更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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教育・農林・医療・衛生防疫等の各領域で使用されています
当社では、生物顕微鏡、工業顕微鏡、デジタル顕微鏡、蛍光顕微鏡等 多くのシリーズの顕微鏡を取り扱っております。 各顕微鏡製品は月産15000台以上の生産体制で、教育、農林、医療、 衛生防疫等の各領域で使われており、全ての原材料と製品はCE、CMD、 CQC、RoHSの認証を取得しております。 【ラインアップ】 ■医療顕微鏡 ■生物顕微鏡 ■デジタル顕微鏡 ■児童顕微鏡 ■金属顕微鏡 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
1983年に独自の長距離顕微鏡の製造・開発を開始。同年に長距離顕微鏡はその年の最も価値のある新機軸製品として表彰されました。
クエスター長距離顕微鏡は、「真空チャンバー中で行われる実験で微細な動的過程のリアルタイム観測・計測」、「有害な環境下にある試料の顕微鏡観察」、「オンラインでの精密検査」といった、長距離顕微鏡での計測・検査・監視・芯合わせに強力な画像化の手段を、という研究者や生産現場からの強い要望により開発されました。 長距離顕微鏡光学系により、雑然としがちな作業エリアから観察系を外に出すことが出来ます。なおかつクエスター長距離顕微鏡により、高いレベルの要求に基づく高倍率・高解像度の画像を得ることが可能になります。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高機能材料などの解析シミュレーション はじめ、さまざまなタイプの材料に対応した材料開発シミュレーションソフトウェア
『Materials Studio』 量子力学(密度汎関数法)、古典力学(分子動力学計算)、 メソスケール(散逸粒子動力学計算など)、統計、分析/結晶化ツールを備えた 次世代材料開発向け分子モデリング/シミュレーションツール群。 【特長】 ■材料開発を効率化するシュミレーションソフト 業界・分野を問わず、研究、開発、設計、製造に従事される方にご利用いただけます ■さまざまなタイプの材料に対応 ■一つのGUI画面上で、結晶構造の作成、計算条件設定、計算結果表示の 全てを行うことが可能 【事例】 トライボケミカル(潤滑)反応 CFRP(炭素系素材)などの解析 結晶成長や薄膜形成、燃料電池、潤滑剤などの研究開発 触媒、ポリマーや混合物、金属や合金、電池や燃料電池など ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工（Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能
SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 〇特長 ・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ ・安全・簡単！ 試料交換ナビ ・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像 ・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析 ・充実の機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分析も可能です
一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察も可能。 試料中の測定したい2点間の距離計測もできます。 【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
3Dプリンターの製品確認 材料学も3Dの時代へ！ 組織観察過程を全自動化
さまざまな材料にも適用できる3D顕微鏡です。 コンピュータ制御により、組織観察、研磨機、洗浄、エッチングを 繰り返し全自動で行え、高効率で 3D組織像 が得ることができます。 従来、手動で繰り返し行っていた機械研磨と光学顕微鏡観察を全自動化することで、数ヶ月要していた作業を1日で終わらせることができます。
画鋲形状検査やゴム製品のバリ検査などでの使用事例をご紹介します。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡、その顕微鏡の使用事例をご紹介いたします。 工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。 小型で使いやすく、目視検査からモニター観察･画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 【使用事例】 ○画鋲（ピン）形状検査 ○ゴム製品のバリ検査 ○ゲート除去残り検査 ○クラック検査設備 ○ピン先端角度検査 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
試料を冷却してSEMで観察できます。
PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に敏感な半導体材料などの測定に活用されています。
イオンミリング法によるCP加工でダレのない断面試料を作製します。
イオンミリング法による断面加工で、高倍率の観察に必要な精密試料調整を実施致します。 従来の研磨紙・研磨剤を用いた機械研磨では、研磨時の応力によりダレが発生したり、ボイドが潰れたり、割れが発生することがありました。 そういった現象が起きやすい試料でも、非常に弱いイオンビームで研磨加工を行うことにより、微小領域の高倍率観察・分析や結晶方位解析(EBSD)が実施可能な断面試料を作製するとができます。
豊富なサポート機能により、適切なセッティングを実現します。
豊富なサポート機能により、初心者でも顕微鏡の適切なセッティングが簡単に行えます。 また、新開発のガイダンス機能により、前回と同じ観察条件に簡単に戻すこともできます。BX53Mなら、顕微鏡を使いこなすために必要だった専門的なトレーニングを受けなくても顕微鏡の機能を充分に活用でき、作業者ごとのバラつきも抑えることができます。 ◆ダイヤルを回すだけ：シンプルな観察法の切替 顕微鏡使用時に必要となる複雑な操作を極限まで排除します。投光管前面のダイヤルで観察方法を変更でき、明視野、暗視野、微分干渉など、使用頻度の高い観察方法を素早く切り替えられるため、様々な解析を手軽に行えます。さらに簡易偏光観察の場合でもアナライザーを回転させることで観察の幅が広がります。 ◆ガイダンスで適切な画像を取得：指標付絞り これまで適切な設定が分かりにくかった絞り位置を、表示に合わせるだけで適切に指定できます。開口絞り及び視野絞りを適切に設定すると、光学性能をフルに活用した高コントラストの画像が得られます。
魅力あふれるワイドスクリーンやマイクロビデオなど、驚きの新機能が満載。 最も手軽に持ち運べるマイクロスコープ
従来製品の「場所を選ばずどこでも観察できる、小さく軽いコンパクトなボディ」といった、ご好評いただいたコンセプト はそのままに、基本性能をバージョンアップしました。 スタイリッシュな見た目だけでなく、サイドのゴムグリップにより操作性の向上を図っています。 簡易測定に便利な、「方眼」「十字」のスケール表示・切り替え機能も追加しました。 また、オート・各種状態に対応したモードを設定可能なホワイトバランス、±2.0間隔で明るさの補正が可能なEVシフ ト、ハレーションを軽減するLEDカバーで、より綺麗により高品質に対象物を撮影することが可能になりました。 さらに、動画撮影にも対応しています。 もちろん、撮ったデータはSDカードへ保存して、パソコンやプリンターなどの外部機器とリンク可能です。 確認用途だけでなく記録用途にもご使用していただける、プロユースの高性能デジタル顕微鏡へと進化しました。
