度・明るさが約２倍に向上*し、高倍率、高コントラストでの観察像が得られます。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 ＊当社従来型の「VL2000DX-SVF17SP」と比較 ◆ ポイント◆ ・ 高解像度in-situ（その場）観察 超高温下の高分解能画像を取得 ・多様な観測条件を実現 最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ・優れた操作性・制御性 温度と正確にリンクした高速画像取得 オプションの負荷機構モジュール「SVF12FTC」を利用することで、 高温下で応力負荷中（最大5kN）の観察が行えます。 詳細はお問い合わせください。
Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察
TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。 本事例では市販のハードディスクから磁気ヘッドを取り出し、MTJ：磁気トンネル接合(Magnetic tunneljunction）部の高分解能(HR)-TEM観察を行ったデータを紹介します。 このように金属の極薄膜の多層構造でも明瞭に構造を観察することが可能です。
InGaZnO4粒子の超高分解能STEM観察
Csコレクタ（球面収差補正機能）付きSTEM装置により、超高分解能観察（分解能0.10nm）が可能となりました。原子量に敏感なHAADF※-STEM像は多元系結晶構造を直接理解できる有効なツールです。今回、酸化物半導体中微粒子の評価を行いましたので紹介します。異種材料界面・化合物界面の原子配列、粒界偏析評価などに応用できます。 ※High-Angle Annular Dark-Field： 原子量（Z)に比例したコントラストが得られます。
ご要望に応じた分析用・観察用の断面サンプルを作製致します。
はんだ接合部断面・溶接部断面の観察や、異物断面の分析、ASSY品の内部の確認などに必要な試料の前処理加工、「対象物の切断→樹脂包埋→研磨」までの試料調整を実施致します。 試料調整だけのご依頼はもちろん、調整後の観察や分析まで一括で承ります。 ・ポリエステル樹脂 大きい製品を埋めるときに使用 樹脂中に塩素を含まない ・アクリル樹脂 透明度が高い 傷が付きにくい ・エポキシ樹脂 硬化収縮率が小さく、ヒビが入りにくい（カタログ値0.5％） 耐熱／耐水／耐薬品／耐候性に優れている 非着体に対し、接着力が優れている 樹脂中に微量に塩素が含まれている ・ポリッシャー 断面サンプル作製時間が短い。（鏡面研磨までの工程が少ない） 主に樹脂材／鋼材などの研磨に使用。 ・精密ポリッシャー 研磨圧力、研磨時間を設定することが可能。 超硬・セラミックなどの硬質材を研磨してもダレを抑えることが可能。
コストパフォーマンスに優れた超高真空常温SPM
超高真空 (10-8Pa以下)、常温でのSTM・AFM・SNOMなど幅広い応用に対応可能な走査型プローブ顕微鏡 (SPM) システムです。 コンパクトでシンプルな構造と優れた除振機構により高分解能なSPM測定を容易に実現します。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
顕微鏡の性能や使用用途、環境、などのご相談に応じます
『顕微鏡各種』は、コンパクトで持ち運べるタイプのものから フルセットまで用意しております。 『顕微鏡周辺機器』は、搭載可能の光学レンズや周辺基材等、 様々な製品をご提供致します。 【顕微鏡各種・仕様】 ■実体顕微鏡 ■金属顕微鏡 ■生物顕微鏡 ■1眼・2眼・3眼の他照明有り無し ■ご使用用途や環境などに応じて必要機種をご提案 ■部材・アクセサリーもご提供可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ファイバーのリング照明と､同軸照明を使った明暗視野像の切り替えがツマミの回転でできる使いやすい顕微鏡です！
ファイバーのリング照明と､同軸照明を使った明暗視野像の切り替えがツマミの回転でできる使いやすい顕微鏡です。明視野と暗視野の像が交互に切り替えられます。明視野像は金属顕微鏡で見るような全反射照明の像であり、暗視野像は落射照明で見るような像です。性質の違う2種の像がこの顕微鏡で観察できます。1台で明暗視野の2通りの見え方が得られ、活用が拡がります。
C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。
C-SAMは、SAT：Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。
活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能
リチウムイオン二次電池は充放電によるイオンの脱離・挿入などで電極活物質に成分や結晶構造の変 化が生じます。正極活物質として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）の構造評価として、EBSDにより一次粒子の粒径や配向性を評価しました。更に、方位を確認した一次粒子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素（Li、O）の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属（Ni、Co、Mn）の原子位置をHAADF-STEM像で可視化した事例を紹介いたします。 測定法：SEM・EBSD・TEM 製品分野：二次電池 分析目的：形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
