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リアルタイム・オシロスコープを用いる試験すべてに準拠
QPHY-USBはUSB 2.0のデバイス、ホストとハブを対象として、USB-IF USB2.0電気テスト仕様で規定された完全な信号捕捉と解析システムを提供します。テスト・ソフトウェアはハイスピード、フルスピード、ロースピードその全てを含むUSB 2.0に対する電気検査の完全なセットを搭載し、レクロイのQualiPHY自動化試験、レポート作成ソフトウェアで実行されます。QualiPHYでは、初めて試験を行う場合でも正しい接続ができるように、プローブとケーブルの接続が簡単かつ確実に視覚的に確認できる結線図が表示されます。テスト条件を変更しなければならなくなったり、試験結果を解釈する方法としてダイアグラムが表示されます。各々の測定はその仕様の中で定められた名称で示され、各々のパラメータのための許容範囲と合否判定の結果が示されます。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
【アプリケーション事例】RFID リード・ライト試験に電波暗箱とシグナルアナライザ、プログラムアッテネータでシステム計測
【製品紹介】 ■シグナルアナライザ MSA538 MSA500シリーズの中でもっともポピュラーなモデル ・測定周波数：20kHz～3.3GHz ■高速プログラマブルアッテネータ MAT800シリーズ 最大減衰量80dB。超高速で減衰量を制御する事が出来る多機能な本格的プログラマブル機能。 ■ポータブルアンテナ 300MHz～6.2GHzの帯域を9種類のアンテナでカバー。 ■電波暗箱/シールドボックス Taurusシリーズ MY1530 大きな試験物に対応した大型サイズ。 オプションでターンテーブルを装着可能。 ●現在のオフィスや工場内の環境は多種多様な電波が飛び交っています。（パソコン、サーバ、無線LAN等） ●屋外からは公衆無線や他のオフィスからの電波が飛び込んできます。（携帯電話、無線LAN、PHS） ●電波暗箱内で測定すると外来ノイズを遮断し、内部反射を吸収して正しい測定が出来ます。 ●（750MHz～12.5GHｚ）プログラムアッテネータを使い限界受信感度のシミュレーションが可能です。 【対象無線】 ･･･ 微弱無線／RFIDの900MHzUHF帯域
最大500GHz ハードウェアは新しい設計コンセプトと技術ソリューションを採用しており機器の主要なパフォーマンス指標を大幅に強化
3644A / 45A / 43Q / 49 / 49A / 49Bミリ波VNAエクステンダーモジュールは、測定速度、ダイナミックレンジ、測定安定性において国際レベルに達しました。ハードウェアについては、新しい設計コンセプトと技術ソリューションを採用しており、機器の主要なパフォーマンス指標を大幅に強化しています。 3644A / 45A / 43Q / 49 / 49A / 49Bミリ波VNAエクステンダー、3640Aミリ波周波数拡張コントローラー、ベクトルネットワークアナライザーが一体となってミリ波ベクトルネットワーク分析システムを構成し、5mm、3mm、2mm、1mmの柔軟な構成を実現します。 周波数範囲以上では、最高は500GHzに達します。 簡潔なシステム構成、ユーザーフレンドリーなインターフェース、高いテスト精度などの利点により、テスト対象のミリ波ネットワークの完全なSパラメータ測定を実現できます。 このシステムは、ミリメートル波動部品、MMIC、アンテナ、RCS、および材料の分野での研究開発、製造、およびテストに広く使用されています。
多くの分野で高性能を実現
今日、ミリ波およびテラヘルツ技術は、レーダー、電子干渉、電子偵察、精密誘導、通信、星間衛星通信、およびその他の軍事電子機器の分野で広く使用されています。 民間分野では、ミリ波およびテラヘルツ技術が自動車の衝突防止レーダー、リモートセンシング、天文観測、6G通信システムなどの技術分野に適用されています。 ミリ波とテラヘルツ帯のテストと測定の課題を解決することに基づくミリ波とテラヘルツ技術の開発と利用。 Ceyearによって開発および製造されたミリ波およびテラヘルツテストシステムは、ベクトルネットワーク分析、信号生成、スペクトル分析、電力測定、アンテナテスト、レーダー断面積（RCS）テスト、材料電磁パラメータテストなどの多くの分野で高性能を実現します。
品質、測定精度に妥協せず低価格！すぐに測定を始められるパッケージ製品
『IMPACT(TM)』は、すぐに測定を始められるアクセサリを含んだ 低価格パッケージ製品です。 パッケージ製品でありながら、アプリケーションや個々の測定に合わせた 自由度を持ち合わせております。 大学、政府機関、研究機関などのDC/CVおよびRF測定ニーズに見合った 製品となっております。 【特長】 ■すぐに測定を始められる ■アクセサリを含んだパッケージ製品 ■アプリケーションや個々の測定に合わせた自由度がある ■周波数が高くなる場合は40GHz、50GHz、67GHzオプションを ご選択いただくことにより、より高い周波数での測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えないテストソリューション！
『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。 【特長】 ■測定基板などにダメージを与えない ■優れた価格優位性 ■メンテナンスが用意 ■生産性向上が可能 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
厳しいテスト条件の要求に対応！当社のパワーデリバリ／データループバック・ボリュームテスターをご紹介
『GRL-V-UP』は、製造ライン向け高速多ポート試験を実現する オールインワンUSBテストソリューションです。 品質管理エンジニアが求めるUSB Type-C／PDホスト、ハブモジュール、 ドック、モニター、充電器などの厳しいテスト条件の要求に対応。 スケーラブルなモジュール形式を採用し、最大10個のテストカードを 単一の3Uラックユニットシャーシに収容できます。 【特長】 ■USB 、USB PD 2.0およびPD 3.0 PPSネゴシエーションをサポート ■USB2.0／USB3.2 Gen1(5Gbps)データループバックテスト ■10枚の100WVBUSテストカードを使用して、最大1000Wの連続負荷をサポート可能 ■シングル 100W Type-Cカードとデュアル60W Type-Cカードを選択できる ■必要に応じてテストカード枚数を変更可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
スーパースピードUSB製品のコンプライアンス試験やデバッグに最適
スーパースピードUSB(USB3.0)のコンプライアンス試験では、5Gbpsの高速データ･レイトに対応するため、広帯域で40GS/s以上の高速サンプリングを有するデジタル･オシロスコープが必要になります。SDA813Zi-Aは、5Gbpsのシリアル･データの第5次高調波まで捉えることが出来る13GHzの広い帯域と4チャンネル同時40GS/sの高速サンプリングを有し、高度なジッタ解析やCTLEやリファレンス・チャンネルのエミュレーションなどの複雑なデータ処理を高速で行えるので、特にUSB3.0測定に最適な計測器です。また、QPHY-USB3-Tx-Rxは、USB-IF のElectrical Test Specification Rev 0.9に準拠したスーパースピードUSBのコンプライアンス試験を自動で実行する試験パッケージです。オシロスコープのソフトウェアから直接メニューを呼び出して簡単に実行でき、示されたグラフィカルな手順に従えば、確実に対応する試験が行え、終了後、試験結果のレポートを作成することができます。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
BMW・ルノーなど大手自動車メーカーが採用！1000モジュールを超える豊富な製品ラインナップで様々なECUテスト環境を構築します
オートモーティブのシステムが複雑化し、テストも困難になっていく中、 当社が取り扱うピカリング社のオートモーティブ向けファンクションテスト用 PXI、PCI、LXI製品は、多くの有名オートモーティブ企業に採用されています。 ABSブレーキモジュールやダッシュボードのテスト、トランスミッション制御、 ボディー制御等、豊富な実績をもとに、 自動車産業からのニーズに応えた幅広い製品ラインアップを取り揃えています。 【アプリケーション事例】 ■ECUテスト ■環境テスト ■スイッチシミュレーション ■電気自動車 バッテリー マネジメント システム テスト ■オートモーティブ ロードマネジメント ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Mini-CircuitsのRFスイッチが使用された例をご紹介した資料です！
ワイヤレスアプリケーション向け接続デバイスの急増により、迅速で革新的、 そしてコストパフォーマンスに優れたテストソリューションの需要が 高まっています。 コストの削減とテストスループットの向上が、設計検証段階および 量産ラインでのテストの双方から求められています。 この記事では量産ラインでのテスト効率の改善のために、Mini-Circuitsの RFスイッチが使用された例を紹介します。 【掲載内容】 ■序論 ■スイッチマトリクスと自動シグナルルーティング ■例1：携帯電話ネットワークテスト用の高次スイッチングシステム ■事例2：高速スループット用ソリッドステートスイッチの組み込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験業務の効率化とコスト削減をサポート！カスタムシステムやラボアクセサリなど豊富にご紹介
当カタログは、Mini-Circuits社の『テストソリューション』についてご紹介します。 「製品ラインの概要」をはじめ、「カスタムシステム」、 「インテグレートアンプ」や「ラボアクセサリ」など詳しく掲載。 Mini-Circuits社では、これまでに数多くのお客様の試験業務の効率化とコスト削減をサポートしてまいりました。 このガイドの情報が、同じような試験業務を行うお客様に役立つアイデアとして提供できることを願っています。 【掲載内容（抜粋）】 ■製品ラインの概要 ■カスタムシステム ■インテグレートアンプ ■ラボアクセサリ ■測定器 ■パネルマウント構造 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フレキシブルに対応！「不具合防止」と「テスト効率化」を実現するテストソリューション
システム開発工程で避けては通れないソフトウェアテスト。全体の工数の 三分の一を占めるともいわれ、開発者の大きな負担になっています。 当社は、テストを専門にこれまで1万件以上のご支援を行っており、 お客様の課題に合わせて、好適なテスト体制をご提供。 お客様のプロダクトや開発体制に合ったテストソリューションを提案します。 サービス品質やテストに関するお困り事は、お気軽にご相談ください。 【支援内容（一部）】 ■第三者検証 ・専門会社のテスト設計/テスト実施によって、バグを早期検出 ・テストを分業することによる開発効率化・コストダウンを実現 ■マルチデバイステスト ・スマートフォンを中心とした6 000台を超えるテスト用実機を保有 ・網羅性の高いマルチデバイステストで、端末依存不具合の抑止に貢献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非磁性の他、大電流負荷、高温負荷、高周波特性テスト様々な環境下でのコンタクト試験にも対応！
当社では、より高度なご要望にお応えするため、独自に選定した材料への 部品加工を行い、低磁化特性のプローブの開発に成功しました。 また、蓄積されたノウハウにより、ハウジング設計・製作も含めた 包括的ご提案が可能です。 ご用命の際は当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■スプリング以外のプローブ構成部品は、社内で加工・製造 ■コンタクト対象に合わせ、特注にて様々なプローブ先端形状で 製作することが可能 ■標準ラインアップにないものについても別途ご相談可能 ■非磁性の他、大電流負荷、高温負荷、高周波特性テスト様々な 環境下でのコンタクト試験にも対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定したい光集積回路をカスタマイズ！当社のテストソリューションをご紹介
当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供いたします。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を 都度カスタマイズしてご利用いただけます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、 コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定したい光集積回路をカスタマイズ！スペクトル分析や、機能テストにも活用できる
当社では「PIC(光集積回路)テストソリューション」をご提供しております。 パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路(PIC：Photonic Integrated Circuit)毎に適切な構成を都度カスタマイズして ご利用いただけます。 【特長】 ■パッシブ部品、アクティブ部品、量子フォトニクスチップ(ダイ)、 AWG、トランシーバー(伝送、BER)など幅広い光集積回路を、ウェハー レベル、ダイレベル、コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
